半导体特性分析系统Keithley4200ASCS
仪器名称：半导体特性分析系统-Keithley 4200A-SCS仪器编号：20001001产地：美国生产厂家：keithley型号：4200A出厂日期：购置日期：2020-04-24所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：高精尖中心一层实验室固定电话：13910754014固定手机：13910754014固定email：xugao@tsinghua.edu.cn联系人：高旭（010-62799552,13910754014,xugao@tsinghua.edu.cn）分类标签：集成电路技术指标：中功率I-V测试模块4个；电流前置放大器4个；脉冲I-V测试模块2个远端放大/切换模块4个；C-V测试模块1个。最大电压源输出：210V；电压源设定最小分辨率：5μV；最大电流输出：100mA；电流源设定最小分辨率：1.5fA；电压测量范围：1μV-200V；电流测量范围：0-100mA；电流测量最小分辨率：0......阅读全文
半导体特性分析系统Keithley－4200ASCS
仪器名称：半导体特性分析系统-Keithley 4200A-SCS仪器编号：20001001产地：美国生产厂家：keithley型号：4200A出厂日期：购置日期：2020-04-24所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：高精尖中心一层实验室固定电话：13910754014固定手机：