二次电子像的特点
(1)能量小于50eV，在固体样品中的平均自由程只有10～100nm。在这样浅的表层里，入射电子与样品原子只发出有限次数的散射，因此基本上未向侧向扩散；(2)二次电子的产额强烈依赖于入射束与试样表面法线间的夹角a , a大的面发射的二次电子多，反之则少。......阅读全文
扫描电镜
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电镜
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电镜
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电镜STEM模式的应用
扫描电镜STEM模式的应用透射电镜的加速电压较高(一般为120-200kV)，对于有机高分子、生物等软材料样品的穿透能力强，形成的透射像衬度低，而扫描电镜的加速电压较低(一般用10-30kV)，因此应用其STEM模式成透射像，可大大提高像的衬度。图3所示为有机太阳能电池用的高分子/富勒烯薄膜（有机固
扫描电镜STEM模式的应用
透射电镜的加速电压较高(一般为120-200kV)，对于有机高分子、生物等软材料样品的穿透能力强，形成的透射像衬度低，而扫描电镜的加速电压较低(一般用10-30kV)，因此应用其STEM模式成透射像，可大大提高像的衬度。图3所示为有机太阳能电池用的高分子/富勒烯薄膜（有机固体实验室样品）的透射电子像
HRTEM测试中，明场像与暗场像都有什么区别
透射电镜图像分为试样的显微像和衍射花样，这两种像分别为不同电子成像，前者是透射电子成像，后者为散射电子成像。 透射电镜中，不仅可以选择特定的像区进行电子衍射（选区电子衍射），还可以选择成像电子束。（选择衍射成像） 明场像（BF）：选用直射电子形成的像（透射束），像清晰。 暗场像（DF）：选用散射电子
电子探针仪与扫描电镜有何异同
透射电子显微镜 (transmission electron microscopy﹐简写为TEM)。 构造原理 ： 电子显微镜的构造原理与光学显微镜相似﹐主要由照明系统和成像系统构成(图1 光学显微镜与电子显微镜的对比 )。照明系统包括电子枪和聚光镜。钨丝在真空中加热并在电场的作用下发射出电
材科基说明材料组织的明场像和暗场像有何区别
明场像与暗场像都有什么区别呢一个是透射束成像，一个是衍射束成像透射电镜图像分为试样的显微像和衍射花样，这两种像分别为不同电子成像，前者是透射电子成像，后者为散射电子成像。透射电镜中，不仅可以选择特定的像区进行电子衍射（选区电子衍射），还可以选择成像电子束。（选择衍射成像）明场像（BF）：选用直射电子
材科基说明材料组织的明场像和暗场像有何区别
明场像与暗场像都有什么区别呢一个是透射束成像，一个是衍射束成像透射电镜图像分为试样的显微像和衍射花样，这两种像分别为不同电子成像，前者是透射电子成像，后者为散射电子成像。透射电镜中，不仅可以选择特定的像区进行电子衍射（选区电子衍射），还可以选择成像电子束。（选择衍射成像）明场像（BF）：选用直射电子
材科基说明材料组织的明场像和暗场像有何区别
明场像与暗场像都有什么区别呢一个是透射束成像，一个是衍射束成像透射电镜图像分为试样的显微像和衍射花样，这两种像分别为不同电子成像，前者是透射电子成像，后者为散射电子成像。透射电镜中，不仅可以选择特定的像区进行电子衍射（选区电子衍射），还可以选择成像电子束。（选择衍射成像）明场像（BF）：选用直射电子
二次电子发射能谱研究进展
文章阐述了二次电子发射能谱的基本概念,介绍了两种比较常规的二次电子发射能谱测试方法,以及国内外比较具有代表性的二次电子发射能谱的测试设备。详细地阐述了当前Vaughan模型和Furman模型并对两个模型进行了详细的比较分析,总结了各自的优势与不足。研究表明二次电子发射能谱在二次电子发射研究领域具有非
背散射电子像的用途
可以被应用于扫描电子显微镜中，由于在扫描电子显微镜中，样品会反射部分的电子，从而能显示待检测样品表面的一些状况。
背散射电子像的用途
可以被应用于扫描电子显微镜中，由于在扫描电子显微镜中，样品会反射部分的电子，从而能显示待检测样品表面的一些状况。
透射电子像的功能介绍
中文名称透射电子像英文名称transmitted electron image定 义在电子显微镜中，用透过样品的电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
船型构像的基本信息
在环已烷中，六个碳原子不在同一个平面内,碳碳键之间的夹角为109.5°，没有环张力，因此环很稳定。环已烷由于环的翻转可以形成多种构象，其中，椅型和船型这两种典型的构象最为重要。船型构象能量高，不能稳定存在，而椅型构象能稳定存在。
特征X射线像的功能介绍
中文名称特征X射线像英文名称characteristic X-ray image定 义在扫描电子显微镜中，由电子探针激发样品而产生的特征X射线对样品所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
俄歇电子像的功能介绍
中文名称俄歇电子像英文名称Auger electron image定 义在扫描电子显微镜中，用俄歇电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
特征X射线像的功能介绍
中文名称特征X射线像英文名称characteristic X-ray image定 义在扫描电子显微镜中，由电子探针激发样品而产生的特征X射线对样品所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
感生电流像的功能介绍
中文名称感生电流像英文名称induced current image定 义在扫描电子显微镜中，由电子探针对半导体和集成电路样品作用而感生的电流所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
透射电子像的功能介绍
中文名称透射电子像英文名称transmitted electron image定 义在电子显微镜中，用透过样品的电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
俄歇电子像的功能介绍
中文名称俄歇电子像英文名称Auger electron image定 义在扫描电子显微镜中，用俄歇电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
频闪静像仪的简介
频闪静像仪也叫频闪灯、闪光灯、闪频仪或转速计，频闪仪本身可以发出短暂又频密的闪光。当调节频闪灯的闪动频率，使其与被测物的转动或运动速度接近或同步时，被测物虽然高速运动着，但看上去却是缓慢运动或相对静止，这种视觉暂留现象使人目测就能轻易观测到高速运动物体的表面质量与运行状况，而频闪仪的闪光速度即为
感生电流像的功能介绍
中文名称感生电流像英文名称induced current image定 义在扫描电子显微镜中，由电子探针对半导体和集成电路样品作用而感生的电流所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
扫描电镜透射模式（STEM）的成像原理及应用
扫描电子显微镜已成为表征物质微观结构不可或缺的仪器。在扫描电镜中，电子束与试样的物质发生相互作用，可产生二次电子、特征X射线、背散射电子等多种的信号，通过采集二次电子、背散射电子得到有关物质表面微观形貌的信息，背散射电子衍射花样得到晶体结构信息，特征X-射线得到物质化学成分的信息，这些得到的都是接近
扫描电镜透射模式（STEM）的成像原理及应用
扫描电子显微镜已成为表征物质微观结构不可或缺的仪器。在扫描电镜中，电子束与试样的物质发生相互作用，可产生二次电子、特征X射线、背散射电子等多种的信号，通过采集二次电子、背散射电子得到有关物质表面微观形貌的信息，背散射电子衍射花样得到晶体结构信息，特征X-射线得到物质化学成分的信息，这些得到的都是
环境扫描电子显微镜的特点
一、环境扫描电镜的特点 普通扫描电镜的样品室和镜筒内均为高真空（约为10ˆ-6个大气压），只能检验导电导热或经导电处理的干燥固体样品。低真空扫描电镜可直接检验非导电导热样品，无需进行处理，但是低真空状态下只能获得背散射电子像。 环境扫描电镜除具有以上两种电镜的所有功能外，还具有以下几个主要特点：
环境扫描电子显微镜的特点
一、环境扫描电镜的特点 普通扫描电镜的样品室和镜筒内均为高真空（约为10ˆ-6个大气压），只能检验导电导热或经导电处理的干燥固体样品。低真空扫描电镜可直接检验非导电导热样品，无需进行处理，但是低真空状态下只能获得背散射电子像。 环境扫描电镜除具有以上两种电镜的所有功能外，还具有以下几个主要特点： 1
扫描电子显微镜的二次电子检测
最常见的成像模式是收集低能(< 50 eV)二次电子，这些低能二次电子是通过一次电子与样品原子的非弹性散射相互作用从导带或价带发射出来的。由于能量低，这些电子源于样品表面以下几纳米的区域。[27] 采用艾弗哈特-索恩利探测器（ Everhart-Thornley detector）可以探测到二次
MgAl合金怎么做SEM，二次电子的？
这种样品的正确测法应该是先抛光，再腐蚀。若有蒸发现象，可以在样品表面渡上一层金。
金相图与SEM图的区别
金相观察是依赖可见光的反射,其原理是被腐蚀的晶界处发生漫反射,在照片上是暗的;未被腐蚀的晶粒内部发生的是镜面反射,在照片上是亮的.SEM分二次电子像和背散射电子像:二次电子像必须腐蚀样品,不腐蚀的话什么都看不到.照完金相的样品可以直接照二次电子,但照片的情况有所不同,