怎样调节迈克尔逊干涉仪使干涉条纹出现
先调两个反射镜基本与光线垂直，两束光光程基本相等，在分光板前放一个尖的物体，例如，笔，看到两个投影，调节反射镜背后的螺钉，使两个投影重合，干涉条纹出现。两束相干光线互相叠加，如果相位差等于零，则叠加后是亮条纹；如果相位差了180度，叠加后成了暗条纹。相干的意思是光束的频率是一样的。干涉比如像等倾干涉，是入射光透射入玻璃或者其他介质后，反射出来的光线与在介质表面反射的光线叠加，亮暗条纹的出现的位置与介质的厚度有关，光线在介质中传播并反射出介质的总路程与波长的关系可以确定相位的差，最终确定亮暗条纹。......阅读全文
瑞利干涉仪原理概述
如图是瑞利干涉仪结构示意图。从线光源发射的光波经准直透镜射到两个光缝和上，和都平行于线光源。从和出射的光分别通过气室和，然后被透镜会聚，在透镜焦平面上形成干涉条纹。可以用放大镜来观察这些干涉条纹。在放大镜中还可看到另一组条纹，这组条纹是从和发出但通过气室下面光路的光波干涉而得的条纹(参看侧视图)
激光干涉仪的应用
激光干涉仪是检定数控机床、坐标测量机位置精度的理想工具，可按照规定标准处理测量数据并输出误差曲线，为数控机床的误差修正提供可靠依据，现场使用尤为方便。 激光干涉仪配有各种附件，可测量小角度、平面度、直线度、平 行度、垂直度等形位误差。 激光干涉仪也是一种高精度位移传感器，可直接用于高精度、大
干涉仪的的分类
干涉仪的分类有不同分法 按照结构区分 干涉仪可以分为单路径干涉仪和多路径干涉仪两类， 其差异在于干涉的波是否通过同一路径传播。 例如迈克尔逊干涉仪就是常见的多路径干涉仪， 而Sagnac干涉仪， 等倾干涉和等厚干涉等即为单路径干涉仪（钟锡华， 陈熙谋， 2002）。 按照干涉光来源区分
怎么维护白光干涉仪？
1、仪器应妥善地放在干燥、清洁的房间内，防止振动，仪器搬动 时，应托住底座，以防导轨变形。 2、光学零件不用时，应存放在清洁的干燥盆内，以防止发霉。反光镜、分光镜一般不允许擦拭，必要擦拭时，须先用备件毛刷小心掸去灰尘，再用脱脂清洁棉花球滴上酒精和乙醚混合液轻拭。 3、传动部件应有良好的润滑。
激光干涉仪使用技巧
1、Z轴激光光路快速准直方法 用激光干涉仪进行线性测量时，Z轴测量时激光光路的准直相对X、Y轴准直来说，要困难的多。尤其是在Z轴距离较长的情况下，要保证激光光束经反射镜反射后回到激先探测器的强度满足测量对对光强的要求，准直激光光路往往需要很长时间。 Z轴激光光路快速准直方法具体调整方法如下：
双频激光干涉仪原理
干涉仪是以激光波长为已知长度、利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量工具。 激光干涉仪有单频的和双频的两种。单频的是在20世纪60年代中期出现的，最初用于检定基准线纹尺，后又用于在计量室中精密测长。双频激光干涉仪是1970年出现的，它适宜在车间中使用。激光干涉仪在极接近标准状态(温度为20℃、大
量块干涉仪的功能介绍
中文名称量块干涉仪英文名称gauge interferometer定 义以光波波长为长度基准，用干涉法精确测定量块的中心长度、工作面的平面度及平行度等的仪器。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
孔径干涉仪的功能介绍
中文名称孔径干涉仪英文名称bore interferometer定 义利用光干涉原理，将量块(或环规)与内孔尺寸相比较，测出其微差尺寸的测量仪器。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
激光干涉仪的功能特点
1、激光干涉仪可以同时测量线性定位误差、直线度误差(双轴)、偏摆角、俯仰角和滚动角等，以及测量速度、加速度、振动等参数，并评估机床动态特性等。 2、激光干涉仪的光源——激光，具有高强度、高度方向性、空间同调
激光干涉仪的功能介绍
激光干涉仪，以激光波长为已知长度，利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量。
白光干涉仪该怎样选购？
白光干涉仪是利用光学干涉原理研制开发的超精密表面轮廓测量仪器。照明光束经半反半透分光镜分威两束光，分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光，并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉，在CCD相机感光面会观察到明暗相间的干涉条纹。干涉条
量块干涉仪的功能介绍
中文名称量块干涉仪英文名称gauge interferometer定 义以光波波长为长度基准，用干涉法精确测定量块的中心长度、工作面的平面度及平行度等的仪器。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
激光干涉仪的仪器维护
1、仪器应妥善地放在干燥、清洁的房间内，防止振动，仪器搬动 时，应托住底座，以防导轨变形。 2、光学零件不用时，应存放在清洁的干燥盆内，以防止发霉。反光镜、分光镜一般不允许擦拭，必要擦拭时，须先用备件毛刷小心掸去灰尘，再用脱脂清洁棉花球滴上酒精和乙醚混合液轻拭。3、传动部件应有良好的润滑。特别是
马赫秦特干涉仪概述
一种分振幅双光束干涉仪。由马赫和秦特在1892年研制而成。这种干涉仪的原理如图所示。D1和D2为两块分光板，M1和M2为两块平面镜，这四个反射面接近平行，而且它们的中心分别位于一个平行四边形的四个顶点。单色点光源S位于准直透镜L1的前焦面上，S发出的光通过L1后成为平行光，在D1的前表面分成反射
激光干涉仪的应用特点
（1）几何精度检测 可用于检测直线度、垂直度、俯仰与偏摆、平面度、平行度等。（2）位置精度的检测及其自动补偿 可检测数控机床定位精度、重复定位精度、微量位移精度等。利用雷尼绍ML10激光干涉仪不仅能自动测量机器的误差，而且还能通过RS232接口自动对其线性误差进行补偿，比通常的补偿方法节省了大量时间
外差干涉仪的应用介绍
外差干涉仪现已广泛应用于测速、测长、测角、测振、测表面光洁度、测激光束通过湍流时光束的扰动、提高望远镜的视轴瞄准精度以及作自适应光学中的鉴相器等领域，获得了比零差干涉仪更高的精度。 外差干涉仪中两种不同频率的光束可由两只稳频的激光器提供，也可以利用磁光、电光、声光效应或旋转光栅盘的衍射效应提供。
激光干涉仪的应用特点
（1）几何精度检测 可用于检测直线度、垂直度、俯仰与偏摆、平面度、平行度等。（2）位置精度的检测及其自动补偿 可检测数控机床定位精度、重复定位精度、微量位移精度等。利用雷尼绍ML10激光干涉仪不仅能自动测量机器的误差，而且还能通过RS232接口自动对其线性误差进行补偿，比通常的补偿方法节省了大量时间
外差干涉仪的特点描述
外差干涉仪的突出优点是：①由于物体变化所产生的多普勒频移信息是载于稳定的差频上，且其频率较高（几兆至100兆赫）,因此，光电探测时避过了激光器的低频噪声和半导体器件的1/f噪声区；又利用频率跟踪等外差解调技术大量滤除了宽带噪声，因此提高了光电信号的信噪比。例如零差干涉测长仪中，当测量光束受外界干扰
马曾干涉仪的概述
马曾干涉仪的内部设置可以很容易更改。与迈克耳孙干涉仪明显不同，两道被分裂的光束只会分别行经一次马曾干涉仪的两条严格分隔的路径。 由于白光的相干长度很有限，数量级为微米，必须非常仔细的将白光的所有波长的光程都调整为一样，才能通过马曾干涉仪将白光制成黑白相间的干涉条纹，否则无法观察到干涉条纹。如首
激光干涉仪有什么功能
激光干涉仪产品具有测量精度高、测量速度快、最高测速下分辨率高、测量范围大等优点。通过与不同的光学组件结合，可以实现对直线度、垂直度、角度、平面度、平行度等多种几何精度的测量。在相关软件的配合下，还可以对数控机床进行动态性能检测，可以进行机床振动测试与分析，滚珠丝杆的动态特性分析，驱动系统的响应特
激光干涉仪的技术特点
1. 同时测量线性定位误差、直线度误差（双轴）、偏摆角、俯仰角和滚动角2. 设计用于安装在机床主轴上的5D/6D传感器3. 可选的无线遥控传感器最长的控制距离可到25米4. 可测量速度、加速度、振动等参数，并评估机床动态特性5. 全套系统重量仅15公斤，设计紧凑、体积小，测量机床时不需三角架6. 集
斐索干涉仪原理简介
斐索干涉仪原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的一种精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。常用的波面干涉仪为泰曼干涉仪和斐索干涉仪。 斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，后者由分束器、有
激光干涉仪的工作原理
激光干涉仪，以激光波长为已知长度，利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量。
迈克耳孙星体干涉仪
一种分波面双光束干涉仪。1920年，美国物理学家迈克耳孙设计制成，用来测量星体的角宽度。其原理如图所示。S和S2为双缝，M1、M2、M3和M4为四块平面镜，来自远方星体的平行光被M1和M2反射，再被M3和M3反射，入射到双缝S1和S2上。从双缝出射的两束光，在物镜L的后焦面上产生干涉条纹。M1和
迈克尔逊干涉仪
迈克尔逊干涉仪是根据光的干涉原理制成的精密测量仪器,它可精密地测量长度及长度的微小改变等。在现代科学技术中有着广泛的应用。 迈克尔逊干涉仪光学结构如图（1）所示，M1和M2是精密磨光的平面反射镜，相互垂直安装构成干涉仪的两臂，M1是动镜，在直线运动机构的驱动下沿轴向前后移动,如图中箭头所示，M
激光干涉仪的工作原理
激光器发射单一频率光束射入线性干涉镜，然后分成两道光束，一道光束（参考光束）射向连接分光镜的反射镜，而第二道透射光束（测量光束）则通过分光镜射入第二个反射镜，这两道光束再反射回到分光镜，重新汇聚之后返回激光器，其中会有一个探测器监控两道光束之间的干涉（见图）。若光程差没有变化时，探测器会在相长性
激光干涉仪的发展历史
1604年开普勒（J．Kepler）写出光学著作，指出光的强度和到达光源距离的平方成反比。并于1611年出版《折射光学》。 1801年托马斯•杨（Thomas Young）用双狭缝实验演示了光的干涉现象，即著名的杨氏双缝实验。 1881年迈克尔逊（Albert．A．Michelson）设计了
接触式干涉仪的功能介绍
中文名称接触式干涉仪英文名称contact interferometer定 义应用干涉原理接触测量微差尺寸的长度计量仪器。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
接触式干涉仪的功能介绍
中文名称接触式干涉仪英文名称contact interferometer定 义应用干涉原理接触测量微差尺寸的长度计量仪器。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
白光干涉仪的应用领域
应用领域： 1、半导体晶片 2、液晶产品（CS,LGP,BIU） 3、微机电系统 4、光纤产品 5、数据存储盘（HDD,DVD,CD） 6、材料研究 7、精密加工表面 8、生物医学工程