技术盛宴、百家争鸣——2024年度北京市电子显微学年会成功举办
2024年12月18日，由北京理化分析测试技术学会电子显微学专业委员会主办的2024年度北京市电子显微学年会在中复大厦成功举办。会议旨在为推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流，来自高校、科研院所、仪器厂商等多家单位近400位专家、学者等业内人士出席本次会议。会议现场 本次会议邀请国家纳米中心郑强研究员、中科院物理所张中山教授、北京大学胡迎春高工、北京师范大学李永良副研究员等多位国内著名专家学者作先进的显微学发展前沿报告，牛津仪器、日立、国仪量子、赛默飞等多家知名电镜仪器厂商参展本次会议，并为与会人士介绍了电镜产品新技术、新功能，展示了各家最新的仪器产品。 张德添、何其华、孙异临、邓平晔、郑爱国、张丽娜、周涛、宋敬东8位专家共同主持了本次会议。报告人：清华大学 谷 林 教授报告题目：还原论下的电化学储能材料 报告讲述了材料科学定量化的发展历程，......阅读全文
球差电镜分析
1 球差电镜的原理 球差是像差的一种，是影响TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，无论是光学透镜还是电磁透镜，其透镜系统都无法做到完美。光学透镜中，可通过将凸透镜和凹透镜组合使用来减少由凸透镜边缘汇聚能力强中心汇聚能力弱所致的所有的光线(电子)无法汇聚到
快速了解球差电镜区别
相比传统TEM，由于AC-TEM有效削减了像差，AC-TEM分辨率显著提高。传统TEM、STEM的分辨率在纳米、亚纳米级，而AC-TEM和AC-STEM的分辨率则能够达到埃级和亚埃级别！分辨率的提高意味着能够对材料进行更精细更准确的结构表征。
球差校正透射电镜
电子显微镜的分辨本领由于受到电子透镜球差的限制，人们力图像光学透镜那样来减少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，对于常用的无空间电荷且不随时间变化的旋转对称电子透镜，球差恒为正值。在40年代由于兼顾电子物镜的衍射和球差，电子显微镜的理论分辨本领约为0.5nm。校正电子透镜的主要像
球差校正电镜的优势：
球差校正电镜的优势：ACTEM或者ACSTEM的最大优势在于球差校正削减了像差，从而提高了分辨率。传统的TEM或者STEM的分辨率在纳米级、亚纳米级，而ACTEM的分辨率能达到埃级，甚至亚埃级别。分辨率的提高意味着能够更“深入”的了解材料。例如：最近单原子催化很火，我们公众号也介绍了大量相关工作。为
球差校正透射电镜简介
1，前言 球差校正透射电镜(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高的分辨率配合诸多的分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。这里
球差校正透射电镜简介
1，前言球差校正透射电镜(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高的分辨率配合诸多的分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。这里将给大家
球差色差校正透射电镜
球差色差校正透射电镜：球差校正器经过多年的发展，在最新的五重球差校正器的帮助下，人类成功地将球差对分辨率的影响校正到小于色差。只有校正色差才能进一步提高分辨率，于是球差色差校正透射电镜就诞生了。我们欣赏一下放置在德国Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO双球差
电镜的球差和畸变及其形成原因
1、球差：由于电子束光源通过透镜受到偏转，通过样品，从物平面向下发射，形成物点孔径角。从物点发出的射线，到达下一级透镜又被聚集。如果透镜有缺陷或孔径角太大，则靠近光轴的射线和远离光轴的射线，受到电磁场的作用就会不同，这些射线在光轴上会聚的位置不同，结果远离光轴的射线就会在像面上形成一个最小模糊圈。此
球差校正透射电镜ABC速成知识
了解球差校正透射电镜，从这里开始前言 球差校正透射电镜(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高的分辨率配合诸多的分析组件使ACTEM成为深入研究纳
一文读懂球差透射电镜
01——球差电镜的原理及分类球差是像差的一种，是影响TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，无论是光学透镜还是电磁透镜，其透镜系统都无法做到完美。光学透镜中，可通过将凸透镜和凹透镜组合使用来减少由凸透镜边缘汇聚能力强中心汇聚能力弱所致的所有的光线(电子)无法会聚到一
如何使用扫描电镜对磁性微球进行拍照
磁性样品，尤其是微粉样品的扫描电镜分析确实是个问题。能够不做，尽量不要用电镜做，因为损伤电镜的可能性非常大。如果非做不可，前提是必须要有足够的把握将样品固定好。对于磁性微粉，这是很难的。既要固定，又要不影响形貌观察。因为不知道你的磁性微粉的具体情况，所以也无法给出更多的制样细节。建议：1.取样量尽可
新一代电子显微镜发展趋势
一、高性能场发射枪电子显微镜日趋普及和应用。场发射枪透射电镜能够提供高亮度、高相干性的电子光源。因而能在原子--纳米尺度上对材料的原子排列和种类进行综合分析。九十年代中期，*只有几十台；现在已猛增至上千台。我国目前也有上百台以上场发射枪透射电子显微镜。常规的热钨灯丝（电子）枪扫描电子显微镜，分辨率z
了解球差校正透射电镜，从这里开始
前言：球差校正透射电镜(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高分辨率配合诸多分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。本期我们将给大家介
何时才需要用球差校正电镜呢？
何时才需要用球差校正电镜呢？虽然现在ACTEM和ACSTEM正在“大众化”，但是并非一定要用这么高大上的装备。如果你想观察你的样品的原子级结构并希望知道原子的元素种类（例如纳米晶体催化剂等），ACSTEM将会是比较好的选择。如果你想观察样品的形貌和电子衍射图案或者样品在TEM中的原位反应，那么物镜校
超3.3亿！多高校发布电镜类仪器招标公告
近日，多高校发布采购电镜类仪器招标公告。据分析测试百科网粗略统计，12月初开始各高校电镜类仪器累计采购预算金额已超过3.3亿。详细信息如下表：序号采购单位采购项目名称采购品目采购需求概况预算金额(万元)预计采购日期备注1上海交通大学A02100301显微镜场发射扫描电子显微镜详见项目详情400202
TEM球差
球差不完美透镜导致的直接结果就是引入了让显微学者最头疼的球差。电子的聚焦是靠洛伦兹力来实现的，在洛伦兹力的作用下，电子以旋进的方式聚焦。在TEM里有一条光轴，就和光学显微镜中的光轴一样，偏离光轴时，透镜对光的聚焦能力和靠近光轴的聚焦能力是不同的。当然了，原则上是希望穿过透镜的光都能聚焦到焦点上。这点
分辨率最高可达0.6－nm！国仪量子超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X
#NEWS超高分辨场发射电镜发布 近日，国仪量子在2023全国电镜年会期间发布了全新的超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X，分辨率达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV，进一步夯实了国产高端电镜发展的基础。深度挖掘用户需求 全新升级实现超强性能 国仪量子在服务客户
扫描电镜
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电镜
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电镜
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
扫描电镜
扫描电子显微镜(SEM)是1965年以后才迅速发展起来的新型电子仪器。其主要特点可归纳为：①仪器分辨率高；②仪器的放大倍数范围大，一般可达15～180000倍，并在此范围内连续可调；③图像景深大，富有立体感；④样品制备简单，可不破坏样品；⑤在SEM上装上必要的专用附件——能谱仪(EDX)，以实现一机
天美受邀参加ACCSI2011，喜获优秀产品大奖
2011年4月26日，由中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会分析仪器分会主办，中国分析测试协会协办的中国科学仪器行业目前最高级别的峰会—— “2011中国科学仪器发展年会(ACCSI 2011) ” 在北京京仪大酒店隆重召开。天美(中国)科学仪器有限公司受邀参加，并入围2010年度最具
扫描电镜和透射电镜的区别
电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中，两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。 在这篇博客中，将简要描述他们的相似点和不同点。 扫描电镜和透射电镜的工作原理 从相似点开始, 这两种设
三种常见电子显微镜透射电镜－、扫描电镜、反射电镜介绍
常见的类型主要有3种：透射电镜 TEM、扫描电镜SEM以及反射电镜REM。一、透射电子显微镜 TEM透射电子显微镜是电子显微镜的原始类型，它的主要原理是将高压电子束引导至样品以照亮样品并产生样品的放大图像。由于透射电镜具有原位观察、高分辨显像等功能，适宜观察光学显微镜观察不到的细微结构。比如：细胞、
扫描电镜SEM扫描电子显微镜JSMit100（A）
扫描电子显微镜JSM-it100(A)主要特长标准配置EDS分析功能的分析型扫描电镜 标准配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不仅能获取高分辨率的图像，还采用了无需液氮制冷的zui新EDS检测器 (DRY SD)
扫描电镜SEM扫描电子显微镜JSMit100（A）
标准配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不仅能获取高分辨率的图像，还采用了无需液氮制冷的EDS检测器 (DRY SD)，能够进行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭载的大型全对中形样品台可以对应各种样品。 电子光学系统
扫描电镜原理
扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相时间太长，所以实用价值不大。经过各国科学工作者的努力，尤其是随着电子工业技术水平的不断发展，到1956年开始生产商品扫描电镜。近数十年来，扫描电镜已广泛地应
扫描电镜简介
扫描电子显微镜 (scanning electron microscope, SEM) 是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器。具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富, 几乎不损伤和污染原始样品以及
扫描电镜技术
扫描电镜技术 扫描电镜是用极细的电子束在样品表面扫描，将产生的二次电子用特制的探测器收集，形成电信号运送到显像管，在荧光屏上显示物体。(细胞、组织)表面的立体构像，可摄制成照片。 扫描电镜样品用戊二醛和饿酸等固定，经脱水和临界点干燥后,再于样品表面喷镀薄层金膜，以增加二波电子数。 电子显微镜下的纤维
扫描电镜介绍
扫描电镜全称为扫描电子显微镜，是自上世纪60年代作为商用电镜面世以来迅速发展起来的一种新型的电子光学仪器。由于它具有制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大等特点，故被广泛地应用于化学、生物、医学、冶金、材料、半导体制造、微电路检查等各个研究领域和工业部门。 扫描电镜的制造是依据电子与