2974万！湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台采购LCMS、XRD、AAS等
一、采购项目基本信息1、采购项目名称：湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台项目2、政府采购计划编号：湘财采计[2025]000641号3、委托代理编号：2954-20250403-5254、采购项目预算：28,740,714元支持预付款，预付比例：%5、本项目对应的中小企业划分标准所属行业：6、评标方法： 最低价法 综合评分法7、合同定价方式： 固定总价 固定单价 成本补偿 绩效激励8、合同履行期限：详见招标文件9、本项目分阶段要求投标人提供以下保证：投标保证金：采购项目预算的 %；履约保证金：中标金额的 %；质量保证金：合同金额的 %；二、采购人的采购需求包名称最高限价（元）标的名称数量标的预算（元）包19,787,488X射线衍射仪13,390,000电子顺磁共振波谱仪13,099,488纳米力学测试系统12,520,000全自动气......阅读全文
XRD与EDS有什么区别
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束
XRD衍射峰强度越大说明什么
只有一个衍射强峰，样品有择优取向。 （谢乐公式，打不出来） 式中B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度，单位为弧度． B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差, Bs可通过测量标准物(粒径>10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到． Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近．最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗
XRD衍射峰强度越大说明什么
只有一个衍射强峰，样品有择优取向。 （谢乐公式，打不出来） 式中B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度，单位为弧度． B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差, Bs可通过测量标准物(粒径>10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到． Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近．最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗
XRD的峰值高低有什么决定
一般而言是正确的，因为依据衍射图谱对物质定量也是依据他们最强峰的高度或面积进行计算。这其中有几个问题需要知道，一是粘土矿物，另外一些含铁矿物也会出现峰的宽化（也可能是样品的粒度，一般越细也越容易出现宽化）这时就需要依照峰的面积进行求解，所以你会发现（以粘土矿物为例），本来图谱中最高峰对照的物质可能不
做XRD的话，需要多少样品量
分为粉末和块体，一般XRD都有特定的样品槽，粉末样品槽是刻有方形凹槽的玻璃片，块状样品槽是带有方形镂空的Al合金板。做粉末多晶衍射一般几克就够，只要能填满凹槽即可，甚至不填满，用非晶双面胶将粉末和样品槽粘到一起也可以。块状样品可以视为致密的粉末，被测试的表面只要不超过样品槽的大小即可，可以用橡皮泥固
求XRD定量分析方法
XRD定量分析方法 从内标方程或外标方程的应用，我们可以了解到有可能也有必要建立一种标准化的比强度数据库以便随时都能够利用X射线衍射仪的强度数据进行物相的定量测定。如今JCPDS协会约定以刚玉（α- Al2O3）为参考物质，以各物相的最强线对于刚玉的最强线的比强度I／Icol为“参考比强度”（RI
XRD常见问题详解，超实用！！
[一般问题] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？ X 射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对 X 射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
XRD的峰值高低有什么决定
一般而言是正确的，因为依据衍射图谱对物质定量也是依据他们最强峰的高度或面积进行计算。这其中有几个问题需要知道，一是粘土矿物，另外一些含铁矿物也会出现峰的宽化（也可能是样品的粒度，一般越细也越容易出现宽化）这时就需要依照峰的面积进行求解，所以你会发现（以粘土矿物为例），本来图谱中最高峰对照的物质可能不
普通XRD基本检测项目有哪些
常规扫描可以知道晶体的物相，用高温附件可知道在温度变化情况下的物相变化。小角衍射可知道粘土等层状材料的层间距，掠入射模式可测得纳米薄膜材料厚度，还有些特殊工具可测晶体的残余应力、织构信息等。通过对XRD结果分析，还可以测得晶体掺杂情况、物相占比情况等等。
XRD是测什么用的
XRD可以测的是：1、结晶度的测定结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数。非晶态合金应用非常广泛，如软磁材料等，而结晶度直接影响材料的性能，因此结晶度的测定就显得尤为重要了。测定结晶度的方法很多，但不论哪种方法都是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积决定。2、精密测定点阵参数精密测定
XRD衍射峰强度越大说明什么
只有一个衍射强峰，样品有择优取向。 （谢乐公式，打不出来） 式中B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度，单位为弧度． B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差, Bs可通过测量标准物(粒径>10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到． Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近．最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗
XRD分析与XRF分析的异同
1，用途不同。XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、
XRD是测什么用的
XRD可以测的是：1、结晶度的测定结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数。非晶态合金应用非常广泛，如软磁材料等，而结晶度直接影响材料的性能，因此结晶度的测定就显得尤为重要了。测定结晶度的方法很多，但不论哪种方法都是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积决定。2、精密测定点阵参数精密测定
XRD测试能够给出什么物理信息
常规XRD测试给出的是晶体样品物相信息，比如测定晶体二氧化硅粉末时，可以得到该样品的X射线衍射图谱。衍射谱是由样品在X射线照射下产生的，随着角度的变化，逐渐把晶体每个晶面显现出来，形成对应的衍射峰，多个衍射峰形成一张特定衍射谱。某一种物相有对应的衍射谱，若已知衍射谱，也可以反推物相。
普通XRD基本检测项目有哪些
常规扫描可以知道晶体的物相，用高温附件可知道在温度变化情况下的物相变化。小角衍射可知道粘土等层状材料的层间距，掠入射模式可测得纳米薄膜材料厚度，还有些特殊工具可测晶体的残余应力、织构信息等。通过对XRD结果分析，还可以测得晶体掺杂情况、物相占比情况等等。
做XRD的话，需要多少样品量
分为粉末和块体，一般XRD都有特定的样品槽，粉末样品槽是刻有方形凹槽的玻璃片，块状样品槽是带有方形镂空的Al合金板。做粉末多晶衍射一般几克就够，只要能填满凹槽即可，甚至不填满，用非晶双面胶将粉末和样品槽粘到一起也可以。块状样品可以视为致密的粉末，被测试的表面只要不超过样品槽的大小即可，可以用橡皮泥固
JKCH600190XRD冷热台
JK-CH600190-XRD冷热台JK-CH600190-XRD冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研
XRD的峰值高低有什么决定
一般而言是正确的，因为依据衍射图谱对物质定量也是依据他们最强峰的高度或面积进行计算。这其中有几个问题需要知道，一是粘土矿物，另外一些含铁矿物也会出现峰的宽化（也可能是样品的粒度，一般越细也越容易出现宽化）这时就需要依照峰的面积进行求解，所以你会发现（以粘土矿物为例），本来图谱中最高峰对照的物质可能不
XRD与EDS有什么区别
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束
XRD衍射峰强度越大说明什么
只有一个衍射强峰，样品有择优取向。 （谢乐公式，打不出来） 式中B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度，单位为弧度． B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差, Bs可通过测量标准物(粒径>10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到． Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近．最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗
XRD衍射峰强度越大说明什么
峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。
XRD分析与XRF分析的异同
1，用途不同。XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、
XRD的基线向上爬的原因
跟底噪有关，角度越高噪音越大基线越高。
XRD衍射峰强度越大说明什么
只有一个衍射强峰，样品有择优取向。 （谢乐公式，打不出来） 式中B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度，单位为弧度． B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差, Bs可通过测量标准物(粒径>10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到． Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近．最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗
XRD是测什么用的
XRD可以测的是：1、结晶度的测定结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数。非晶态合金应用非常广泛，如软磁材料等，而结晶度直接影响材料的性能，因此结晶度的测定就显得尤为重要了。测定结晶度的方法很多，但不论哪种方法都是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积决定。2、精密测定点阵参数精密测定
晶格常数变大xrd峰怎么变
晶格常数变大间距增大会右移，但如果整体结构有一些破坏，峰强度会降低。峰宽主要是粒径有关。晶面间距与XRD中峰位置有关，一般情况下是不变的，一般为几个埃，可以查阅下文献，热膨胀，晶体中含有少量缺陷会使得晶面间距变大，衍射峰向低衍射角偏移。峰宽，与晶面间距没有直接联系，反映的是晶粒尺寸的大小，晶粒尺寸大
XRD峰位置相同，强度有差异
强度只能说明结晶度的情况，峰的位置是证明晶型的标准，如果峰位置对的上证明是同一种晶型，使用不用的机器同种物质的峰强可能不一样，并且同一台机器如果步长不一样也会出现不同的峰强度，所以不能证明你的强度跟标准谱图的强度关系来判定结晶度的高低，标准谱图一般是经过计算得到的，并不是制备的
XRD中au的衍射峰位置
XRD中au的衍射峰位置：16.6 23.8 各有一个标识峰，30—40间有一簇峰，可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片。按照衍射图位，单纯图位是可以重合的，可判断为包含；复合图位的，需要叠加后判断，叠加后重合为包含。没滤入射X射线情况，λKαλKβ定差值，由布拉格程2d（HKL）sinθ=λ知
XRD常见问题详解，超实用！！
[一般问题] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？ X 射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对 X 射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。 绝大多数固态物质都是晶态或微
xrd样品量不够会导致什么
会导致灵敏度下降。1，样品量，样品量少分辨率就高，但是灵敏度下降，一般根据热效应大小调节样品量。最好3~5mg。2，升温速率，升温速率越快，灵敏度提高，分辨率下降。一般5~20度每分钟3，气体，一般使用惰性气体，如氮气，氨气，氩气等等，这样不会产生氧化反应峰。