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可程序冷热冲击测试机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化； 测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。 技术参数： 容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升 内箱尺寸（宽*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM） 外形尺寸（宽*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM） 试验温度范围：S表示：-40℃～+150℃ W表示：-55℃～+150℃......阅读全文
可程序冷热冲击测试机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化； 测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。 技术参数： 容量：50升、
可程序冷热冲击测试机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。 技术参数： 规格型号：HE-L
可程序冷热冲击测试机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。 技术参数： 规格型号：HE-LR-5
可程序冷热冲击测试机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业； 国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化； 测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。 技术参数： 容
可程序冷热冲击测试机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业； 国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化； 测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。 技术参数： 试
整理与介绍目前环境试验当中，使用者在使用环境试验设备，以及对于规范的要求常遇见的问题与迷失，若您有下述相关问题欢迎您与业务部，我们将竭诚为您服务。 温度冲击试验温变率是否是越快越好？说明：温度冲击试验中的温变率是否是越快越好，温变率到底对于试验结果有没有影响，怎么样的温变率才是
在使用电子拉力测试机过程中，有遇到一些需校正的问题，下面由恒品技术部教您电子拉力测试机的校正程序及方法一﹑电子拉力测试机校正项目：力量值、行程二﹑电子拉力测试机校正器具：标准砝码、电子秒表及标准直钢尺三﹑电子拉力测试机校正周期：一年四﹑电子拉力测试机校正步骤：以下解说为厂内自校方式。 1.电子拉力
冷热冲击箱在使用过程中是有一定的规范的，用户在使用的时候对于冷热冲击试验箱的操纵流程也是需要了解的。冷热冲击试验箱分为预处理、初使检查、实验、恢复、zui后监测 5 个步骤，下面就来看一下详细的操纵流程吧。 1. 预处理：将被测样本
三厢式冷热冲击试验机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化； 测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组
拉伸强度测试机为材料力学性能测量的试验设备，可进行非金属、电池片、电线端子、高分子材料等的拉伸、压缩、弯曲、剪切、顶破、戳穿、疲劳等项目的检测。 拉伸强度测试机使用新控制技术，通过交流数字控制器控制伺服电机配合同步带使一副ABB高精度滚珠丝杠移动试台，试台能以0.001mm/min—5