持续报道|第二届“半导体材料与器件量测与检测技术”培训班精彩延续

在当今半导体行业,生产工艺日益复杂,设备精密度要求也越来越高,制造难度及品质管控难度呈指数级增长。为应对这些挑战,培养专业人才,由中国科学院人事局资助、中国科学院上海硅酸盐研究所主办的第二届“半导体材料与器件量测和检测技术”培训班于2025年10月27至31日在上海举办。该培训班采用专题讲座、技术培训、参观交流等多种方式,致力于提升科技人员的实验技能和仪器使用效能,吸引了众多行业专家和学者齐聚一堂,共同探讨前沿技术与应用实践。分析测试百科网作为支持媒体,对此次培训班进行了全程报道。在10月30日的培训课程中,专家们围绕半导体分析检测技术的多个维度展开了深入的探讨。培训报告分别由中国科学院上海硅酸盐研究所汪正研究员和李青副研究员进行主持。报告主持:汪正(左)、李青(右)中国科学院上海微系统研究所 周夕淋研究员中国科学院上海微系统研究所的周夕淋研究员率先分享了“集成电路材料与器件微结构分析技术”的报告内容。在报告中,周夕淋研究员首先......阅读全文

半导体器件展丨2024上海半导体器件展览会「电子展」「官网11月1820日」

2024上海国际电子制造设备展览会                  时间: 2024年11月18-20日 地点: 上海新国际博览中心主办:中国电子器材有限公司协办:香港贸易发展局    台湾区电机电子工业同业公会   韩国电子产业振兴会    日本电子展协会   中国电子元件行业协会展会背景:电子

元器件展会|2024上海国际功率半导体展览会「上海元器件展」

展会概况展会名称:2024中国(上海)国际电子展览会展会时间:2024年11月18-20日 论坛时间:2024年11月18-19日 展会地点:上海新国际博览中心展会规模:50,000平方米、800家展商、90,000名专业观众  展会介绍:       电子产业是电子信息产业的基础支撑,中国电子元器

半导体封测是什么意思

半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。半导体封测是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程。封装过程为:来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后,被切割为小的晶片,然后将切割好的晶片用胶水贴装到相应的基板(引线框架)架的小岛上,再利用超细的金属(金、锡、铜、

半导体器件在高温环境下的可靠性

  半导体元器件在高温环境下的可靠性是制造商和用户十分关注的问题。高温试验是一种常用的测试方法,通过模拟实际使用中的高温环境,可以评估元器件在高温下的性能和可靠性。高温试验需要仔细设计实验方案,包括选择合适的测试设备、制定测试流程和确定测试参数等。在实验过程中,需要确保测试设备和环境的稳定性和可靠性

纳米所与索尼联合研发半导体材料与器件

  6月23日下午,中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所与索尼公司半导体材料与器件合作项目启动签约仪式在苏州纳米所举行。研究所所长杨辉代表苏州纳米所与索尼公司高级副总裁熊谷签订合作协议,同时,索尼公司将向苏州纳米所提供分子束外延(MBE)装置的免费使用权。中科院副院长施尔畏,苏州工业园

半导体器件分析仪Keysight-B1500A1530

仪器名称:半导体器件分析仪-Keysight B1500A&1530仪器编号:19005082产地:马来西亚生产厂家:Keysight Technologies型号:B1500A出厂日期:购置日期:2019-05-23所属单位:集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点:荷清大厦高精尖一层实验室固定

主办EXPO-2024上海半导体分立器件展官网」

电子元器件展,电子仪器仪表展,电子仪器仪表展,电子元器件展,电子设备展,电子设备展,电子元器件展览会,电子仪器展,电子仪器展,电仪器展览会,继电器展,电容器展,连接器展,集成电路展2024上海国际电子元器件材料设备展览会地点:上海国际博览中心2024年11月18-20日参展咨询:021-5416 3

B1500A-半导体器件参数分析仪

 特点一台半导体参数分析仪抵得上多种测量仪器Keysight B1500A 半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪,能够测量 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数。 主机和插入式模块能够表征大多数电子器件、材料、半导体和有源/无源元器件。 B1500A 模块化体系结构可以根据需要灵活升级。可以在

Agilent安捷伦-B1500A-半导体器件分析仪

Agilent B1500A 半导体器件分析仪是一款具有 10 插槽配置的模块化仪器,可支持 IV 和 CV 测量及快速高电压脉冲测量。它采用常见的 Microsoft ® Windows ® 用户界面,可支持 Agilent EasyEXPERT 软件。该软件为器件表征提供更直观的、面向任务的新方

简述电阻量测的测定原理

  (1)电阻量测原理—限流电路是将电源和可变电阻串联,通过改变电阻的阻值,以达到改变电路的电流,但电流的改变是有一定范围的。其优点是节省能量;一般在两种控制电路都可以选择的时候,优先考虑限流电路。  (2)电阻量测原理—分压电路是将电源和可变电阻的总值串联起来,再从可变电阻的两个接线柱引出导线。其

Agilent-B1500A-半导体器件参数分析仪/半导体表征系统主机

Agilent B1500A 半导体器件参数分析仪/半导体表征系统主机  15815566786=======================================深圳佳捷伦电子仪器有限公司联系人:陈娟/欧阳手机:15815566786/13510500080电话:0755-8951811

中国半导体设备展|2024上海国际半导体器件设备展览会「点击咨询」

2024中国(上海)国际电子展览会展会时间:2024年11月18-20日 论坛时间:2024年11月18-19日 展会地点:上海新国际博览中心展会规模:50,000平方米、800家展商、90,000名专业观众  展会介绍:       电子产业是电子信息产业的基础支撑,中国电子元器件的发展过程是从无

2024深圳国际半导体产业展-华南碳化硅半导体材料与分立器件展会

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中国电子元器件展|2024上海国际半导体分立器件展览会「点击咨询」

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IC-CHINA-2024|半导体展会|芯片展会|元器件|ic-china

 2024年北京国际半导体测试与封装设备展览会(IC CHINA)时 间:2024 年 9 月 5 一 7 日地 点:中国·北京 · 北人亦创国际会展中心参展咨询:021-5416 3212大会负责人:李经理 136 5198 3978(同微)北京国际半导体测试与封装设备展览会(IC CHINA)创

铁磁材料在新型半导体器件中的工作原理

铁磁特性。由于氧空位的存在,许多氧化物薄膜或者纳米颗粒会表现出室温铁磁特性,而第一性原理计算表明氧化物半导体磁性产生的原因是由于其阳离子空位的存在。

科学家开发新型异质外延半导体材料及器件

上海应用技术大学材料科学与工程学院教授房永征、刘玉峰团队与国科大杭州高等研究院及美国麻省理工学院等单位的科研人员合作,在二维半导体材料异质外延方面取得新进展。12月4日,相关研究发表于《先进材料》。随着我国高性能探测技术领域应用需求的持续增长,新型光探测材料的发展也有了更高要求。作为光电探测技术最核

真空互联技术可实现新型半导体材料和器件创新

   日前,由中科院苏州纳米所牵头承办的第608次香山科学会议在苏州举行,来自国内外的40多位专家学者参会。本次大会的主题为“化合物半导体器件的异质集成与界面调控”,中科院院士李树深、黄如、中科院苏州纳米所所长杨辉、香港大学教授谢茂海担任本次大会的执行主席。  半导体与集成电路在人类社会各领域的应用

异质结在半导体光电子器件中有哪些作用

半导体异质结构一般是由两层以上不同材料所组成,它们各具不同的能带隙。这些材料可以是GaAs之类的化合物,也可以是Si-Ge之类的半导体合金。按异质结中两种材料导带和价带的对准情况可以把异质结分为Ⅰ型异质结和Ⅱ型异质结两种,两种异质结的能带结构异质结图册,I型异质结的能带结构是嵌套式对准的,窄带材料的

keysight是德B1525A半导体器件分析仪

keysight是德B1525A半导体器件分析仪介绍安捷伦B1500A半导体器件分析仪与安捷伦EXPERT软件是一个完整的参数测试解决方案。它支持参数测试的所有方面,从基本的手动测量到结合半自动晶圆探头进行跨晶圆的自动化测试。因为B1500A使用了微软的®视窗®XP专业操作系统,所以它可以很容易地集

半导体器件界面态及其稳定性问题分析

在半导体器件中,界面态是影响器件性能和稳定性的重要因素。界面态是指在半导体与金属或半导体与绝缘体之间的接触面上形成的能级。这些界面态在半导体器件中的存在对电子传输、电荷注入和空间电荷区域的形成有着重要影响,从而对器件的性能和稳定性产生显著影响。界面态的稳定性问题在半导体器件研究中被广泛关注。首先,界

Keysight-B1500A-半导体器件参数分析仪

Keysight B1500A 半导体器件参数分析仪该仪器是一款具有 10 插槽配置的模块化仪器,可支持 IV 和 CV 测量及快速高电压脉冲测量。它采用常见的 Microsoft ® Windows ® 用户界面,可支持 Agilent EasyEXPERT 软件。该软件为器件表征提供更直观的、面

量测摄影机的功能介绍

中文名称量测摄影机英文名称metric camera定  义专为摄影测量目的设计制造的摄影机。内方位元素已知,具有框标,物镜畸变经严格校正。应用学科测绘学(一级学科),摄影测量与遥感学(二级学科)

ELISA检-测-抗-体-的-含-量

实验步骤基 本 方案材 料展开 

量测摄影机的功能介绍

中文名称量测摄影机英文名称metric camera定  义专为摄影测量目的设计制造的摄影机。内方位元素已知,具有框标,物镜畸变经严格校正。应用学科测绘学(一级学科),摄影测量与遥感学(二级学科)

三坐标测量的产生的误差

   踏板力计其实本身是一款以微型计算机作为核心来进行检测的智能化仪器;    在使用的时候主要是用来检测机动车的制动脚踏板力,它的主要组成部分是踏板力传感器还有二次仪表。    那么今天小编和大家要一起来了解一下其三坐标测量的产生的误差。    1.其中测量仪器当中使用到的三坐标测量所产生的

三坐标测量的产生的误差

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2024上海国际半导体器件展「时间/地点/展览馆」

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美国开发出不依赖半导体的微电子器件

   美国加州大学圣地亚哥分校的一个研究团队开发出一款基于纳米结构的、不依赖半导体传导的光控微电子器件,在低电压和低功率激光激发的条件下可将电导率比现有半导体器件提高近10倍。这一成果发表在11月4日的《自然·通讯》杂志上。   传统的半导体器件受到材料本身的限制,在频率、功耗等方面存在极限,而利用

官网2024全球半导体光电器件(深圳)博览会

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