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高性能X射线荧光镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」发售

高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司(简称:SIINT,社长:川崎贤司,总公司:千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称:SII,社长:新保雅文,总公司:千叶县千叶市)的全资子公司,其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 「SFT9550X」 要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・蒸镀等金属薄膜的膜厚・组成进行测量管理,就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型......阅读全文

电镀层测厚仪

荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于无铅焊锡的应用。备有250种以

材料荧光镀层厚度测量仪技术质量对应解决方案

  在材料件上镀上金属层可以使材料的质量和价值得到很大的提升,而荧光镀层厚度测量仪技术上镀材料作为工程中的物资基础,其质量优劣对工程质量有着不可忽视的作用,因此材料行业能否稳定有序地健康发展,对工程质量的提升有着非常重要的作用。对于目前市场上出现的以次充好、欺瞒的行为,政府管理部门必将严格管理,严厉

X荧光镀层厚度测量仪的功能特点有哪些

  X荧光镀层厚度测量仪通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果,镀层厚度测量仪荧光或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。   x.jpg    X荧光镀层厚度测量仪

X荧光镀层厚度测量仪的功能特点有哪些

   X荧光镀层厚度测量仪通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果,镀层厚度测量仪荧光或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。   x.jpg    X荧光镀层厚度测量

精工电子纳米科技X射线荧光分析仪全新上市

精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。 X射线荧光分析仪,因其便捷的操作性和分析的快速性,在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外,随着

X射线金属镀层测厚仪应用

X射线金属镀层测厚仪,X射线经过镀层界面,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。测试镀层厚度要考虑镀层材质和镀层密度等因素,如果各因素都不确定是无法分析的。XRF是X射线荧光光谱,可以检测不同位置的元素分布(11号以后的),扫面断

铜镀银X射线无损测厚仪

铜镀银X射线无损测厚仪,荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征◆可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度◆可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。◆薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于

精工盈司用于检测大米中的镉的X射线荧光检测仪器发售

  精工电子纳米科技有限公司(简称:SIINT,社长:川崎贤司,总公司:千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称:SII,社长:新保雅文,总公司:千叶县千叶市)的全资子公司,主要从事测量分析仪器的生产和销售。本次,将于7月1日发售X射线荧光检测仪器「SEA1300VX」,无需处理就能在数分钟内检测出大

油漆测厚仪涂层测厚仪的简单介绍

涂层测厚仪油漆测厚仪测量方法和原理对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关和标准中称为覆层(coating)。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要

X光膜厚测试仪原理

X射线镀层测厚仪/X光镀层测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单● X射线镀层测厚仪的测

X射线镀层测厚仪测试原理

X射线镀层测厚仪/X光镀层测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单● X射线镀层测厚仪的测

涂层测厚仪,油漆测厚仪测量方法和原理

涂层测厚仪测量方法和原理对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关和标准中称为覆层(coating)。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。覆层厚

涂层测厚仪的详细介绍

涂层测厚仪涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:  1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量精度高  2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低  3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的

涂层测厚仪总类

涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品

表面涂层测厚仪

表面涂层测厚仪涂层测仪除了可以测量磁性金属基体和非磁性基体上的涂层,亦可以测量金属电镀的镀层测厚仪,因此,涂层测厚仪,通常也称为涂镀层测厚仪。涂层测厚仪涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量精度高2.

如何检测电镀层厚度

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,操作非常方便简单 X光镀层测厚仪原理物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而

陶瓷金属化镀层测厚解决方案

   陶瓷—金属化封接技术广泛应用于电子管、真空开关管等真空电器中,其中*为关健的技术是陶瓷金属化,金属化质量的好坏,取决于陶瓷自身的质量外,其金属化工艺、金属化的厚度及其均匀度,电镀镍或烧结镍厚度和致密度,也是保证金属化质量的关键因素。    前期陶瓷金属化层,镍层厚度的测量,均采用抽样破坏性的

8862万!质检总局2016年120万元以上专用仪器设备采购项目

  分析测试百科网讯 近日,国信招标集团股份有限公司受国家质量监督检验检疫总局委托,根据《中华人民共和国政府采购法》等有关规定,对国家质检总局2016年120万元以上专用仪器设备采购项目进行公开招标,详情如下:  项目名称:国家质检总局2016年120万元以上专用仪器设备采购项目  项目编号:GXT

FT160 XRF横空出世应对晶片级材料分析极限挑战

  分析测试百科网讯 芯片已经超过原油,成为我国第一进口商品大类,年进口超3000亿美元,芯片对于我国的重要性不言而喻。芯片数量如此之多,面积越做越小,如何快速、精确测定芯片表面纳米级厚度的镀层?难度可想而知。今年2月,日立推出FT160 XRF分析仪,专门针对晶片级封装检测。近日,分析测试百科网小

X荧光射线镀层测厚仪技术原理

X荧光射线镀层测厚仪原理    XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们

哪些因素会影响X荧光光谱仪的测量准确度

  X荧光光谱仅的样品制备简单,能够非破坏性地快速进行多元素分析,可以迅速筛查多种类样品基质如固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其它很多基质样品中的未知成分,已成为电子行业有害物质初步筛选普遍采用的检测方法。分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素,正确使用X荧光光谱仪。对电子产品中

分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素

  X荧光光谱仅的样品制备简单,能够非破坏性地快速进行多元素分析,可以迅速筛查多种类样品基质如固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其它很多基质样品中的未知成分,已成为电子行业有害物质初步筛选普遍采用的检测方法。分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素,正确使用X荧光光谱仪。对

EXF镀层测厚仪可测量各种金属涂层的厚度

EXF镀层测厚仪主要用于测量金属材料的涂层厚度。但是,由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引入了大量的测量误差,为了保证测量结果的准确性和可靠性,有必要进行不确定性分析。   EXF镀层测厚仪可同时测量磁性基材表面的非磁性涂层(如钢铁)(如油漆、陶瓷、铬等)和非磁性金属基材表面

影响X荧光光谱仪准确度的因素(一)

X荧光光谱仅的样品制备简单,能够非破坏性地快速进行多元素分析,可以迅速筛查多种类样品基质如固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其它很多基质样品中的未知成分,已成为电子行业有害物质初步筛选普遍采用的检测方法。分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素,正确使用X荧光光谱仪。对电子产品中有害物质的准确

XRF及快检设备等多种仪器行业标准公示

  分析测试百科网讯 近日,工信部科技司针对370项机械、航空、轻工、化工、冶金、建材行业标准报批公示。分析测试百科网筛选了其中与分析测试行业相关度较高的行业标准项目。其中包括《甲醛气体传感器》、《能量色散X射线荧光光谱仪》、《牛奶•奶粉蛋白质快速检测仪》等在内的12项

膜厚仪的特点及技术参数

膜厚仪又叫膜厚计、膜厚测试仪,分为磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。 采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。 可应用于在线膜厚测量,测氧化物,SiNx,感光

潍坊质监局大批采购近300台/套仪器设备

潍坊市质量技术监督局实验室仪器设备采购公开招标公告  一、采购人:潍坊市质量技术监督局 地址:潍坊市高新区卧龙东街2129号 联系方式:田菁 05368228344   二、采购内容及分包情况: 淄博市质量技术监督局实验室仪器、设备采购; 项目编号:SDYD2011-195使用单位序号设备名

Qnix 4500涂层测厚仪检测方法

  格式化文本   说明:此工具用来格式化文本。   请将文本内容复制到这里:   在化工、电子、电力、金属等行业中,为了实现对各类材料的保护或装饰作用,通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法,这样,便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念,我们称之为“覆层”。覆层

潍坊质监局千万元采购大批国产仪器设备

  日前,中国政府采购网公布了多个潍坊市质量技术监督局实验室仪器设备成交公告,采购直读光谱仪、原子荧光光度计、全自动旋光仪、离子色谱、高效液相色谱仪、红外测温仪、气相色谱等数百台/套仪器设备,其中大多数为国产仪器设备,共计采购金额1000余万元。具体中标情况如下所示:   一、

X荧光镀层测厚仪进行有害物质的检测

X荧光镀层测厚仪进行有害物质的检测  1.1样品制备:散装样品均质的各种块,板或铸件,可以利用适当的工具有一定的样本量样本。照射的样本应该是比较光滑和平整。这种分析是材料:测试样品的电影的时候,要注意均匀的薄膜厚度和组成,我们通常膜平铺覆盖到一定厚度的测试仪器计数率可以达到超过1000CPS在通常特