2974万！湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台采购LCMS、XRD、AAS等
一、采购项目基本信息1、采购项目名称：湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台项目2、政府采购计划编号：湘财采计[2025]000641号3、委托代理编号：2954-20250403-5254、采购项目预算：28,740,714元支持预付款，预付比例：%5、本项目对应的中小企业划分标准所属行业：6、评标方法： 最低价法 综合评分法7、合同定价方式： 固定总价 固定单价 成本补偿 绩效激励8、合同履行期限：详见招标文件9、本项目分阶段要求投标人提供以下保证：投标保证金：采购项目预算的 %；履约保证金：中标金额的 %；质量保证金：合同金额的 %；二、采购人的采购需求包名称最高限价（元）标的名称数量标的预算（元）包19,787,488X射线衍射仪13,390,000电子顺磁共振波谱仪13,099,488纳米力学测试系统12,520,000全自动气......阅读全文
原子吸收AAS元素分析方法碲Te
1. 基本特性: 原子量 127.6 电离电位 9.01 （ev） 离解能 2.7 （ev）2. 样品处理: HNO3; 3. 分析条件 分析线 214.3 nm 狭缝 0.2 nm （火焰） 0.4 nm （石墨炉） 空心阴极灯电流（w） 2.8 mA
原子吸收AAS元素分析方法锡Sn
1. 基本特性: 原子量 118.69 电离电位 7.3 （ev） 离解能 5.6 （ev）2. 样品处理: HCL; HCL+HNO3; HF+HNO3; HF+HNO3+HCLO4; Na2O2+NaOH;NaBO3+NaOH; NaCO3+Na2B4O7.3. 分析条件 分
原子吸收AAS元素分析方法钾K
1. 基本特性: 原子量 39.10 电离电位 4.3 （ev） 离解能 （ev）2. 样品处理: HF+H2SO4; HCLO4; HF+H2SO4+HNO3;3. 分析条件 分析线： 766.5 nm 狭缝： 0.4 nm 空心阴极灯电流（w） 1.0 mA4. 干扰
原子吸收AAS元素分析方法锂Li
原子吸收AAS--元素分析方法--锂Li1. 基本特性: 原子量 6.939 电离电位 5.4 （ev） 离解能 3.4 （ev）2. 样品处理: HF+H2SO4; NaBO2.3. 分析条件 分析线 670.8 nm 狭缝 0.4 nm 空心阴极灯电流（w） 2.0
原子吸收AAS元素分析方法锌Zn
锌1. 基本特性: 原子量 65.37 电离电位 9.4 （ev） 离解能 4.0 （ev）2. 样品处理: HNO3; HCL; HCLO4+HF; HF+HCL+HCLO4; HCL+HNO3+HF;K2S2O7; Li+HBO3.3. 分析条件 分析线 213.9 nm
原子吸收AAS元素分析方法铬Cr
1. 基本特性: 原子量 51.996 电离电位 6.8 （ev） 离解能 4.4 （ev）2. 样品处理: HCL+H2O2; HNO3+HF; HNO3+H2SO4+HCLO4; 3HCL+HNO3; Na2O2;3. 分析条件: 分析线 357.9 nm 狭缝
原子吸收AAS元素分析方法锗Ge
1. 基本特性: 原子量 72.59 电离电位 7.9 （ev） 离解能 6.9 （ev）2. 样品处理: HCL+HNO3; HNO3+H3PO4; H2SO4+HF; HF+HNO3+H3PO4; Na2O2+NaOH+Na2CO3;3. 分析条件: 分析线 265.2
原子吸收AAS元素分析方法铊Tl
铊1. 基本特性: 原子量 204.37 电离电位 6.108 （ev） 离解能 < 3.9 （ev）2. 样品处理: HNO3; HNO3+HF; HNO3+H2SO4+HCLO4.3. 分析条件 分析线 276.8 nm 狭缝 0.4 nm （火焰） 2.0
原子吸收AAS元素分析方法锗Ge
原子吸收AAS--元素分析方法--锗Ge1. 基本特性: 原子量 72.59 电离电位 7.9 （ev） 离解能 6.9 （ev）2. 样品处理: HCL+HNO3; HNO3+H3PO4; H2SO4+HF; HF+HNO3+H3PO4; Na2O2+NaOH+Na2CO3;3
原子吸收AAS元素分析方法钡Ba
1. 基本特性: 原子量： 137.34 电离电位： 5.2（ev） 离解能： 5.9（ev）2. 样品处理: HF+HCLO4; HF+HNO3; Na2CO3; LiBO2.3. 分析条件： 分析线: 553.6 nm 狭缝: 0.2 nm 空心阴极
原子吸收AAS元素分析方法钼Mo
1. 基本特性: 原子量 95.94 电离电位 7.10 （ev） 离解能 5.0 （ev）2. 样品处理: HCL+HNO3; HF+HNO3; HNO3+HCLO4; HCL+HNO3+HCLO43. 分析条件 分析线 379.8 nm （火焰） 313
原子吸收AAS元素分析方法金Au
1. 基本特性: 原子量 196.967 电离电位 9.2 （ev） 离解能 （ev）2. 样品处理: 3HCL+HNO33. 分析条件: 分析线 242.8 nm 狭缝 0.4 nm 空心阴极灯电流（w） 2.0 mA4. 干扰: 光谱干扰: 元素
原子吸收AAS元素分析方法钯Pd
原子吸收AAS--元素分析方法--钯Pd1. 基本特性: 原子量 106.4 电离电位 8.3 （ev） 离解能 2.9 （ev）2. 样品处理: HNO3+HCL;NaCL+HNO33. 分析条件 分析线 244.8 nm 狭缝 0.2 nm 空心阴极灯电流（w） 2.
初学者AAS光谱仪问题答疑
1问: 用同一套工作曲线和24份样品在A仪器和B仪器上测试,最终各得出24个浓度值,在没有标准值的情况下,怎样对这两种结果做出数值分析？以测出的铜值为例。计算出了从1号样品到24号样品的铜值绝对值差,差值在0.028-1之间,较集中在0.3,0.4,0.5之间.想知道同一套工作曲线和样品在不同的
原子吸收光谱法AAS仪器篇
原子吸收光谱仪又称原子吸收分光光度计，由光源、原子化器、单色器和检测器等四部分组成。一、光源 光源的作用是发射被测元素的特征共振辐射。对光源的基本要求：发射的共振辐射的半宽度要明显小于吸收线的半宽度；辐射的强度大；辐射光强稳定，使用寿命长等。空心阴极灯是符合上述要求的理想光源，应用zui广。
原子吸收AAS元素分析方法钙Ca
1. 基本特性: 原子量 40.08 电离电位 6.1 （ev） 离解能 4.8 （ev）2. 样品处理: HCL; HCLO4; HCL+HNO3; HCL+HF; HF+HNO3; HF+H2SO4; HF+HCLO4; HF+H3BO3; Na2CO3; Na2O2;
XRD测试能够给出什么物理信息
常规XRD测试给出的是晶体样品物相信息，比如测定晶体二氧化硅粉末时，可以得到该样品的X射线衍射图谱。衍射谱是由样品在X射线照射下产生的，随着角度的变化，逐渐把晶体每个晶面显现出来，形成对应的衍射峰，多个衍射峰形成一张特定衍射谱。某一种物相有对应的衍射谱，若已知衍射谱，也可以反推物相。
普通XRD基本检测项目有哪些
常规扫描可以知道晶体的物相，用高温附件可知道在温度变化情况下的物相变化。小角衍射可知道粘土等层状材料的层间距，掠入射模式可测得纳米薄膜材料厚度，还有些特殊工具可测晶体的残余应力、织构信息等。通过对XRD结果分析，还可以测得晶体掺杂情况、物相占比情况等等。
XRD衍射峰强度越大说明什么
只有一个衍射强峰，样品有择优取向。 （谢乐公式，打不出来） 式中B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度，单位为弧度． B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差, Bs可通过测量标准物(粒径>10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到． Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近．最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗
做XRD的话，需要多少样品量
分为粉末和块体，一般XRD都有特定的样品槽，粉末样品槽是刻有方形凹槽的玻璃片，块状样品槽是带有方形镂空的Al合金板。做粉末多晶衍射一般几克就够，只要能填满凹槽即可，甚至不填满，用非晶双面胶将粉末和样品槽粘到一起也可以。块状样品可以视为致密的粉末，被测试的表面只要不超过样品槽的大小即可，可以用橡皮泥固
XRD分析与XRF分析的异同
1，用途不同。XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、
XRD常见问题详解，超实用！！
[一般问题] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？ X 射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对 X 射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
XRD与EDS有什么区别
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束
xrd松花粉需要研磨吗
首先要知道为啥要研磨。研磨是为了使晶面均匀分布在各个方向。如果不研磨导致晶面分布不均只会造成峰高低的变化，不会导致峰位置的偏移。不过最好还是要研磨。毕竟研磨比不研磨好。除非是单晶，不研磨只需要几个衍射面的峰，花粉也不可能是单晶。PS：XRD是测晶面常数的，不知道用到花粉里面是怎么个机理，但是衍射原理
什么是四圆XRD测试
一种获得X射线单晶体衍射图的实验技术。常用闪烁计数器作探测器。入射光和探测器在一个平面内（称赤道平面）,晶体位于入射光与探测器的轴线的交点，探测器可在此平面内绕交点旋转，因此只有那些法线在此平面内的晶面族才可能通过样品和探测器的旋转在适当位置发生衍射并被记录。如何让那些法线不在赤道平面内的面族也会发
XRD测试中2θ角怎么确定
第一，直流电源稳定不稳定 第二，控制信号是不是正确的 第三，开关器件是不是运作正常 逆变器是把直流电能（电池、蓄电瓶）转变成交流电（一般为220V,50Hz正弦波）。它由逆变桥、控制逻辑和滤波电路组成。
XRD是测什么用的
XRD可以测的是：1、结晶度的测定结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数。非晶态合金应用非常广泛，如软磁材料等，而结晶度直接影响材料的性能，因此结晶度的测定就显得尤为重要了。测定结晶度的方法很多，但不论哪种方法都是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积决定。2、精密测定点阵参数精密测定
XRD分析与XRF分析的异同
1，用途不同。XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、
XRD与EDS有什么区别
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束
XRD与EDS有什么区别
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束