影响X射线荧光仪检测晶体的因素
（1）温度变化：温度变化能改变分子间距； （2）湿度变化：有些晶体如果湿度太高表面就易模糊了； （3）酸碱影响：有些晶体会由于对强酸或强碱的吸附作用而大大降低其衍射强度。......阅读全文
影响X 射线荧光仪检测晶体的因素
（1）温度变化：温度变化能改变分子间距； （2）湿度变化：有些晶体如果湿度太高表面就易模糊了； （3）酸碱影响：有些晶体会由于对强酸或强碱的吸附作用而大大降低其衍射强度。
X 射线荧光仪检测晶体的介绍
分光晶体是具有把 X 射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的晶体。 晶体应该具备的条件：衍射强度大；应该适用于所测量的分析线；分辨率高；峰背比高；不产生附加发射和异常反射；热膨胀系数小、温度效应低；经受 X 射线长期照射，稳定性好；机械强度良好；容易加工等等。
常用的X 射线荧光仪检测晶体的介绍
常用晶体有 LiF、PET（用于检测 Si、Al）、Ge（用于检测P）、NaCl 、TAP （用于检测 Mg 、Na 、F），其中 TAP、PET、NaCl 等都是耐潮能力差的晶体，容易损坏，特别是 NaCl 容易潮解。TAP、PET的使用寿命一般为 5~6 年，因为太硬，容易出现裂纹，一般不
关于X 射线荧光仪检测晶体的清洗介绍
晶体的清洗：LiF、Ge 使用二甲苯清洗；PET、TAP 使用丙酮清洗，但是二者表面镀有 C，以防止晶体潮解，使用的时候不要擦掉，洗后如果失去 C，晶体就容易损坏。另外，清洗时应该将晶体在容器洗液中来回晃动，一般不要擦拭。 晶体有很大的温度系数，所以，反射角很大的元素将很容易受温度影响。A
日立X射线荧光光谱仪影响分析速度的因素
X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF. X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能
日立X射线荧光光谱仪影响分析速度的因素
X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF. X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能
X射线荧光光谱仪分光晶体简介
分光晶体是光谱仪的重要元件，应用了X射线的衍射特性，将样品发射的各元素的特征X射线荧光，按波长分开以便测量每条谱线。不同的晶体和同一晶体的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。 由上式可以看出，晶体角色散率和所用晶体的晶面间距2d、衍射角θ及衍射级有关，即2d间距越小，角色散率越大；衍射角越大，角
x射线单晶体衍射仪
X射线单晶体衍射仪X射线单晶体衍射仪(X-ray single crystal diffractometer,简写为XRD)。本仪器分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解
X射线单晶体衍射仪
X射线单晶体衍射仪(X-ray single crystal diffractometer)。本仪器分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出
自动X射线晶体定向仪
X射线自动定向仪是根据市场对晶体角度测量越来越高的精度要求而推出的手动定向仪的升级产品，它是利用X射线衍射原理，设计制造的光，机，电三为一体精密仪器，能快速地测定天然和人造晶体（压电晶体、光学晶体、激光晶体、半导体晶体）的晶面，可与各种切割、研磨等加工设备配套使用。是精密加工制造晶体器件不可缺少