物理所等利用trRIXS探测自旋关联的超快演化

X射线散射

美国物理学家康普顿（Arthur Holy Compton，1892～1962）在大学生时期就跟随其兄卡尔·康普顿开始X射线的研究。后来他到了卡文迪什实验室，主要从事g射线的实验研究。他用精湛的实验技术精确测定了γ射线的波长，并确定γ射线在散射后波长会变得更长。但他没能从理论上解释这个实验事实。他到

小角X射线散射仪简介

　　小角X射线散射仪是一种用于物理学、化学领域的分析仪器，于2013年1月12日启用。　　技术指标　　最大功率：40kV、50mA；小角测量范围（q）：0.07°～5°；大角测量范围（q）：0.07°～40°。　　主要功能　　1)分散体系中粒子的形貌、尺寸、孔结构以及尺寸分布等；　　2)高分子聚合物

小角X射线散射的简介

　　小角X射线散射（SAXS）是指当X射线透过试样时，在靠近原光束2°～5°的小角度范围内发生的散射现象。早在1930年，Krishnamurti就观察到炭粉、炭黑和各种亚微观大小的微粒在X射线透射光附近出现连续散射现象。　　小角X射线散射被越来越多地应用于材料微观结构研究，其研究趋势逐年增长。小角

X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍

　　除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。　　相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原

关于小角X射线散射的简介

　　小角X射线散射是一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，相应的散射角2θ小（5 ～7 ），即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体

关于小角X射线散射的性质介绍

　　一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，相应的散射角2θ小（5 ～7 ），即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布。对于高分子材料，可测量高分子粒子或空隙大小

简述小角X射线散射基本理论

　　小角X 射线散射效益来自于物质内部1～100nm 量级范围内电子密度的起伏。对于完全均匀的物质，其散射强度为零。当出现第二相或不均匀区时才会发生散射，且散射角度随着散射体尺寸的增大而减小。　　小角X射线散射强度受粒子尺寸、形状、分散情况、取向及电子密度分布等的影响。对于稀疏分散、随机取向、大小和

概述小角X射线散射在高分子材料中的应用

　　在天然的和人工合成的高聚物中，普遍存在小角X射线散射现象，并有许多不同的特征。小角X射线散射在高分子中的应用主要包括以下几个方面：　　①通过Guinier散射测定高分子胶中胶粒的形状、粒度以及粒度分布等；　　②通过Guinier散射研究结晶高分子中的晶粒、共混高分子中的微区（包括分散相和连续相）

高能X射线能谱测量中衰减材料特性影响

基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量,采用蒙特卡罗成像模拟的方法研究衰减材料选择对能谱准确稳定重建的影响。设计多孔准直模型模拟X射线穿过不同衰减材料的透射过程,并在单次成像中获得完整的衰减透射率曲线。由衰减透射率求解能谱是一种病态条件问题,采用改进的迭代扰动法进行解谱,计算时考虑透射率计算值与真实值

软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量

本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。

物理所等利用trRIXS探测自旋关联的超快演化

　　随着科学技术的进步，如何在更快时间尺度上测量材料的性质及其演化已成为一个重要的前沿方向。得益于超快激光技术的发展，利用激光泵浦可以在飞秒尺度上诱导出丰富的量子行为，比如在超快光电导率测量中发现了接近室温的非常规超导的特征迹象等。这种由激光泵浦诱导的非平衡态通常只能维持十亿分之一秒。能在这样超短时

X射线机重过滤X射线能谱的测量

本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。

关于小角X射线散射的重要性

　　小角X射线散射技术是研究材料亚微观内部结构的重要方法，由于其独特的优点，可以用来进行金属和非金属纳米粉末、胶体溶液、生物大分子以及各种材料中所形成的纳米级微孔、GP区和沉淀析出相尺寸分布的测定以及非晶合金加热过程的晶化和相分离等研究。小角X射线散射技术在提高和改进材料性能方面起着重要作用，必将成

X射线在物质中的散射相关介绍

　　X射线在物质中的散射现象，可主要分为两种形式：　　（1）不变质散射（弹性散射，瑞利散射），入射X射线波长不发生变化；　　（2）变质散射（非弹性，康普顿散射），入射X射线波长发生变化。　　原子周围的核外电子，越内层电子与原子核结合的越紧密。光子与内层电子发生碰撞，无法撞动内层电子，固本身的频率波长

小角X射线散射技术测定离聚体的介绍

　　离聚体是指共聚物中含有少量离子的聚合物。由于高分子链存在着离子化的侧基，可形成离子聚合体，从而使此类聚合物具有独特的结构和性能。小角X射线散射技术还可用于嵌段共聚物、胶体高分子溶液以及生物大分子等研究领域，用来测量分子量、粒子旋转半径以及形变和取向等。

小角X射线散射技术测定纳米颗粒的介绍

　　小角X射线散射技术被广泛用来测定纳米粉末的粒度分布，其粒度分析结果所反映的既非晶粒亦非团粒，而是一次颗粒的尺寸。在测定中参与散射的颗粒数一般高达数亿个，因此，在统计上有充分的代表性。　　通过对Guinier曲线低角区域线性部分的拟合，得到试样中氧化铝颗粒的旋转半径约为6nm，表明在无机纳米杂化薄

生物大分子X射线小角散射实验指南

    导读：基于同步辐射的X射线小角散射实验可以实现高通量以及更高的分辨率和信噪比。本文简单介绍了生物大分子小角散射（BioSAXS）的数据收集策略以及样品准备要求，看完这篇就可以准备样品直接去BL19U2收集小角数据了！BioSAXS的目标    生物分子的小角X射线散射（以下简称生物小角，Bi

DPF脉冲X射线能谱测量

采用滤光法对ＤＰＦ脉冲Ｘ射线源装置的Ｘ射线能谱进行了测量，取得了较好的结果，为辐射效应环境测量提供了一种手段。 

高能脉冲X射线能谱测量

给出了高能脉冲X射线能谱测量的基本原理及实验结果.采用Monte-Carlo程序计算了高能光子在能谱仪中每个灵敏单元内的能量沉积,利用能谱仪测量了"强光Ⅰ号"加速器产生的高能脉冲X射线不同衰减程度下的强度,求解得到了具有时间分辨的高能脉冲X射线能谱,时间跨度57ns,时间步长5ns,光子的最高能量3

X射线能谱测量与模拟

1895年,德国科学家伦琴发现了X射线,开辟了一个崭新的、广阔的物理研究领域。其中,针对电子打靶产生的韧致辐射X射线的研究,是X射线研究领域的一个重要课题。本文在国内外针对X射线能谱测量与解析的基础上,利用高纯锗(HPGe)探测器使用直接测量法与间接测量法对钨靶X射线与钼靶X射线能谱进行了测量。工作

X射线应力仪的测量原理

　　对于具有不粗糙晶粒且没有纹理的多晶材料，有许许多多个晶粒包含在在一束X光照射范围内其指定的晶面与试样表面平行。晶面法线与表面法线夹角是0，也一定有许多晶粒，其晶面法线与表面法线成任意的角度。shou先，以试样表面某点法线作为轴，将一束适当波长的X光和探测器（计数管）对称地向着该点O指着，并且同步

X射线测厚仪测量原理及分类

　对材料表面起保护，装饰作用的覆盖层，如涂层，镀层，敷层，贴层，化学生成膜等，在一些国家和国际标准中称为覆层（coating）。　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确要求。　　覆层厚度

小角X射线散射技术测定非晶合金的介绍

　　非晶合金也称金属玻璃，它是急冷得到的亚稳定合金，在加热过程中会产生一系列的转变，逐渐由亚稳态转变到稳定态。在这个过程中会发生相分离以及晶化过程。已有许多学者利用小角X射线散射技术来研究非晶合金中的这些转变。　　用原位小角X 射线散射研究了块体非晶合金Zr55Cu30Al10Ni5的退火行为。研究

小角X射线散射（SAXS）检测时对样品的要求

　　1、粉末样品：须充分研磨，需0.2克左右；　　2、片状样品：样品表面平整，可折叠制样，最佳厚度为1mm；　　3、液体样品：浓度极低的稀溶液，大约需要50μL，1*20 mm2；　　4、纤维样品：一束梳理整齐的纤维，长度5 cm, 纤维束直径2mm；　　不符合以上送样要求，不能保证数据的准确性。　

牛津仪器：背散射电子及X射线（BEX）成像

　　什么是BEX？　　BEX是集背射电子和X射线成像于一体的新型微区分析技术，可以在SEM下同步、高效采集背散射电子图像和元素面分布图。　　BEX技术能带来哪些新体验？　　此前，基于SEM的显微分析大多是静态的、逐步进行的，并且高度依赖用户经验。操作人员通常根据SE/BSE灰度图中的形貌或原子序数衬

X射线测厚仪涂层测量原理及分类

对材料表面起保护，装饰作用的覆盖层，如涂层，镀层，敷层，贴层，化学生成膜等，在一些国家和国际标准中称为覆层（coating）。　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确要求。　　覆层厚度的

物理学家解开低温磁性之谜

　　近日，科研人员在解释一种稀有磁性材料的罕见属性上获得了巨大突破，有可能为掌握一系列新技术打通路径。从信息存储到磁制冷，很多未来最有可能的创新都依赖于先进的磁性材料，而这一新发现或将开启磁性材料物理性能的方便利用之门。　　这一工作由美国布鲁克海文国家实验室物理学家依格纳斯·杰瑞和康涅狄格大学教授杰

《小角X射线散射（SAXS）技术介绍》讲座进行中

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小角X射线散射技术测定金属的缺陷的介绍

　　金属经辐照或从较高温度淬火产生空位聚集，会引起相当强的小角散射。由于粒子体系和孔洞体系是互补体系，二者产生的散射是相同的。在306～319℃退火空洞会被部分地退火消除，旋转半径迅速增大；而在306℃之前，空洞则非常稳定。