理学推出NEXLS扫描多元素涂层分析仪

　　Rigaku NEX LS扫描仪为卷筒纸和卷材应用执行多元素组成，涂层重量和涂层厚度分析。

　　Rigaku NEX LS能量色散X射线荧光线性扫描仪

　　分析测试百科网讯 2018年2月26日，应用理学技术公司（ART）宣布发布新型Rigaku NEX LS扫描多元素涂层分析仪。该仪器是Rigaku高性能X射线分析仪器系列的新成员，Pittcon 2018的ART展台（2001号）上首次亮相。

　　Rigaku NEX LS分析仪采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了扫描多元素过程涂料分析仪的下一个发展，为铝（13Al）和铀元素（92U）的分析提供了快速，无损分析。

　　台式 EDXRF 光谱仪长期以来一直是使用硅油作为屏障层、释放涂层或 denesting 剂的工业所熟知的技术。Rigaku NEX LS扫描仪专门设计用于维护卷材和卷材应用，并具有执行多元素成分，涂布重量或涂层厚度分析的能力。

　　这种新型仪器是一个扫描测量系统，由一个安装在机动车架上的EDXRF测量头组成，该系统通过移动的网状物（或线圈）来回传输头部，同时将横向测量数据传输到控制箱和工业触摸屏屏幕电脑。测量头的线性运动机构可确保恒定的头对面距离。数据实时显示为跨网页和网页图形轮廓。

　　Rigaku NEX LS分析仪配备50 kV X射线管和Fast®SDD检测器，旨在为广泛的过程控制涂层应用提供服务。

　　关于Rigaku

　　自1951年在日本成立以来，Rigaku一直处于分析和工业仪器技术的前沿。Rigaku及其子公司组建了一个全球性集团，专注于通用分析仪器和生命科学。凭借数以百计的重大创新，Rigaku公司在X射线光谱测定，衍射和光学以及小分子和蛋白质晶体学和半导体计量方面处于世界前列。如今，Rigaku在分析设备的制造和支持方面拥有超过1400名员工，该分析设备在全球90多个国家使用，支持研究，开发和质量保证活动。在整个世界范围内，理学不断在全球科学界和工业界推动合作伙伴关系，对话和创新。