天岳先进董事长宗艳民:夯实技术实力助力我国半导体产业振兴
1月5日,记者从天岳先进获悉,公司董事长宗艳民近日做客《沪市汇·硬科硬客》与华润微总裁李虹、芯联集成总经理赵奇一起探讨“换道超车第三代半导体”话题。 业界认为,全球第三代半导体行业正处于起步阶段,并在加速发展。与硅基半导体相比,中国企业在第三代半导体领域和国际处于同一起跑线,有望实现换道超车。而第三代半导体技术难点主要在材料和制造工艺。其中,半导体衬底材料是第三代半导体行业发展的基石。 宗艳民说:“公司成立以来,就集中精力做好一件事——那就是不仅要实现衬底材料的产业化,还要赶超海外水平。这个目标我们已经做到了。” 目前,天岳先进已经成为全球少数能批量供应高质量4英寸和6英寸半绝缘型碳化硅衬底,以及6英寸导电型碳化硅衬底的企业,并实现了8英寸导电型碳化硅衬底的制备。公司产品不仅满足了国内需求,还实现了海外出口,公司已成为英飞凌、博世等海外头部企业的主要供货商。 产业结构的低碳转型,给碳化硅器件规模化......阅读全文
半导体设备展2024年深圳国际半导体设备展会官网|《入口》
深圳电子元器件展,电子仪器仪表展,深圳电子仪器仪表展,电子元器件展,深圳电子设备展,电子设备展,电子元器件展览会,电子仪器展,深圳电子仪器展,电仪器展览会,深圳继电器展,深圳电容器展,深圳连接器展,深圳集成电路展2024中国(深圳)国际半导体与封装设备展览会2024 China (Shenzhen)
含杂质半导体的定义
相对于无杂质半导体,含有杂质的半导体叫做含杂质半导体(extrinsic semiconductor)。
半导体材料的基本特性
自然界的物质、材料按导电能力大小可分为导体、半导体和绝缘体三大类。半导体的电阻率在1mΩ·cm~1GΩ·cm范围(上限按谢嘉奎《电子线路》取值,还有取其1/10或10倍的;因角标不可用,暂用当前描述)。在一般情况下,半导体电导率随温度的升高而降低。
半导体ATE设备的作用
在元器件的工艺流程中,根据工艺的需要,存在着各种需要测试的环节。目的是为了筛选残次品,防止进入下一道的工序,减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握,这些参数可以是现实物理世界中的光,电,波,力学等各种参量,但是,目前大多数常见的是电子信号的居多。ATE设计工程师们要
稀磁性半导体的应用
稀磁性半导体是指非磁性半导体中的部分原子被过渡金属元素取代后形成的磁性半导体,因兼具有半导体和磁性的性质,即在一种材料中同时应用电子电荷和自旋两种自由度,因而引起广泛关注,尚处于研究阶段。
半导体材料的基本特性
自然界的物质、材料按导电能力大小可分为导体、半导体和绝缘体三大类。半导体的电阻率在1mΩ·cm~1GΩ·cm范围(上限按谢嘉奎《电子线路》取值,还有取其1/10或10倍的;因角标不可用,暂用当前描述)。在一般情况下,半导体电导率随温度的升高而降低。
半导体材料的应用介绍
制备不同的半导体器件对半导体材料有不同的形态要求,包括单晶的切片、磨片、抛光片、薄膜等。半导体材料的不同形态要求对应不同的加工工艺。常用的半导体材料制备工艺有提纯、单晶的制备和薄膜外延生长。所有的半导体材料都需要对原料进行提纯,要求的纯度在6个“9”以上,最高达11个“9”以上。提纯的方法分两大类,
半导体控温系统说明
随着航空、航天、能源工业等领域对电子产品质量的要求日益提高,电子产品的可靠性问题受到了越来越广泛的重视。电子产品在使用过程中会遇到不同的环境温度条件, 在热胀冷缩的应力作用下, 热匹配性能差的电子元器件就容易失效,致使电子产品故障,造成巨大的人力和财力损失。电子元器件的老化和测试就是仿照或者等效产
半导体特性测试仪
半导体特性测试仪是一种用于化学工程领域的物理性能测试仪器,于2016年05月01日启用。 技术指标 支持多达9个精密直流源测量单元,能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压。 主要功能 参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度,同时继承了嵌入式Windows操作系统和
无杂质半导体的定义
无杂质半导体(intrinsic semiconductor,亦称作i型半导体)是指未掺入杂质的半导体。半导体制作过程中的一个重要步骤就是掺入杂质(doping)。
元素半导体的基本特性
典型的半导体材料居于Ⅳ-A族,它们都具有明显的共价键;都以金刚石型结构结晶;它们的带隙宽度随原子序数的增加而递减,其原因是其键合能随电子层数的增加而减小。V-A族都是某一种同素异形体具有半导体性质,其带隙宽度亦随原子序数的增加而减小。
半导体生产流程
半导体生产流程 所谓的半导体,是指在某些情况下,能够导通电流,而在某些条件下,又具有绝缘体效用的物质;而至于所谓的IC,则是指在一半导体基板上,利用氧化、蚀刻、扩散等方法,将众多电子电路组成各式二极管、晶体管等电子组件,作在一微小面积上,以完成某一特定逻辑功能(例如:AND、OR、NAND等),进而
半导体材料的早期应用
半导体的第一个应用就是利用它的整流效应作为检波器,就是点接触二极管(也俗称猫胡子检波器,即将一个金属探针接触在一块半导体上以检测电磁波)。除了检波器之外,在早期,半导体还用来做整流器、光伏电池、红外探测器等,半导体的四个效应都用到了。从1907年到1927年,美国的物理学家研制成功晶体整流器、硒整流
半导体材料的特性参数
半导体材料虽然种类繁多但有一些固有的特性,称为半导体材料的特性参数。这些特性参数不仅能反映半导体材料与其他非半导体材料之间的差别,而且更重要的是能反映各种半导体材料之间甚至同一种材料在不同情况下特性上的量的差别。常用的半导体材料的特性参数有:禁带宽度、电阻率、载流子迁移率(载流子即半导体中参加导电的
电子型半导体的概念
也称为电子型半导体。N型半导体即自由电子浓度远大于空穴浓度的杂质半导体。
半导体的光电导简介
半导体的光电导(photo conductivity of semiconductor)是指光照射半导体使电导增大的现象。本征半导体的电导能力(电导率)很小,经光照射后半导体内部产生光生载流子(电子或空穴),使其导电能力加大。光照射前后半导体电导的改变与光的波长、强度以及半导体中杂质缺陷态的能级
半导体集成电路概述
半导体集成电路(英文名:semiconductor integrated circuit),是指在一个半导体衬底上至少有一个电路块的半导体集成电路装置。 半导体集成电路是将晶体管,二极管等等有源元件和电阻器,电容器等无源元件,按照一定的电路互联,“集成”在一块半导体单晶片上,从而完成特定的电路
影响半导体导电的因素
主要是掺入的杂质种类和数量、以及工作温度,从而影响到载流子浓度和迁移率,结果使得半导体的电导率发生变化。
常见的半导体材料介绍
常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。
半导体器件的开关特性
MOS的基本元件是MOS管。MOS管是一种电压控制器件,它的3个电极分别称为栅极(G)、漏极(D)和源极(S),由栅极电压控制漏源电流。MOS管根据结构的不同可分为P型沟道MOS管和N型沟道MOS管两种,每种又可按其工作特性进一步分为增强型和耗尽型两类。 1、静态特性 MOS管作为开
元素半导体的结构特性
元素半导体(element semiconductor)是由同种元素组成的具有半导体特性的固体材料,即电阻率约为10-5~107Ω·cm,微量杂质和外界条件变化都会显著改变其导电性能的固体材料。周期表中,金属和非金属元素之间有十二种具有半导体性质的元素,硼(B)、金刚石(C)、硅(Si)、锗(Ge)
半导体材料的早期应用
半导体的第一个应用就是利用它的整流效应作为检波器,就是点接触二极管(也俗称猫胡子检波器,即将一个金属探针接触在一块半导体上以检测电磁波)。除了检波器之外,在早期,半导体还用来做整流器、光伏电池、红外探测器等,半导体的四个效应都用到了。从1907年到1927年,美国的物理学家研制成功晶体整流器、硒整流
半导体间电荷传输方向
2008年德国慕尼黑大学的Dieter Gross等人通过荧光技术,证明了TypeII型CdTe和CdSe半导体纳米晶复合材料具有高效的电荷分离效率,同时间接的证明了Type II型异质结的电荷分离方向。(NanoLett., 2008, 8 (5), pp 1482–1485) 2010年在
半导体设备真空与检漏
作者:申承志 中国电子科技集团公司第十三研究所 基于实际应用, 介绍了半导体设备真空结构和真空室常用部件, 讲述了He 质谱检漏仪的使用方法。总结了真空检漏的经验, 阐述了微漏难检的现状。分析了磁控溅射台和ICP 真空故
非晶半导体的定义
非晶半导体又称无定形半导体或玻璃半导体,非晶态固体中具有半导电性的一类材料。具有亚稳态结构,组成原子的排列是短程有序、长程无序,键合力未发生变化,只是键长和键角略有不同。按键合力性质有共价键半导体,包括四面体的Si、Ge、SiC、ZnSn、GaAs、GaSb等,“链状”的S、Se、Te、As2Se3
半导体的光电导概述
半导体的 光电导是指半导体受光照而引起电导率的改变。最早是1873年W.史密斯在 硒上发现的。 20世纪的前40年内,又先后在 氧化亚铜、 硫化铊、 硫化镉等 材料中发现,并利用这 现象制成几种可用作光强 测量及 自动控制的 光电管。自40年代开始,由于 半导体物理学的发展,先是 硫化铅的,尔后
ITECH半导体测试方案解析
前言全球功率半导体市场风起云涌,行业整合步伐加速。作为电力控制/节能减排核心半导体器件,功率半导体器件广泛应用于从家电、消费电子到新能源汽车、智能电网等诸多领域。随全球半导体产业洗牌大势,近年来功率半导体产业整合步伐急速提升,新能源全产业链势头正旺,IGBT等高端器件迎来需求爆发期。功率器件
半导体参数测试仪
半导体参数测试仪是一种用于工程与技术科学基础学科领域的仪器,于2016年12月08日启用。 技术指标 1.小电流i-v : 超低漏电流(fA),最 大电压200V,最大电流1A; 2.高电压I-V : 最大电压1000V 3.通用I-V : 适合于大多数参数测试 4.c-v单元: 能够在1M
半导体是何时发现的?
1833年,英国科学家电子学之父法拉第最先发现硫化银的电阻随着温度的变化情况不同于一般金属,一般情况下,金属的电阻随温度升高而增加,但法拉第发现硫化银材料的电阻是随着温度的上升而降低。这是半导体现象的首次发现。 不久,1839年法国的贝克莱尔发现半导体和电解质接触形成的结,在光照下会产生一个电压,这
半导体探测器简介
半导体探测器是以半导体材料为探测介质的辐射探测器。最通用的半导体材料是锗和硅,其基本原理与气体电离室相类似,故又称固体电离室。半导体探测器的基本原理是带电粒子在半导体探测器的灵敏体积内产生电子-空穴对,电子-空穴对在外电场的作用下漂移而输出信号。常用半导体探测器有 P-N结型半导体探测器、 锂漂