造成金属X衍射峰半高宽增加原因
原因:1.仪器本身就有一定宽度(仪器变宽);2.晶粒细化(大约100nm,尺寸变宽);3.由于应力影起的（应力变宽）；共三个因素。消除方法：1.仪器本身就有一定宽度(仪器变宽);---可以做标准曲线扣除。3.由于应力影起的（应力变宽）；--可以用退火方法（退火温度是mp的1/3）去除，你说的两种应力引起的宽化应该是一样的；2.晶粒细化(大约100nm,尺寸变宽); ---可以用谢乐公式计算grain size（注意：间于1nm--100nm）......阅读全文
x射线衍射峰发生了偏移的原因
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移，意味着变大，常见是掺入了比主体大的杂原子。出现“掺杂”，杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移，说明晶胞参数变大，晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平，制样做出的数据才准确。如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移。如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少
X射线衍射峰整图偏移的原因
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子.出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移.如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少
X射线衍射峰整图偏移的原因
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子.出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移.如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少
x射线衍射峰发生了偏移的原因
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移，意味着变大，常见是掺入了比主体大的杂原子。出现“掺杂”，杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移，说明晶胞参数变大，晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平，制样做出的数据才准确。如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移。如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少
X射线衍射峰整图偏移的原因
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子.出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移.如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少
X射线衍射峰整图偏移的原因
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子.出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移.如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少
x射线衍射峰发生了偏移的原因
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移，意味着变大，常见是掺入了比主体大的杂原子。出现“掺杂”，杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移，说明晶胞参数变大，晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平，制样做出的数据才准确。如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移。如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少
X射线衍射峰强度－影响因素有哪些
峰位由晶胞大小和形状决定的；峰强（高）是由晶胞里原子的种类和原位置决定的。纳米材料753衍射峰的位置是由材料的结构峰强（相对高）代表材料的质量丰度等isord楼上的对于强度的说法，必须完全的基于仪器检测条件一致的情况，如果仪器不一样，参数设定或狭缝不一样，强度就没有可比性。峰位取决于晶体结构，结构没
X射线衍射普中，为什么高角度的衍射峰强度很弱
在X射线衍射谱中，低角度的衍射峰大都是晶面100,010，001，110,101,011，200,210,300,220,310，...,400,...等产生的，这些晶面的一级衍射光一般都比较强，并且这些晶面参与衍射的频度高-即重复系数大。所以它们的衍射光强，若输出是X-Y函数图，则它们的衍射峰强度
x射线衍射图的峰强和什么有关
简单的说，x射线衍射图的峰强和晶面之间的距离有关（注意这里的晶面并不一定是晶体的表面）。它们的关系服从布拉格衍射方程 2dsinθ=nλ,θ为入射束与反射面的夹角，λ为X射线的波长，n为任何正整数.如果扎的深了，那么就会发现除了服从布拉格衍射方程外，x射线衍射图的峰强还和晶面上的电子密度的分布有关，
造成金属X衍射峰半高宽增加原因
原因:1.仪器本身就有一定宽度(仪器变宽);2.晶粒细化(大约100nm,尺寸变宽);3.由于应力影起的（应力变宽）；共三个因素。消除方法：1.仪器本身就有一定宽度(仪器变宽);---可以做标准曲线扣除。3.由于应力影起的（应力变宽）；--可以用退火方法（退火温度是mp的1/3）去除，你说的两种应力
x射线衍射图的峰强和什么有关
简单的说，x射线衍射图的峰强和晶面之间的距离有关（注意这里的晶面并不一定是晶体的表面）。它们的关系服从布拉格衍射方程 2dsinθ=nλ,θ为入射束与反射面的夹角，λ为X射线的波长，n为任何正整数.如果扎的深了，那么就会发现除了服从布拉格衍射方程外，x射线衍射图的峰强还和晶面上的电子密度的分布有关，
X衍射仪和单晶X衍射仪的区别
X射线衍射仪可以分为X射线粉末衍射仪和X射线单晶衍射仪。在传统的X射线衍射仪器中，单晶衍射仪及粉晶衍射仪功能各别，如四圆单晶衍射仪，如果所挑选的晶体颗粒不是严格的单晶体（该单晶体用于准直X射线，即获得单色的X射线），则无法进行后继的测试研究，而粉晶衍射仪也不能进行单晶数据收集。
X衍射仪和单晶X衍射仪的区别
X射线衍射仪可以分为X射线粉末衍射仪和X射线单晶衍射仪。在传统的X射线衍射仪器中，单晶衍射仪及粉晶衍射仪功能各别，如四圆单晶衍射仪，如果所挑选的晶体颗粒不是严格的单晶体（该单晶体用于准直X射线，即获得单色的X射线），则无法进行后继的测试研究，而粉晶衍射仪也不能进行单晶数据收集。
X衍射仪和单晶X衍射仪的区别
X射线衍射仪可以分为X射线粉末衍射仪和X射线单晶衍射仪。在传统的X射线衍射仪器中，单晶衍射仪及粉晶衍射仪功能各别，如四圆单晶衍射仪，如果所挑选的晶体颗粒不是严格的单晶体（该单晶体用于准直X射线，即获得单色的X射线），则无法进行后继的测试研究，而粉晶衍射仪也不能进行单晶数据收集。
X衍射仪和单晶X衍射仪的区别
X射线衍射仪可以分为X射线粉末衍射仪和X射线单晶衍射仪。在传统的X射线衍射仪器中，单晶衍射仪及粉晶衍射仪功能各别，如四圆单晶衍射仪，如果所挑选的晶体颗粒不是严格的单晶体（该单晶体用于准直X射线，即获得单色的X射线），则无法进行后继的测试研究，而粉晶衍射仪也不能进行单晶数据收集。
X衍射仪和单晶X衍射仪的区别
X射线衍射仪可以分为X射线粉末衍射仪和X射线单晶衍射仪。在传统的X射线衍射仪器中，单晶衍射仪及粉晶衍射仪功能各别，如四圆单晶衍射仪，如果所挑选的晶体颗粒不是严格的单晶体（该单晶体用于准直X射线，即获得单色的X射线），则无法进行后继的测试研究，而粉晶衍射仪也不能进行单晶数据收集。
X衍射仪和单晶X衍射仪的区别
X射线衍射仪可以分为X射线粉末衍射仪和X射线单晶衍射仪。在传统的X射线衍射仪器中，单晶衍射仪及粉晶衍射仪功能各别，如四圆单晶衍射仪，如果所挑选的晶体颗粒不是严格的单晶体（该单晶体用于准直X射线，即获得单色的X射线），则无法进行后继的测试研究，而粉晶衍射仪也不能进行单晶数据收集。
x射线衍射峰发生了偏移的原因有哪些
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移，意味着变大，常见是掺入了比主体大的杂原子。出现“掺杂”，杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移，说明晶胞参数变大，晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平，制样做出的数据才准确。如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移。如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少
x射线衍射峰发生了偏移的原因有哪些
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X射线衍射简介
1912年，劳厄等人根据理论预见，证实了晶体材料中相距几十到几百皮米（pm）的原子是周期性排列的；这个周期排列的原子结构可以成为X射线衍射的“衍射光栅”；X射线具有波动特性， 是波长为几十到几百皮米的电磁波，并具有衍射的能力。 这一实验成为X射线衍射学的第一个里程碑。当一束单色X射线入射到晶体时，
X射线衍射分析
建立在X射线与晶体物质相遇时能发生衍射现象的基础上的一种分析方法。应用这种方法可进行物相定性分析和定量分析、宏观和微观应力分析 。① 物相定性分析:每种晶体物相都有一定的衍射花样，故可根据不同的衍射花样鉴别出相应的物相类别。由于这种方法能确定被测物相的组成，在机械工程材料特别是金属材料的研究中应用
X射线衍射仪
产品型号: X'Pert PRO生产厂家:荷兰帕纳科公司PANalytical B.V.（原飞利浦分析仪器）仪器介绍:X'Pert PRO X射线衍射仪采用陶瓷χ光管、DOPS直接光学定位传感器精确定位和最优化的控制台及新型窗口软件。采用模块化设计，可针对不同的要求采用最优的光学系统
X射线衍射仪
特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线衍射仪的英文名称是X-ra
X射线衍射分析
XRD物相分析是基于多晶样品对X射线的衍射效应，对样品中各组分的存在形态进行分析。测定结晶情况，晶相，晶体结构及成键状态等等。 可以确定各种晶态组分的结构和含量。灵敏度较低，一般只能测定样品中含量在1%以上的物相，同时，定量测定的准确度也不高，一般在1%的数量级。XRD物相分析所需样品量大（0.1g
X射线衍射半峰宽与晶体质量有什么关系
半峰宽的大小受晶粒尺寸大小、内应力、结晶缺陷等的影响。晶粒尺寸越小，峰越宽。内应力也可导致峰变宽。
x射线衍射、x荧光、直读光谱区别
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基
X射线衍射的jianji
物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但是X射线衍射是最有效的、应用最广泛的手段，而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分
X射线衍射的特点
波长短，穿透力强，可进行无损探伤检测、透视、晶体结构表征、微观应力测试等应用！
X射线衍射的特点
波长短，穿透力强，可进行无损探伤检测、透视、晶体结构表征、微观应力测试等应用！