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XPS的定性分析和价态分析都是基于光电子谱图中峰位置的能量值。为确保分析的准确性，XPS仪应定期（每工作几个月或半年）进行能量校准。能量校准方法：在实际的工作中，一般选用碳氢化合物(CH2)n中的污染峰C1s峰作参考进行调节，(CH2)n一般来自样品的制备处理及机械泵油的污染。也有人将金镀到样品表面一部分，利用已知能量值的金标样峰Au 4f7/2 进行谱线修正。......阅读全文
X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er （1） 其中:hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量
XPS是大家期盼已久的内容，我们希望尽量能够让大家满意。首先给大家分享下我们的更新计划：今天是第一期，主要解决的是XPS的一些最基本的原理以及常规知识；从下一期开始我们主要采用实例的方法进行分享，介绍XPS具体怎么用，如何分峰拟合，XPS还包括哪些高级检测手段等等。XPS看似简单，其实包含的内容
2011年5月26日下午，赛默飞世尔科技表面分析产品部销售经理魏义彬博士来到分析测试百科网网络视频讲座，为各位网友介绍了Thermo Scientific光电子能谱仪（XPS）的技术特点及其在各个领域的具体应用。 魏博士首先带领大家回顾了XPS技术的发展