中国科学院：X射线晶体谱仪研发获进展
近期，中国科学院近代物理研究所原子物理中心科研人员自主研发了用于内壳多空穴离子X射线精细结构测量的宽带高分辨晶体谱仪，相关成果于4月3日发表在光谱学期刊Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy上。解析内壳多空穴离子的X射线精细结构不仅是研究量子电动力学、理解量子多体相互作用的有效途径，同时在天体物理、高能量密度物理、激光等离子体物理等诸多研究领域有着十分重要的意义和潜在应用价值。常规X射线探测器（如高纯锗、硅漂移探测器）虽然有很高的测量带宽，但由于受电子-空穴对统计精度的影响，其能谱分辨力仅在102左右，无法解析X射线的精细结构。近代物理所科研人员提出了一种针对多空穴离子X射线谱特点的弯晶谱仪几何构型，并从数学角度证明了其可行性，该构型在保证测量带宽的同时不损失谱仪分辨力。基于上述构型，近代物理所团队自主研发了晶体谱仪，在0.6-18 keV的动态范围内实现了0.25-1.2......阅读全文
X射线能谱仪和波谱仪的优缺点
能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪，其关键部件是Si(Li)检测器，即锂漂移硅固态检测器，它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。Si(Li)能谱仪的优点 分析速度快 能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号，故可在几分钟内分析和
X射线光电子能谱仪原理
X射线光子的能量在1000～1500ev之间，不仅可使分子的价电子电离而且也可以把内层电子激发出来，内层电子的能级受分子环境的影响很小。 同一原子的内层电子结合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固体表面激发出光电子，利用能量分析器对光电子进行分析的实验技术称为光电子能谱。 XPS的原理
X射线能谱仪的使用原理及应用
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线能谱仪的简介 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法是在
x射线单晶体衍射仪四圆衍射仪法
四圆衍射仪法 常用闪烁计数器作探测器。入射光和探测器在一个平面内（称 赤道平面）, 晶体位于入射光与探测器的轴线的交点，探测器可在此平面内绕交点旋转，因此只有那些法线在此平面内的晶面族才可能通过样品和探测器的旋转在适当位置发生衍射并被记录。如何让那些法线不在赤道平面内的面族也会发生衍射并能被记
用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱
利用最新研制的小型化透射光栅谱仪在"神光Ⅲ"原型实验装置上测量了激光注入金腔靶时激光注入口的X射线能谱,首次实现了在上极点附近对柱腔注入口辐射的测量,且实现对X射线的二维空间分辨和谱分辨的测量。改进后的透射光栅谱仪成像系统首次使用一种错位排布的狭缝阵列结构来解决因谱仪尺寸减小带来的能谱分辨问题,并
用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱
在星光激光装置上利用波长为 0 3 5 μm的激光辐照金箔靶 ,在金箔靶背侧用透射光栅配X射线chargecoupleddevice系统测量了其发射的软X射线能谱 ,并与用亚千能谱仪测量的结果进行了比较 ,获得了比较一致的结果 .测量结果表明 ,0 17μm厚度的金箔靶背侧的X射线能谱偏离平衡辐射
X射线能谱数据处理
本文提出运用FFT,对双路实测能谱信息在变换域中加以滤波修正,同时完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EM专利程序,并与诸元素特征峰及背底的谱分析相比较,获取滤波修正频窗。文中编制了双路能谱同时作滤波修正程序。试验表明:此法实现了数据压缩及零相位校正,增快了滤波速度,减小了相位滞移量,提高了分
高能脉冲X射线能谱测量
给出了高能脉冲X射线能谱测量的基本原理及实验结果.采用Monte-Carlo程序计算了高能光子在能谱仪中每个灵敏单元内的能量沉积,利用能谱仪测量了"强光Ⅰ号"加速器产生的高能脉冲X射线不同衰减程度下的强度,求解得到了具有时间分辨的高能脉冲X射线能谱,时间跨度57ns,时间步长5ns,光子的最高能量3
X射线能谱定性分析
X射线能谱定性分析快速有效，是电子探针和扫描电镜分析必须的组成部分。用X射线能谱仪测量试样特征X射线全谱中各谱峰的能量值，计算机释谱得出试样的元素组成。X射线能谱定性分析要注意背景的判别、峰的位移、峰的重叠、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干扰峰等问题，以免导致错误的分析结果。(1)背景的判别在使用X射线
DPF脉冲X射线能谱测量
采用滤光法对ＤＰＦ脉冲Ｘ射线源装置的Ｘ射线能谱进行了测量，取得了较好的结果，为辐射效应环境测量提供了一种手段。
X射线能谱测量与模拟
1895年,德国科学家伦琴发现了X射线,开辟了一个崭新的、广阔的物理研究领域。其中,针对电子打靶产生的韧致辐射X射线的研究,是X射线研究领域的一个重要课题。本文在国内外针对X射线能谱测量与解析的基础上,利用高纯锗(HPGe)探测器使用直接测量法与间接测量法对钨靶X射线与钼靶X射线能谱进行了测量。工作
关于X射线单晶体衍射仪的实验仪器要求
若将一束单色X射线射到一粒静止的单晶体上，入射线与晶粒内的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少数的晶面能符合布拉格公式而发生衍射。如何才能使各晶面族都发生衍射呢？最常用的方法就是转动晶体。转动中各晶面族时刻改变着与入射线的交角，会在某个时候符合布拉格方程而产生衍射。目前常用的收集单晶体衍射数据
x射线单晶体衍射仪对实验的基本要求
对实验的基本要求 要按式来求解晶体结构，就要有尽可能多的衍射的FHKL，而且其值要准确, 这样所得的ρ(x,y,z)分辨率就高，求得的结构就准确。一粒小晶体衍射的X射线是射向整个空间的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的强度一般比较低，不易测得。如何在三维空间测得尽可能多的，尽可能准确的
多晶体衍射仪的X射线发生器相关介绍
X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及各种保护电路等部分组成。 现代衍射用的X射线管都属于热电子管，有密封式和转靶式两种。前者最大的功率在2.5KW以内，视靶材料的不同而异；后者是为获得高强度X射线而设计的，一般功率在10KW以上，目前常用的有9KW、12KW和18KW几种
关于X射线单晶体衍射仪的基本信息介绍
X射线单晶体衍射仪(X-ray single crystal diffractometer)。本仪器分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即
X射线单晶体衍射仪的反常散射法介绍
晶体衍射中有一条弗里德耳定律，就是说不论晶体中是否存在对称中心，在晶体衍射中总存在着对称中心，也即有FHKL=FHKL。但是当使用的X射线波长与待测样品中某一元素的吸收边靠近时，就不遵从上述定律，也即FHKL≠FHKL。这是由电子的反常散射造成的，利用这一现象可以解决待测物的相角问题。一般，这一
x射线单晶体衍射仪实验回摆法相关介绍
回摆法 回摆法的装置样品的转轴垂直于入射单色X射线，围绕转轴安装园筒状底片或在晶体后方，垂直于入射线安装平板底片。若晶体的某一晶轴（如a或b, c）与转轴平行，则在园筒状底片上会出现平行直线，平板底片则出现上下对称的 双曲线。若让晶体在一个不大的角度范围（如10）内做摆动，则能产生的衍射数量
1650万，－南京大学采购色质联用、X射线能谱仪、X射线衍射仪等
近日，南京大学就“南京大学苏州校区科研仪器共享中心高效液相色谱质谱联用仪采购项目”、“南京大学苏州校区科研仪器共享中心多功能X射线光电子能谱仪采购项目”、“南京大学苏州校区科研仪器共享中心X射线衍射仪(基础版)采购项目”、“南京大学苏州校区科研仪器共享中心X射线单晶衍射仪采购项目”发布公开招标公
1650万，－南京大学采购色质联用、X射线能谱仪、X射线衍射仪等
高等学校具有学科和人才方面的优势，因而积聚着科学技术的巨大潜力，是发展科学技术的重要基地。它不仅提供了大量的科研成果，还直接影响着科研与开发的质量，对国家的政治、经济、文化和教育各个方面起着保证和平衡的作用，在科学研究事业中占有极为重要的地位。 近日，南京大学就“南京大学苏州校区科研仪器共享中
软X射线能谱仪与透射光栅谱仪测量结果的对比
对软 X射线谱仪和透射光栅谱仪的测量结果进行了对比。它们的回推谱形大致符合 ,只是透射光栅谱仪的复原谱的 N带相对于 O带太小。其原因可能是 X射线 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,对 N带吸收较多。经过对透射光栅谱进行吸收补偿后 ,两种谱仪的复原谱基本一致。
X射线晶体学的研究对象和目的
X射线晶体学是一门利用X射线来研究晶体中原子排列的学科。更准确地说，利用电子对X射线的散射作用，X射线晶体学可以获得晶体中电子密度的分布情况，再从中分析获得原子的位置信息，即晶体结构。对很多余结构相关的问题如整体折叠、配体或底物结合、作用的原子具体信息提供可靠的答案。运用X射线晶体学可以了解大分子如
x射线单晶体衍射仪单晶体结构分析实验方法的发展
单晶体结构分析实验方法的发展 目前的实验室单晶体结构分析方法对于测定小分子的单晶体结构已经是相当完美了, 但对于巨大的生物大分子就显得软弱无力，主要是光源强度不够，光的平行性不良，波长又不好调。目前主要要依靠 同步辐射作为 X射线源。我国二个 同步辐射光源之一的位于合肥的国家同步辐射实验室（
X射线衍射仪
产品型号: X'Pert PRO生产厂家:荷兰帕纳科公司PANalytical B.V.（原飞利浦分析仪器）仪器介绍:X'Pert PRO X射线衍射仪采用陶瓷χ光管、DOPS直接光学定位传感器精确定位和最优化的控制台及新型窗口软件。采用模块化设计，可针对不同的要求采用最优的光学系统
X射线谱仪
X射线谱仪简介编辑X射线谱仪设计有20路探测器，是此次载荷中探测器路数最多的系统，为有效预防多路探测器之间相互干扰，在硬/软件设计中还专门设计了“隔离”探测器单元功能及对太阳监测器计数率的调阈指令，以提高探测器在轨长期工作的可靠性 [1] 。X射线谱仪指向月面，由16路硬X射线半导体探测器阵列，4
X射线衍射仪
特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线衍射仪的英文名称是X-ra
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
X射线能谱仪的现状和发展趋势
1984年本文作者在参加了匹兹堡会议以后,曾在本刊发表的文章中预测X射线能谱仪已经进入了一个新的发展阶段。除了元素分析以外,能谱仪将不断地开发新的综合的显微分析功能,而图象处理和图象分析是其一个主要方面。自此以后,在中国于1985、1987和1989年召开了三届北京分析测试学术报告和展览会(BCEI
多功能X射线光电子能谱仪
多功能X射线光电子能谱仪是一种用于物理学、生物学、基础医学、临床医学领域的分析仪器，于2018年1月22日启用。 技术指标 1. 分析室真空度：5×10-10 mbar 2. 最佳能量分辨率：0.43eV 3. 最小空间分辨率：1μm 4. Ag的3d5/2峰半峰宽为1eV时电子计数率