用于制造X射线荧光分析全反射镜的高质量表面精磨工艺
01 导言 X 射线反射镜是一种能反射和聚焦短波长 X 射线（束）的反射光学元件，广泛应用于各种分析仪器中。为了有效表征 X 射线的光学和物理性质，各种反射镜形态须达到平均粗糙度在亚纳米级的高表面精度。便携式 X 射线元素分析仪基于全反射 X 射线荧光 (TXRF) 分析技术构建，应用于需要超痕量分析和高质量反射镜等多个领域。此类反射镜呈平面形态且尺寸小，由于其成本限制，需要提高生产率。另外，镜面需高度平滑，平均粗糙度范围应控制在几纳米之内。反射镜材料可选择硅、玻璃碳和石英玻璃。上述严格要求表明，必须采用创新的新型抛光工艺，将工序数量控制在合理范围内，并在有限时间内实现规定的表面粗糙度和质量。 本文研发了一种高效抛光的新型研磨工艺，使便携式 TXRF 光谱仪专用全反射镜的实际生产成为可能。 02 研究背景 电解修整法研磨 我们将先前研究中利用电解修整法进行精磨的方法应用于反射镜抛光；采用对砂轮和工件主轴使用空气静压......阅读全文
傅里叶变换红外光谱仪基本原理
傅里叶变换红外光谱仪基本原理： 傅里叶变换红外光谱仪（Fourier Transform Infrared Spectrometer，简写为FTIR Spectrometer），简称为傅里叶红外光谱仪。它不同于色散型红外分光的原理，是基于对干涉后的红外光进行傅里叶变换的原理而开发的红外光谱仪，
冷金属的注意事项
1．板材生产上使用时。当板材温度高于150℃时，检测器安装时应距生产线2m以上。 2．检测器和反射镜应避免安装在环境光线变化强烈及有日光能直射或反射到的地方，以免产生误动作。 3．保持检测器镜头的清洁，当有积尘、雾气时应定期用擦镜纸擦拭，以保持检测器长期可靠工作。 4．需光隔离输出或有其它
阿贝比长仪光路介绍
被测物体通过反射镜9 照明，由3 倍物镜组2 成像在目镜1 的分划板上，用目镜1 进行对线。二者组成对?线显微镜，其放大率为30 倍。同时，由反射镜8 照明安装在仪器工作台上的标尺5，经物镜4 放大5 倍后成像在带有阿基米德双螺线的分划板7 上，从目镜6 中进行读数。目镜6 、分划板7 组成测微目镜
补偿式微压计的检测方法介绍
首先将微压计的微分螺杆调至零位，再通过压力计小容器端的调节螺帽调整小容器反射镜内读数尖头与液面接触的情况，当反射镜中看到尖头的尖峰和自己的影像王好相对时，微压计两端产生的压差为0。接着将压力计的两端接头用胶管与被检测压力传感器相连通过旋转微分螺杆至某高度h，在传感器两端产生压差。式中h可从微分螺
干涉显微镜的干涉原理
干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。干涉显微镜是根据光波干涉原理设计制造出来的。图1中(a)为其光学系统示意图。由光源1发出的光线经聚光镜2、滤色片3、光阑4及透镜5后成平
子发射光谱（ICP/AES）理论知识（9）——摄谱法
用摄谱法进行光谱分析时，必须有一些观测设备。常用的设备有：将摄得的谱片进行放大投影在屏上以便观察的光谱投影仪（或称映谱仪），测量谱线黑度时用的测微光度计（黑度计），以及测量谱线间距的比长仪等。一、 光谱投影仪在进行光谱定性分析及观察谱片时需用此设备。一般放大倍数为20倍左右。下图是WTY型光谱投影仪
激光干涉仪使用技巧
1、Z轴激光光路快速准直方法 用激光干涉仪进行线性测量时，Z轴测量时激光光路的准直相对X、Y轴准直来说，要困难的多。尤其是在Z轴距离较长的情况下，要保证激光光束经反射镜反射后回到激先探测器的强度满足测量对对光强的要求，准直激光光路往往需要很长时间。 Z轴激光光路快速准直方法具体调整方法如下：
激光测距的工作方法
通常精密测距需要全反射棱镜配合，而房屋量测用的测距仪，直接以光滑的墙面反射测量，主要是因为距离比较近，光反射回来的信号强度够大。与此可以知道，一定要垂直，否则返回信号过于微弱将无法得到精确距离。通常也是可以的，实际工程中会采用薄塑料板作为反射面以解决漫反射严重的问题。激光测距仪精度可达到1毫米误差，
激光测距的方法
通常精密测距需要全反射棱镜配合，而房屋量测用的测距仪，直接以光滑的墙面反射测量，主要是因为距离比较近，光反射回来的信号强度够大。与此可以知道，一定要垂直，否则返回信号过于微弱将无法得到精确距离。通常也是可以的，实际工程中会采用薄塑料板作为反射面以解决漫反射严重的问题。激光测距仪精度可达到1毫米误差，
CUV可直接安装在光源上的比色皿支架参数
技术数据 CUV-DA CUV-DA-DHS CUV-DA-HAL 适用光源 AvaLight-DHc AvaLight-LED AvaLight-XE AvaLight-DH-S AvaLight-HAL 波长
激光共聚焦显微镜基本原理
激光共聚焦显微镜基本原理 激光扫描共聚焦显微镜成像原理如图1所示，激光器发出的激光束经过扩束透镜和光束整形镜，变成一束直径较大的平行光束，长通分色反射镜使光束偏转90度，经过物镜会聚在物镜的焦点上，样品中的荧光物质在激光的激发下发射沿各个方向的荧光，一部分荧光经过物镜、长通分色反射镜、聚焦透镜、会
马赫曾德干涉仪干涉原理简介
马赫—曾德干涉仪由于不带有纤端反射镜，需要增加一个3dB分路器，如下图。光源发出的相干光经3dB分路器分为光强1：1的两束光分别进入信号臂光纤和参考臂光纤，两束光经第二个3dB分路器汇合相干形成干涉条纹。M—Z干涉仪的优点是不带纤端反射镜，克服了迈克耳逊干涉仪回波干扰的缺点，因而在光纤传感技术领
纤维内窥镜的相关介绍
纤维内窥镜系统由内窥镜镜体和冷光源两部分组成，镜体内有两条光导纤维束: 一条叫光束，它是用来将冷光源产生的光线传导到被观测的物体表面，将被观测物表面照亮；另一条叫像束，它是把数万根直径在1微米以下的光导纤维按一行一行顺序排列成一束，一端对准目镜，另一端通过物镜片对准被观测物表面，医生通过目镜能够
影响折光仪测量结果的因素有哪些
折射率是鉴定有机化合物纯度的一种简便、准确的方法。对于许多二元体系，折光率与组成存在固定关系，因而也常用作检测成分的一种参数。折光率是透明材料的重要光学性质。当被测材料的折光率大小在1.3000—1.7000时，采用全反射法测量具有操作方便迅速、环境条件要求低、不需要单色光源等优点i。阿贝折射仪
影响折光仪测量结果的因素有哪些？
折射率是鉴定有机化合物纯度的一种简便、准确的方法。对于许多二元体系，折光率与组成存在固定关系，因而也常用作检测成分的一种参数。折光率是透明材料的重要光学性质。当被测材料的折光率大小在1.3000—1.7000时，采用全反射法测量具有操作方便迅速、环境条件要求低、不需要单色光源等优点i。阿贝折射仪
影响折光仪测量结果的因素有哪些
折射率是鉴定有机化合物纯度的一种简便、准确的方法。对于许多二元体系，折光率与组成存在固定关系，因而也常用作检测成分的一种参数。折光率是透明材料的重要光学性质。当被测材料的折光率大小在1.3000—1.7000时，采用全反射法测量具有操作方便迅速、环境条件要求低、不需要单色光源等优点i。阿贝折射仪就
浅谈全内反射荧光显微术及其在生物学中的应用
摘要：全内反射荧光显微术是近年来新兴的一种光学成像技术,它利用全内反射产生的隐失场来照明样品,从而致使在百纳米级厚的光学薄层内的荧光团受到激发,荧光成像的信噪比大大提高。近年来，全内反射荧光显微术已被生物物理学家们广泛应用于单分子的荧光成像中。本文简要介绍了全内反射荧光显微技术的基本知识及其在生物学
实验室电感耦合等离子体发射光谱仪分光装置
一、平面光栅光谱仪与ICP光源配用的平面光栅光谱仪有两种，水平对称成像的艾伯特法斯梯( Ebert-Fastic)光学系统和切尔尼特纳( CzernyTurner)系统。 1)艾伯特法斯梯平面光栅光谱仪它是顺序扫描型ICP光谱仪常用的一类分光装置。这种装置是1889年首先由 Ebert(艾伯特)提出
干涉显微镜的干涉原理
干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。干涉显微镜是根据光波干涉原理设计制造出来的。图1中(a)为其光学系统示意图。由光源1发出的光线经聚光镜2、滤色片3、光阑4及透镜5后成平
干涉显微镜的结构特点
干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。干涉显微镜是根据光波干涉原理设计制造出来的。图1中(a)为其光学系统示意图。由光源1发出的光线经聚光镜2、滤色片3、光阑4及透镜5后成平
实验室检测仪器阿贝折射仪的结构特征
仪器结构仪器的光学部分由望远镜系统二个部分组成1.光棱镜 2.折射棱镜 3.摆动反光镜4.消色散棱镜组 5.望远物镜组 6.平行棱镜7.分划板 8.目镜 9.读数物镜10.反光镜 11.刻度板 12.聚光镜阿贝折射仪光棱镜(1)与折射棱镜(2)之间有微小均匀的间隙,被测液体就放在此空隙内.当光线(自
Q开关的类型和功能介绍
1、可饱和吸收体Q开关：这是属于被动Q开关。在共振腔内放可饱和吸收染料盒、色心晶体等。它们对腔内的激光透过率是光强的函数，在开始时，共振腔内的受 激辐射强度低，它们对光辐射的吸收率大，即共振腔的Q值很低；当工作物质被充分泵浦而达到激光振荡阈值时，它们发生饱和吸收，透过率上升到近100%，共 振腔的Q
新材料成功用于遥感卫星扫描镜
日前，我国在太原卫星发射中心成功将遥感二十八号卫星发射升空，由中国建筑材料科学研究总院（以下简称中国建材总院）自主研制的“轻质金属表面玻璃化反射镜”被成功应用于该卫星的光学遥感系统中。 “该种反射镜的成功应用，使我国成为世界上除美国、俄罗斯外，第三个拥有该技术完全自主知识产权的国家，成功填
飞行时间质谱仪的特点
飞行时间质谱仪 Time of Flight Mass Spectrometer (TOF) 是一种很常用的质谱仪。这种质谱仪的质量分析器是一个离子漂移管。由离子源产生的离子加速后进入无场漂移管，并以恒定速度飞向离子接收器。离子质量越大，到达接收器所用时间越长，离子质量越小，到达接收器所用时间越短
干涉显微镜的干涉原理
干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。干涉显微镜是根据光波干涉原理设计制造出来的。图1中(a)为其光学系统示意图。由光源1发出的光线经聚光镜2、滤色片3、光阑4及透镜5后成平
干涉显微镜的基本原理
干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。干涉显微镜是根据光波干涉原理设计制造出来的。图1中(a)为其光学系统示意图。由光源1发出的光线经聚光镜2、滤色片3、光阑4及透镜5后成平
阿贝折射仪的仪器结构
仪器的光学部分由望远镜系统二个部分组成1.进光棱镜 2.折射棱镜 3.摆动反光镜4.消色散棱镜组 5.望远物镜组 6.平行棱镜7.分划板 8.目镜 9.读数物镜10.反光镜 11.刻度板 12.聚光镜阿贝折射仪进光棱镜（1）与折射棱镜（2）之间有一微小均匀的间隙,被测液体就放在此空隙内.当光线（自然
飞行时间质谱仪工作原理及优缺点分析
飞行时间质谱仪 Time of Flight Mass Spectrometer (TOF) 是一种很常用的质谱仪。这种质谱仪的质量分析器是一个离子漂移管。由离子源产生的离子加速后进入无场漂移管，并以稳定速度飞向离子接收器。离子质量越大，到达接收器所用时刻越长，离子质量越小，到达接收器所用时
Q开关的主要种类
1、可饱和吸收体Q开关：这是属于被动Q开关。在共振腔内放可饱和吸收染料盒、色心晶体等。它们对腔内的激光透过率是光强的函数，在开始时，共振腔内的受 激辐射强度低，它们对光辐射的吸收率大，即共振腔的Q值很低；当工作物质被充分泵浦而达到激光振荡阈值时，它们发生饱和吸收，透过率上升到近100%，共 振腔的Q
傅立叶变换红外光谱仪的基本原理
傅立叶变换红外光谱仪基本原理 傅立叶变换红外光谱仪（Fourier Transform Infrared Spectrometer，简写为FTIR Spectrometer）,简称为傅立叶变换红外光谱仪（如图1）。它不同于色散型红外分光的原理，是基于对干涉后的红外光进行傅立业变换的原理而开