哈工大甘阳教授研制纳米刷子可清除AFM探针污染物
5月7日，美国材料研究学会（MRS）官方网站的“材料研究当前新闻”（Current research news of Materials News）栏目，以“光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖”为题，报道了哈尔滨工业大学化工学院教授发表在Ultramicroscopy上的原创性研究成果（合作者为墨尔本大学的Franks教授，“”, Ultramicroscopy, Volume 109, Issue 8, July 2009, Pages 1061-1065.）。这是甘阳教授继2009年受邀在《表面科学报告》（Surface Science Reports）上发表独立署名特邀综述后，又一引起国际关注的成果。 该报道称：“清洁原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）针尖是AFM可靠成像和力测量的关键。研究者现在发现，具有超尖刺突的标定光栅作为‘刷子’，可用来机械清除AFM探针上......阅读全文
哈工大甘阳教授研制纳米刷子可清除AFM探针污染物
5月7日，美国材料研究学会（MRS）官方网站的“材料研究当前新闻”（Current research news of Materials News）栏目，以“光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖”为题，报道了哈尔滨工业大学化工学院教授发表在Ultramicroscopy上的原创性
哈工大专家发现高效去除AFM探针表面污染物新方法
美国材料研究学会（MRS）官方网站日前在“材料研究当前新闻”栏目中，以《光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖》为题，报道了哈尔滨工业大学化工学院催化科学与工程系教授甘阳与墨尔本大学教授弗兰克斯合作发表在国际学术期刊《超显微术》（Ultramicroscopy）上的原创性研究成果。
AFM纳米碳管探针
纳米碳管探针 由于探针针尖的尖锐程度决定影像的分辨率，愈细的针尖相对可得到更高的分辨率，因此具有纳米尺寸碳管探针，是目前探针材料明日之星。纳米碳管(carbon nanotube)是由许多五碳环及六碳环所构成的空心圆柱体，因为纳米碳管具有优异的电性、弹性与轫度， 很适合作为原子力显微镜的探针针
AFM探针的操作模式
随着AFM技术的发展，各种新应用不断涌现。具体包括如下技术:(1) 接触模式 (contact mode) 最早的模式，探针和样品直接接触，探针容易磨损，因此要求探针较软，即悬臂的弹性系数小，一般小于1N/m。(2) 轻敲模式 （tapping mode） 也叫Dynamic Force或者Inte
AFM探针的操作模式
随着AFM技术的发展，各种新应用不断涌现。具体包括如下技术:(1) 接触模式 (contact mode) 最早的模式，探针和样品直接接触，探针容易磨损，因此要求探针较软，即悬臂的弹性系数小，一般小于1N/m。(2) 轻敲模式 （tapping mode） 也叫Dynamic Force或者Inte
AFM 的核心部件——探针
AFM 的核心部件——探针探针是AFM的核心部件, 它直接决定AFM的分辨率。目前AFM的探针多为硅的氧化物或氮化物, 而轻敲模式中的针尖一般为晶体硅。氮硅化合物的探针由悬臂和在悬臂末端的尖锐的针尖组成，悬臂的性质和尺度对决定AFM 的灵敏度和分辨率其重要的作用。在接触模式中，这种悬臂要很柔软，以便
如何激光检测原子力显微镜/AFM/AFM探针工作
二极管激光器发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器（Detector）。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过光电二极管检
AFM扫描和探针扫描各有什么不同？
AFM扫描式：因为其结构相对简单，所以也就更加稳定，其分辨率自然也就比针尖扫描式的更高一些。其缺点就是由于样品腔的限制，只能容纳一定尺寸的样品，另外样品扫描器负载的限制，不能扫描太重的样品，所以对于一些大样品也就无能为力了。样品扫描式的扫描器一般都可以更换，可以根据不同的需要选择不同的扫描器。针尖扫