影响X射线荧光仪检测晶体的因素
（1）温度变化：温度变化能改变分子间距； （2）湿度变化：有些晶体如果湿度太高表面就易模糊了； （3）酸碱影响：有些晶体会由于对强酸或强碱的吸附作用而大大降低其衍射强度。......阅读全文
影响X－射线荧光仪检测晶体的因素
（1）温度变化：温度变化能改变分子间距； （2）湿度变化：有些晶体如果湿度太高表面就易模糊了； （3）酸碱影响：有些晶体会由于对强酸或强碱的吸附作用而大大降低其衍射强度。
X－射线荧光仪检测晶体的介绍
分光晶体是具有把 X 射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的晶体。 晶体应该具备的条件：衍射强度大；应该适用于所测量的分析线；分辨率高；峰背比高；不产生附加发射和异常反射；热膨胀系数小、温度效应低；经受 X 射线长期照射，稳定性好；机械强度良好；容易加工等等。
常用的X－射线荧光仪检测晶体的介绍
常用晶体有 LiF、PET（用于检测 Si、Al）、Ge（用于检测P）、NaCl 、TAP （用于检测 Mg 、Na 、F），其中 TAP、PET、NaCl 等都是耐潮能力差的晶体，容易损坏，特别是 NaCl 容易潮解。TAP、PET的使用寿命一般为 5~6 年，因为太硬，容易出现裂纹，一般不
关于X－射线荧光仪检测晶体的清洗介绍
晶体的清洗：LiF、Ge 使用二甲苯清洗；PET、TAP 使用丙酮清洗，但是二者表面镀有 C，以防止晶体潮解，使用的时候不要擦掉，洗后如果失去 C，晶体就容易损坏。另外，清洗时应该将晶体在容器洗液中来回晃动，一般不要擦拭。 晶体有很大的温度系数，所以，反射角很大的元素将很容易受温度影响。A
日立X射线荧光光谱仪影响分析速度的因素
X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF. X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能
日立X射线荧光光谱仪影响分析速度的因素
X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF. X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能
X射线荧光光谱仪分光晶体简介
分光晶体是光谱仪的重要元件，应用了X射线的衍射特性，将样品发射的各元素的特征X射线荧光，按波长分开以便测量每条谱线。不同的晶体和同一晶体的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。 由上式可以看出，晶体角色散率和所用晶体的晶面间距2d、衍射角θ及衍射级有关，即2d间距越小，角色散率越大；衍射角越大，角
X射线单晶体衍射仪
X射线单晶体衍射仪(X-ray single crystal diffractometer)。本仪器分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出
x射线单晶体衍射仪
X射线单晶体衍射仪X射线单晶体衍射仪(X-ray single crystal diffractometer,简写为XRD)。本仪器分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解
自动X射线晶体定向仪
X射线自动定向仪是根据市场对晶体角度测量越来越高的精度要求而推出的手动定向仪的升级产品，它是利用X射线衍射原理，设计制造的光，机，电三为一体精密仪器，能快速地测定天然和人造晶体（压电晶体、光学晶体、激光晶体、半导体晶体）的晶面，可与各种切割、研磨等加工设备配套使用。是精密加工制造晶体器件不可缺少
X射线晶体光谱仪的简介
中文名称X射线晶体光谱仪英文名称X-ray crystal spectrometer定 义利用晶体作分光器的X射线光谱仪。晶体具有适当的点阵间隔，对一定波长的X射线产生衍射作用，可起到类似于光学式分析仪器中衍射光栅的作用。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱
X射线荧光光谱仪－检测标准
JJG810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》检定周期为1年。
X射线晶体谱仪研发获进展
近期，中国科学院近代物理研究所原子物理中心科研人员自主研发了用于内壳多空穴离子X射线精细结构测量的宽带高分辨晶体谱仪，相关成果于4月3日发表在光谱学期刊Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy上。解析内壳多空穴离子的X射线精细结构不仅是研究量子电
X射线晶体定向仪工作原理
利用X射线衍射原理，精密快速地测定天然和人造单晶(压电晶体，光学晶体，激光晶体，半导体晶体)的切割角度，与切割机配套可用于上述晶体的定向切割,是精密加工制造晶体器件不可缺少的仪器·该仪器广泛应用于晶体材料的研究，加工，制造行业。 工作原理 X射线晶体定向仪利用X射线衍射原理，精密快速地测定天
X射线单晶体衍射仪的应用
晶体结构的测定对学科的发展、物体性能的解释、新产品的生产和研究等方面都有很大的作用，其应用面很宽，不能尽述，略谈几点如下：（一）．晶体结构的成功测定，在晶体学学科的发展上起了决定的作用。因为他将晶体具有周期性结构这一推测得到了证实，使晶体的许多特性得到了解释：如晶体能自发长成多面体外形（自范性），如
X射线单晶体衍射仪的介绍
X射线单晶体衍射仪(X-ray single crystal diffractometer)。本仪器分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出
x射线单晶体衍射仪的应用
晶体结构的测定对学科的发展、物体性能的解释、新产品的生产和研究等方面都有很大的作用,其应用面很宽,不能尽述,略谈几点如下: (一)．晶体结构的成功测定,在 晶体学学科的发展上起了决定的作用。因为他将晶体具有周期性结构这一推测得到了证实,使晶体的许多特性得到了解释:如晶体能自发长成 多面体外形(
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光仪的相关介绍
X射线荧光仪一般是采用，激发样品中的目标元素，使之产生特征X射线，通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。 仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器（正比计数管及闪烁计数器）能量分辨率不高，不能区
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。