在XPS谱图中可观察到几种类型的峰？
在XPS谱图中可观察到几种类型的峰。一部分是基本的并总可观察到，另一些依赖于样品的物理和化学性质。 i. 光电子谱线(photoelectron lines)； ii. 俄歇电子谱线(Auger lines)； iii. X射线卫星峰(X-ray satellites)； iv. X射线鬼线(X-ray“ghosts”)； v. 震激谱线(shake-up lines)； vi. 多重分裂(multiplet splitting)； vii. 能量损失谱线(energy loss lines)； viii. 价电子线和价带(valence lines and bands)。 XPS主要通过测定内壳层电子能级谱的化学位移可以推知原子结合状态和电子分布状态。XPS可提供的信息有样品的组分、化学态、表面吸附、表面态、表面价电子结构、原子和分子的化学结构、化学键合情况等。X射线光电子能谱进行元素鉴别的依据是各种元素......阅读全文
XPS能谱仪XPS谱图分析技术
在XPS谱图中,包含极其丰富的信息,从中可以得到样品的化学组成,元素的化学状态及其各元素的相对含量。XPS谱图分为两类,一类是宽谱(wide)。当用AlKα或MgKα辐照时,结合能的扫描范围常在0-1200eV或 0-1000eV。在宽谱中,几乎包括了除氢和氦元素以外的所有元素的主要特征能量的光电子
XPS谱图能量校准
XPS的定性分析和价态分析都是基于光电子谱图中峰位置的能量值。为确保分析的准确性，XPS仪应定期（每工作几个月或半年）进行能量校准。能量校准方法：在实际的工作中，一般选用碳氢化合物(CH2)n中的污染峰C1s峰作参考进行调节，(CH2)n一般来自样品的制备处理及机械泵油的污染。也有人将金镀到样品表面
XPS谱图都包括些啥？卫星峰啥玩意？
XPS是大家期盼已久的内容，我们希望尽量能够让大家满意。首先给大家分享下我们的更新计划：今天是第一期，主要解决的是XPS的一些最基本的原理以及常规知识；从下一期开始我们主要采用实例的方法进行分享，介绍XPS具体怎么用，如何分峰拟合，XPS还包括哪些高级检测手段等等。XPS看似简单，其实包含的内容
xps图具体分析方法
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
xps图具体分析方法
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
xps图具体分析方法
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
xps图具体分析方法
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
xps图具体分析方法
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
xps图具体分析方法
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
xps图具体分析方法
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
xps图具体分析方法
XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面
怎样分析XPS能谱
PEAKFIT，然后查到各个峰的位置，也就是找到横坐标：结合能（Bindingenergy），再和标准的峰位表进行比对，就可以确定这个峰到底是对应什么元素了。大体就是这个思路，因为我做的是稀磁半导体的掺杂，所以我使用XPS来确定我掺杂物的价态，所以我简要说了我的工作所涉及的步骤，XPS还有其他很多用
XPS谱图中有哪些重要的谱线结构？
XPS谱图一般包括光电子谱线，卫星峰（伴峰），俄歇电子谱线，自旋-轨道分裂(SOS)等
xps元素含量是通过全谱还是窄谱
定性分析 首先扫描全谱，由于荷电存在使结合能升高，因此要通过C结合能284.6eV对全谱进行荷电校正，然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱，将所得结果与标准图谱对照，由结合能确定元素种类，由化学位移确定元素得化学状态
xps元素含量是通过全谱还是窄谱
定性分析 首先扫描全谱，由于荷电存在使结合能升高，因此要通过C结合能284.6eV对全谱进行荷电校正，然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱，将所得结果与标准图谱对照，由结合能确定元素种类，由化学位移确定元素得化学状态
XPS高分辨谱的常见用途
实际上，多数情况下，人们关心的不仅仅是表面某个元素呈几价，更多的是对比处理前后样品表面元素的化学位移变化，通过这种位移的变化来说明样品的表面化学状态或者是样品表面元素之间的电子相互作用。一般，某种元素失去电子，其结合能会向高场方向偏移，某种元素得到电子，其结合能会向低场方向偏移，对于给定价壳层结构的
分析GPC谱图
你的水相GPC的标准物是PEO还是PEG？聚合后的链结构引入了不同于标准物的结构，存在一定的偏差很正常。THF相的GPC以PS为标样和以PMMA为标样测定的合成PMMA分子量存在一定差异。所以这一点也应该有所考虑
能谱图分析
多道γ能谱分析仪是核辐射的主要测量设备，也是环境γ射线能谱测量的主要设备。它用以确定样品中的核素，以及单个核素的比活度。以NaI（Tl）闪烁体为探测器的多道γ能谱仪，探测效率高、易于维护、价格不高。目前它仍用于环境样品γ能谱分析。因为它能量分辨不高，目前主要用于天然放射性核素（238U系，232Th
XPS图谱之光电子谱线
每一种元素都有自己特征的光电子线，它是元素定性分析的主要依据。谱图中强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰，称为XPS的主谱线。
XPS图谱之俄歇电子谱线
电子电离后，芯能级出现空位，弛豫过程中若使另一电子激发成为自由电子，该电子即为俄歇电子。俄歇电子谱线总是伴随着XPS，但具有比XPS更宽更复杂的结构，多以谱线群的方式出现。特征：其动能与入射光ｈν无关。
XPS能谱仪荷电校正（Calibration）
对于绝缘体样品或导电性能不好的样品,光电离后将在表面积累正电荷,在表面区内形成附加势垒,会使出射光电子的动能减小,亦即荷电效应的结果,使得测得光电子的结合能比正常的要高。样品荷电问题非常复杂,一般难以用某一种方法彻底消除。在实际的XPS分析中,一般采用内标法进行校准。最常用的方法是用真空系统中最常见
XPS能谱仪样品的制备和处理
XPS能谱仪对分析的样品有特殊的要求,所以待分析样品需要根据情况进行一定的预处理。由于在实验过程中样品必须通过传递杆,穿过超高真空隔离阀,送进样品分析室。因此对样品的尺寸有一定的大小规范,以利真空进样。通常固体薄膜或块状样品要求切割成面积大小为0.5cm×0.8cm大小,厚度小于4mm。为了不影响真
X射线光电子能谱（－XPS）
XPS：X射线光电子能谱分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量，而EDS不能测价态，且测试的深度为几十纳米到几微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。 原理：用X射线去辐射样品，使原子或分子
什么是质谱及质谱图
质谱（又叫质谱法）是一种与光谱并列的谱学方法，通常意义上是指广泛应用于各个学科领域中通过制备、分离、检测气相离子来鉴定化合物的一种专门技术。质谱法在一次分析中可提供丰富的结构信息，将分离技术与质谱法相结合是分离科学方法中的一项突破性进展。在众多的分析测试方法中，质谱学方法被认为是一种同时具备高特异性
如何读质谱图
用二维方法来看.1,横坐标代表的是分子离子峰及碎片峰,这有助于你判断物质的分子量及可能的主要结构.2,纵坐标代表的是分子碎片的稳定程度,这有助于你判断碎片相近的物质区分,比如可以通过质谱图直接判断二甲苯的三种构型,就是利用这个方法.3,结合二者的各自优势,再多学多比较记住几个特征峰就好办多了,比如烯
如何读质谱图
用二维方法来看.1,横坐标代表的是分子离子峰及碎片峰,这有助于你判断物质的分子量及可能的主要结构.2,纵坐标代表的是分子碎片的稳定程度,这有助于你判断碎片相近的物质区分,比如可以通过质谱图直接判断二甲苯的三种构型,就是利用这个方法.3,结合二者的各自优势,再多学多比较记住几个特征峰就好办多了,比如烯
怎样看懂质谱图
最先看分子离子峰。怎么判断分子离子峰？一般是最大的明显可见碎片。如果有已经结构就好办，如果没有，一般判断出分子离子峰之后，要进行确认。确认的办法是看最大的碎片和第二大的碎片的差值是否合理。多数减15，也有减18或43，这样看具体情况。如果有这样的碎片就认为是分子离子峰的可能性很大。然后再看基峰。基峰
ECD谱图是什么
ecd是气相色谱检测。ecd是一种高灵敏度、高选择性检测器，对电负性物质特别敏感。放射源表面污染，使放射源电离能力下降，从而使直流电压和恒频率方式ECD基流下降或恒电流方式中基频增高。
质谱图的组成
质谱图由横坐标、纵坐标和棒线组成。横坐标标明离子质荷比(m/z)的数值，纵坐标标明各峰的相对强度，
怎么修正红外谱图
条件允许,最好重新用更纯的样品多测试几次,如果效果还是不好,那么你可以内插一个小图框,单独显示这个特征峰的放大图.在Origin 上方的工具栏中,找到带有红色的小坐标轴图标,点击它,就可以在原图上插入一个带有X-Y坐标轴小图框.这个小图框是第二个图层.你会在整个图的左上方看到两个灰色的小正方形,里面