又一批!清源创新实验室采购XRF、质谱、色谱等

一、项目基本情况 项目编号:FJXCZB2022ZC046 项目名称:清源创新实验室能量色散型X射线荧光光谱仪、全二维气相色谱质谱联用仪、液相色谱仪、总有机碳分析仪货物类采购项目 预算金额:243.0000000 万元(人民币) 最高限价(如有):243.0000000 万元(人民币) 采购需求: 合同履行期限:合同签订后180日内完成全部货物供货【如遇特殊情况需延长交货的,中标人须在交货期满前7日前提出延长交货时间的书面申请,经采购人同意后方可延长,否则按照逾期计算】并于接到采购人安装通知后7日内安装调试完毕并交付使用。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: 详见招标文件 3.本项目的特定资格要求:无 三、获取招标文件 时间:2022年10月20日 至 2022年10月26日,每天上......阅读全文

简述X射线荧光光谱仪的应用

  X射线荧光光谱仪(X-rayFluorescenceSpectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在

X射线荧光光谱仪的使用形态

  XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素之内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析

X射线荧光光谱仪的维护知识

X射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为相关部门提供了一种可行的、低成本的并且及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。相对于其他分析方法,XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理,快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关部门作为过程控制和检测使用。X射线荧光光谱仪的维

波长色散X射线荧光光谱仪简介

  波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。

X射线荧光光谱仪的优点介绍

 X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象,适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。 X射线荧光光谱仪的优点: 1) 分析速度快。测定用时与

X射线荧光光谱仪的详细介绍

  X射线荧光光谱(XRF)是一种应用十分广泛的元素分析方法,利用X射线荧光光谱仪可以直接分析固体、粉末和液体样品,具有制样简单、测试效率高、可以进行非破坏性分析等特点。秒中对样品进行快速合金分析,秒即可进行实验室精度的测量。具有合金分析软件,内嵌数百种常见合金号,中英文界面自由切换、操作简易,即使

能量色散X射线荧光光谱仪

在20世纪80年代初,EDXRF谱仪主要有:①液氮冷却的Si(Li)半导体探测器与X射线管及高压电源组成的谱仪; ②非色散型可携式谱仪,它主要由封闭式正比计数器和放射性核素源组成,通常一次仅能测定1~2个元素。EDXRF谱仪由于仪器性能的改善现在测定元素已由Na扩展到F,甚至可检出C; 可携式XRF

X射线荧光光谱仪的技术原理

X射线荧光光谱仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元

X射线荧光光谱仪(XRF)基本结构

  现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统(分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统(脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。

X射线荧光光谱仪的表面效应

  样品表面状态和荧光谱线强度的关系不可忽视。当样品是由磨料、锯料或锋料制成大小一定的块状物体时,其表面必须经过适当的磨平或抛光。  荧光谱线强度不仅与样品的表面构造和纹沟的性质有关,而且也受样品位置、纹沟和进出X射线方向影响。对于后者,可以通过测量过程中同时转动样品减少或消除,如不能转动则应使纹沟

x射线荧光光谱仪的工作原理

当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12-10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到

能量色散X射线荧光光谱仪

(1)现场和原位EDXRF。现场和原位EDXRF分为两种: ①移动式谱仪,系指可以随身携带的谱仪,用于现场分析; ②手持式谱仪, 要求整机质量小于1.5 kg,可实施原位分析。现场EDXRF谱仪依据所用的激发源、探测器和电子学线路、谱仪的技术指标可划分为四代。第一代约在 20世纪60年代中期,由英、

X射线荧光光谱仪的工作原理

 X射线荧光分析技术作为一种快速分析手段,为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法。   样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。   X射线荧光光谱仪的工作

概述x射线荧光光谱仪安全事项

  在分析过程中,给管通电后,分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使放射线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA(最低合理可行)原则。三个因素将有助于最大程度地减少您的辐射暴露:时间,距离和屏蔽。  尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通

x射线荧光光谱仪材料辨识功能

  x射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线荧光光谱仪检测技术的改进提高了检测速度。探测器技术及用于脉冲信号处理的电子学线路的迅速发展,在允许的死时间情况下,探测器接收光子的数量提高了1个数量级以上。   仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能

走进斯派克X射线荧光光谱仪,

冶金分析是指冶金生产过程中各物料的化学组成及其含量的分析。它对原料的选择,在冶炼前的炉料计算,冶炼工艺流程的控制中,产品的检验,新产品的试制,以及冶金工厂中环保分析都是必不可少的。 特点是: ①在保证生产质量的前提下,分析速度要快,特别是分析; ②冶金分析物料种类繁多,有固体、粉

X射线荧光光谱仪的使用形态

X射线荧光光谱仪的使用形态X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于

X射线荧光光谱仪测量元素范围

  X射线荧光光谱仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析,包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。轻元素的zui佳检测也通过优激发、检测和真空模式的结合而实现所以成本低。  X射线荧光分析仪测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(

X射线荧光光谱仪特点及应用

  1.优点:  设备相对简单。  可以在大气中工作,灵敏度高。  2.缺点:  X射线入射深度较大,因而当薄膜厚度在微米级以下时,常规射线技术在测定薄膜结构和成分信息时没有优势。  如:实验使用Cu靶X射线的波长约为0.15 nm,其在固体中的穿透厚度一般在100~10000 m之间,然而一般薄膜

X射线荧光光谱仪国家标准

JJG810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》检定周期为1年。

X射线荧光光谱仪的优点介绍

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象,适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。 X射线荧光光谱仪的优点: 1) 分析速度快。测定用时与测

X射线荧光光谱仪的结构特点

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉

X射线荧光光谱仪相关知识介绍

X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品,可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱仪具有灵明度强、度高、检测范围广、自动快速等特点,广泛应用于地质、冶金、有色金属加工、建材、考古等领域,在主、次量和痕量元素分析中发挥的作用日趋重要

X射线荧光光谱仪的发展历史

  X射线荧光光谱仪的发展历史,最早可以追溯到1895年,德国物理学家威廉·康拉德·伦琴于这一年11月发现并识别出了X射线,因此,X射线在许多国家也被称之为伦琴射线。  随后在1909年,英国物理学家查尔斯·格洛弗·巴克拉发现了从样本中辐射出来的X射线与样品原子量之间的联系;四年之后,也即在1913

日立X射线荧光光谱仪操作原理

 X射线荧光光谱仪物理原理  当材料暴露在短波长X光检查,或伽马射线,其组成原子可能发生电离,如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,然而这使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,以填补下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的

X射线荧光光谱仪(XRF)-简介

X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF),是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的

X射线荧光光谱仪的测试步骤

 X射线荧光分析是一种物理分析方法, X射线荧光光谱仪分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。  X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征辐射,通过侧里和分析样品产生的的产生与特性当用高能电子束照射样品时,人射高能电子被样品中的电子减速,这

X射线荧光光谱仪的分类介绍

  根据X射线荧光的产生原理,一台X射线荧光光谱仪在结构上主要由激发源、色散系统、探测系统等3部分组成。按照色散方式的不同,X射线荧光光谱仪可以分为2类:波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)。下面主要介绍波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)的仪器结构

X射线荧光光谱仪的优势特点

X射线荧光光谱仪的优势特点介绍: a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没关系(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变

X射线荧光光谱仪的使用原理

采用X射线荧光光谱仪(X-rayFluorescenceSpectrometer,简称:XRF光谱仪)测量,是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。 X射线荧光分析被广泛应用于元素和化学分析