电子轰击二次电子像的概念
中文名称电子轰击二次电子像英文名称electron bombardment secondary electron image定 义在发射电子显微镜中，电子轰击样品激发的二次电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）......阅读全文
SEM如何利用二次电子成像
SEM工作时，电子枪发射的入射电子束打在试样表面上，向内部穿透一定的深度，由于弹性和非弹性散射形成一个呈梨状的电子作用体积。电子与试样作用产生的物理信息，均由体积内产生。 二次电子是入射电子在试样内部穿透和散射过程中，将原子的电子轰击出原子系统而射出试样表面的电子，其中大部分属于价子激发，所以
SEM如何利用二次电子成像
从书上查了一些内容，书的年代比较久远，可能买不到...有兴趣的话，尝试着去图书馆借一下吧。 SEM工作时，电子枪发射的入射电子束打在试样表面上，向内部穿透一定的深度，由于弹性和非弹性散射形成一个呈梨状的电子作用体积。电子与试样作用产生的物理信息，均由体积内产生。 二次电子是入射电子在试样内部
扫描电镜之二次电子
入射电子与样品相互作用后，使样品原子较外层电子（价带或导带电子）电离产生的电子， 称二次电子。二次电子能量比较低，习惯上把能量小于 50eV 电子统称为二次电子。二次电 子能量低，仅在样品表面 5nm－10nm 的深度内才能逸出表面，这是二次电子分辨率高的重 3 要原因之一。凸凹不平的样品表
波谱仪相关
波谱仪是一种用于地球科学、材料科学、考古学领域的分析仪器，于2010年12月29日启用。 技术指标 分析范围：原子数(Z): 5-92；定量分析精度:主要元素>2%, 次要元素大于5%；加速电压0.2-30kv；二次电子成像分辨率1-5um；放大倍数50-300000,；电子束流：10-12
扫描电子显微镜的二次电子检测
最常见的成像模式是收集低能(< 50 eV)二次电子，这些低能二次电子是通过一次电子与样品原子的非弹性散射相互作用从导带或价带发射出来的。由于能量低，这些电子源于样品表面以下几纳米的区域。[27] 采用艾弗哈特-索恩利探测器（ Everhart-Thornley detector）可以探测到二次
扫描电镜中的二次电子分析
如果在样品的上方安装一个环形电子检测器，用于搜集从样品出射的能量在0~E。范围内的电子，可以获得一条类似图的曲线，横坐标为出射电子能量E，纵坐标为电子数量N。曲线最右端E。处是弹性背散射电子峰，仅占一小部分，大部分背散射电子在E。左边I区域，其能量损失小于40%，对于多数中等和高原子序数的样品出射
电子轰击型离子源的结构特点介绍
电子由直热式阴极F（或F）发射，在电离室A（阳极）和阴极F或F之间施加直流电位，使电子得到加速，进入电离室中，碰撞气体使气体分子电离。在电离室A和聚焦极B之间所加电位作用下，离子加速离开电离室，通过聚焦扳后在减速间隙所加电位作用下，离子减速、聚焦到达离子源出口孔。这个简单离子源既无单独的离子推斥
俄歇电子像的功能介绍
中文名称俄歇电子像英文名称Auger electron image定 义在扫描电子显微镜中，用俄歇电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
透射电子像的功能介绍
中文名称透射电子像英文名称transmitted electron image定 义在电子显微镜中，用透过样品的电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
背散射电子像的用途
可以被应用于扫描电子显微镜中，由于在扫描电子显微镜中，样品会反射部分的电子，从而能显示待检测样品表面的一些状况。
背散射电子像的用途
可以被应用于扫描电子显微镜中，由于在扫描电子显微镜中，样品会反射部分的电子，从而能显示待检测样品表面的一些状况。
透射电子像的功能介绍
中文名称透射电子像英文名称transmitted electron image定 义在电子显微镜中，用透过样品的电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
俄歇电子像的功能介绍
中文名称俄歇电子像英文名称Auger electron image定 义在扫描电子显微镜中，用俄歇电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
扫描电子显微镜的基本介绍
扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动 （声子）、电子振荡 （等离子体）。原则上讲，
气质联用仪电子轰击离子化(的特点介绍
⑴、结构简单，操作方便。 ⑵、图谱具有特征性，化合物分子碎裂大，能提供较多信息，对化合物的鉴别和结构解析十分有利。 ⑶、所得分子离子峰不强，有时不能识别。 本法不适合于高分子量和热不稳定的化合物。 化学离子化(chemicalionization，CI)将反应气(甲烷、异丁烷、氨气等)与
二次电子发射能谱研究进展
文章阐述了二次电子发射能谱的基本概念,介绍了两种比较常规的二次电子发射能谱测试方法,以及国内外比较具有代表性的二次电子发射能谱的测试设备。详细地阐述了当前Vaughan模型和Furman模型并对两个模型进行了详细的比较分析,总结了各自的优势与不足。研究表明二次电子发射能谱在二次电子发射研究领域具有非
背散射电子像的功能介绍
背散射电子像是在扫描电子显微镜中，通过电子枪产生的电子，经过加速电场、偏转磁场后，照射到待检测的样品表面，待检测样品会反射一部分的电子，在扫描电子显微镜的工作镜腔里的背散射电子探头就会检测到这些被反射的电子，进而在检测器上所成的像。
背散射电子像的工作原理
电子照射到待测样品的过程中，样品能发射一部分电子，背散射电子探头就会检测到这些电子，从而产生相应的电信号，通过放大电路之后，在对其进行相应的转换，后在检测器上显示相应待检测样品表面的相关信息图像。
光电子像的定义和功能
中文名称光电子像英文名称photoelectronic image定 义在发射电子显微镜中，用样品在光辐射条件下发射的光电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
热电子像的定义和功能
中文名称热电子像英文名称thermoelectronic image定 义在发射电子显微镜中，样品受热发射的热电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
背散射电子像的工作原理
电子照射到待测样品的过程中，样品能发射一部分电子，背散射电子探头就会检测到这些电子，从而产生相应的电信号，通过放大电路之后，在对其进行相应的转换，后在检测器上显示相应待检测样品表面的相关信息图像。
扫描电镜的两只眼睛背散射模式和二次电子模式
飞纳电镜为客户配备了二次电子成像模式，使得对样品立体外观形貌的观察又上了一个台阶。飞纳电镜拥有了两只观测样品的“眼睛”——背散射探测器（BSD）和二次电子探测器（SED），不管您有什么观测需求，这两只“眼睛”都可以满足您绝大部分的要求。 二次电子模式 飞纳台式扫描电镜内部可配备二次电子探头，收集从样
扫描电镜采用了先进的控制技术
扫描电镜适用于对低频振动较为灵敏的仪器，例如建筑物和楼层振动、光学平台晃动带来的低频振动，使用隔震平台，可使其降至传统隔离设备如气垫隔振所未能 达到的水平，从而使得对这些振动较为敏感的仪器或设备以稳定的状态运行。 扫描电镜优异的隔振效果使其应用范围广泛，适用于所有需要进行隔振的实验平台，目前为
电子漏的概念
中文名称电子漏英文名称electron leakage定 义线粒体膜呼吸链电子传递过程中，电子经膜上漏出而导致产生超氧自由基的作用。影响ATP的生成。应用学科生物化学与分子生物学（一级学科），新陈代谢（二级学科）
电子地磅的概念
人们对于电子地磅衡器的理解是随着社会科学技术的发展而变化的。以往人们将单纯的一台具有称重功能的产品就称为地磅衡器。 分类 电子地磅按秤体结构可分为：u型钢电子地磅、槽钢电子地磅、工字钢电子地磅、钢筋混凝土电子地磅；按传感器可分为数字式电子地磅、模拟式电子地磅、全电子电子地磅；电子地磅俗称地磅
电子地磅的概念
人们对于电子地磅衡器的理解是随着社会科学技术的发展而变化的。以往人们将单纯的一台具有称重功能的产品就称为地磅衡器。 分类 电子地磅按秤体结构可分为：u型钢电子地磅、槽钢电子地磅、工字钢电子地磅、钢筋混凝土电子地磅；按传感器可分为数字式电子地磅、模拟式电子地磅、全电子电子地磅；电子地磅俗称地磅
TEM和SEM的工作原理差别
扫描电子显微镜 SEM(scanning electron microscope) 工作原理：1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产
TEM和SEM的工作原理差别
扫描电子显微镜 SEM(scanning electron microscope) 工作原理：1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产
离子探针分析仪器组成
离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。① 一次离子发射系统一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、氖、氩等），
离子探针分析仪的组成结构介绍
离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。 ① 一次离子发射系统 一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、