牛津仪器：背散射电子及X射线（BEX）成像
什么是BEX？ BEX是集背射电子和X射线成像于一体的新型微区分析技术，可以在SEM下同步、高效采集背散射电子图像和元素面分布图。 BEX技术能带来哪些新体验？ 此前，基于SEM的显微分析大多是静态的、逐步进行的，并且高度依赖用户经验。操作人员通常根据SE/BSE灰度图中的形貌或原子序数衬度进行样品导航，并借助EDS完成精细的成分分析。如果当前区域没有感兴趣的特征，则需要重复以上繁琐步骤。 在BEX技术的支持下，即使样品台移动过程中也能实时呈现试样的形貌、晶体取向、原子序数和元素分布等信息，让复杂样品分析极尽简便迅捷之能。只需稍作停留即可获得高分辨、高质量的元素面分布图，无论是开展更精细的分析还是继续样品导航都如丝般顺滑。 Unity BEX成像探测器 为什么BEX技术正在重新定义成像标准？ Unity BEX成像系统提供了快速、准确、高分辨率的彩色成像技术解决方案。Unity探测器融背散射电子与X射线传感器于......阅读全文
牛津仪器：背散射电子及X射线（BEX）成像
什么是BEX？ BEX是集背射电子和X射线成像于一体的新型微区分析技术，可以在SEM下同步、高效采集背散射电子图像和元素面分布图。 BEX技术能带来哪些新体验？ 此前，基于SEM的显微分析大多是静态的、逐步进行的，并且高度依赖用户经验。操作人员通常根据SE/BSE灰度图中的形貌或原子序数衬
电子探针X射线显微分析仪背散射电子及背散射电子像
背散射电子是指入射电子与样品相互作用(弹性和非 弹性散射)之后，再次逸出样品表面的高能电子，其能量接近于入射电子能量(E。)。背散射电子能量大于50eV，小于等于入射电子能量。背射电子的产额随样品的原子序数增大而增加，所以背散射电子信号的强度与样品的化学组成有关，即与组成样品的各元素平均原子序
Heuresis－HBI120－手持式背散射x射线仪器
Heuresis HBI-120是一种坚固耐用，符合人体工程学的手持式背散射x射线仪器，用户能够快速，经济高效地找到隐藏的炸药，毒品，麻醉剂和其他违禁品，可穿透超过2mm厚的钢板，即机动车车身板的厚度的两倍。 HBI-120重量只有3.0kg，利用小型化的内部120keV x射线发生器对
电子背散射衍射
20世纪90年代以来，装配在SEM上的电子背散射花样(Electron Back-scattering Patterns，简称EBSP)晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展，并已在材料微观组织结构及微织构表征中广泛应用。该技术也被称为电子背散射衍射(Electron Backscatte
X射线光电子谱
凯.西格班（Kai Manne Borje Siegbahn，1918- ）一直从事核能谱的研究。20世纪50年代，他和同事们用双聚焦磁式能谱仪研究放射性能谱。当时，往往会因为回旋加速器的原因不得不停下来等待放射性样品。能否用一种更容易掌握的代用品来激发放射性辐射呢？凯.西格班设想用X射线管使材料发
电子探针X射线显微分析仪的特征X射线和吸收电子
特征X射线 高能电子入射到样品时，样品中元素的原子内壳层(如K、L壳层) 处于激发态原子较外层电子将迅速跃迁到有空位的内壳层，以填补空位降低原子系统的总能量，并以特征X射线释放出多余的能量。 吸收电子 入射电子与样品相互作用后，能量耗尽的电子称吸收电子。吸收电子的信号强度与背散射电子的信号
Heuresis－HBI120－手持式背散射x射线仪器解决方案
euresis HBI-120手持式背散射成像仪，主要应用于公安、边防、安检、海关、边境巡逻等，能够快速找到隐藏在机动车辆、船舶、飞机、钢桶、垃圾桶、邮箱和其他隐藏位置的威胁品和违禁品，诸如爆炸物、毒品、枪支、刀具、走私品等。
X射线光电子能谱
X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技术也被称作用于化学分析的电子能谱(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS属表面分析法,它可以给出固体样品表面所含的元素种类、化学组成以及有
什么是X射线自由电子激光？
X射线自由电子激光（X-ray free electron laser, XFEL）是由直线加速器产生的X射线。XFEL是直线加速器中的电子束加速至接近光速，成为相对论电子，在波荡器作用下产生正弦运动路径，在运动轨迹切线方向产生同步辐射光，同步辐射光与电子束运动周期相同，于是得到相干叠加的光场，这种
背散射电子像的用途
可以被应用于扫描电子显微镜中，由于在扫描电子显微镜中，样品会反射部分的电子，从而能显示待检测样品表面的一些状况。
背散射电子像的用途
可以被应用于扫描电子显微镜中，由于在扫描电子显微镜中，样品会反射部分的电子，从而能显示待检测样品表面的一些状况。
电子背散射衍射的晶体分析
晶界、亚晶及孪晶性质的分析在得到EBSD整个扫描区域相邻两点之间的取向差信息后，可进行研究的界面有晶界、亚晶、相界、孪晶界、特殊界面（重合位置点阵CSL等）。相鉴定及相比计算就目前来说，相鉴定是指根据固体的晶体结构来对其物理上的区别进行分类。EBSD发展成为进行相鉴定的工具，其应用还不如取向关系测量
电子背散射衍射（EBSD）的应用
电子背散射衍射（EBSD）的应用 EBSD系统中自动花样分析技术的发展，加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成，从采集到的数据可绘制取向成像图OIM、极图和反极图，还可计算取向（差）分布函数，这样在很短的时间内就能获得关于样品的大量的晶体学信息，如：织构和取向差
X射线光电子能谱分析
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待
“欧洲X射线自由电子激光”项目动工
位于德国汉堡的“欧洲X射线自由电子激光”项目的核心工程——3条地下隧道30日正式动工，预计2014年完工，2015年可进行首次科研实验。 据德国媒体报道，欧洲X射线自由电子激光设施是世界上首个能产生高强度短脉冲X射线的激光设施。这一大型科研项目由德国牵头，欧洲11个国家共同
专家聚焦“硬X射线自由电子激光”
以“紧凑型硬X射线自由电子激光装置与应用”为主题的S23次香山科学会议日前在上海召开，杨国帧等6位院士和多位来自中国科学院，国内高等院校以及美国斯坦福大学、布鲁克海文国家实验室和欧洲X射线自由电子激光等国际国内的专家学者与会。 中国科学院物理所的杨国帧院士作了X射线自由电子激光，在科技上重要意
X射线光电子能谱（－XPS）
XPS：X射线光电子能谱分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量，而EDS不能测价态，且测试的深度为几十纳米到几微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。 原理：用X射线去辐射样品，使原子或分子
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
背散射电子像是的功能介绍
背散射电子像是在扫描电子显微镜中，通过电子枪产生的电子，经过加速电场、偏转磁场后，照射到待检测的样品表面，待检测样品会反射一部分的电子，在扫描电子显微镜的工作镜腔里的背散射电子探头就会检测到这些被反射的电子，进而在检测器上所成的像。
背散射电子像的功能介绍
背散射电子像是在扫描电子显微镜中，通过电子枪产生的电子，经过加速电场、偏转磁场后，照射到待检测的样品表面，待检测样品会反射一部分的电子，在扫描电子显微镜的工作镜腔里的背散射电子探头就会检测到这些被反射的电子，进而在检测器上所成的像。
背散射电子像的工作原理
电子照射到待测样品的过程中，样品能发射一部分电子，背散射电子探头就会检测到这些电子，从而产生相应的电信号，通过放大电路之后，在对其进行相应的转换，后在检测器上显示相应待检测样品表面的相关信息图像。
扫描电镜之背散射电子
背散射电子是指入射电子与样品相互作用(弹性和非弹性散射)之后，再次逸出样品表面 的高能电子，其能量接近于入射电子能量( E。)。背射电子的产额随样品的原子序数增大而 增加，所以背散射电子信号的强度与样品的化学组成有关，即与组成样品的各元素平均。背散射电子与二次电子的信号强度与 Z 的关系 子序
背散射电子像的工作原理
电子照射到待测样品的过程中，样品能发射一部分电子，背散射电子探头就会检测到这些电子，从而产生相应的电信号，通过放大电路之后，在对其进行相应的转换，后在检测器上显示相应待检测样品表面的相关信息图像。
电子衍射与X射线衍射有什么异同
含义不同: 电子衍射与x射线衍射一样,遵从衍射产生的必然条件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等)和系统消光规律。形成不同: 多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺,往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。当电子波（具有一定能量的电子）落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电
电子衍射与X射线衍射有什么异同
含义不同: 电子衍射与x射线衍射一样,遵从衍射产生的必然条件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等)和系统消光规律。形成不同: 多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺,往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。当电子波（具有一定能量的电子）落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电
电子衍射与X射线衍射有什么异同
含义不同: 电子衍射与x射线衍射一样,遵从衍射产生的必然条件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等)和系统消光规律。形成不同: 多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺,往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。当电子波（具有一定能量的电子）落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电
电子衍射与X射线衍射有什么异同
含义不同: 电子衍射与x射线衍射一样,遵从衍射产生的必然条件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等)和系统消光规律。形成不同: 多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺,往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。当电子波（具有一定能量的电子）落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电
电子衍射与X射线衍射有什么异同
含义不同: 电子衍射与x射线衍射一样,遵从衍射产生的必然条件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等)和系统消光规律。形成不同: 多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺,往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。当电子波（具有一定能量的电子）落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电
X射线光电子能谱仪原理
X射线光子的能量在1000～1500ev之间，不仅可使分子的价电子电离而且也可以把内层电子激发出来，内层电子的能级受分子环境的影响很小。 同一原子的内层电子结合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固体表面激发出光电子，利用能量分析器对光电子进行分析的实验技术称为光电子能谱。 XPS的原理