高性能X射线荧光镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」发售
高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司（简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市）是精工电子有限公司（简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市）的全资子公司，其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 「SFT9550X」 要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・蒸镀等金属薄膜的膜厚・组成进行测量管理，就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型......阅读全文
精工盈司用于检测大米中的镉的X射线荧光检测仪器发售
精工电子纳米科技有限公司(简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市)的全资子公司，主要从事测量分析仪器的生产和销售。本次，将于7月1日发售X射线荧光检测仪器「SEA1300VX」，无需处理就能在数分钟内检测出大
高性能X射线荧光镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」发售
高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司（简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市）是精工电子有限公司（简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市）的全资子公司，其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀
X射线镀层测厚仪对电镀层厚度检测
电镀镀层行业中，电镀镀层厚度是产品的zui重要质量指标， X射线镀层测厚仪是检测电镀层厚度必备仪器。X射线镀层测厚仪作为一种测量镀层厚度的精密仪器，在整个电镀层厚度品质检测中占非常重要的地位。它在电镀层厚度控制,品质是否达到要求,镀层是否符合客户要求及成本控制方面,X射线镀层测厚仪均可完成。对于现代
X荧光镀层厚度测量仪的功能特点有哪些
X荧光镀层厚度测量仪通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果，镀层厚度测量仪荧光或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。 x.jpg X荧光镀层厚度测量仪
X荧光镀层厚度测量仪的功能特点有哪些
X荧光镀层厚度测量仪通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果，镀层厚度测量仪荧光或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。 x.jpg X荧光镀层厚度测量
精工盈司参加NEPCON－China－2011
第二十一届中国国际电子生产设备暨微电子工业展（NEPCON China 2011）于2011年5月11日-13日在上海光大会展中心举办，这是中国表面贴装行业规模最大、影响最广、历史最悠久的一场行业盛会。 NEPCON展会是由世界领先的展览及会议活动主办机构励展博览集团主办，
X荧光射线镀层测厚仪技术原理
X荧光射线镀层测厚仪原理 XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号
X射线镀层测厚仪
提供X-ray测厚仪的操作及方法，从而了解PCB板化学镀层（金、镍、锡、银）的厚度情况。2.0 范围：适用于本公司品质部物理实验室X-ray测厚仪。3.0 X-ray测厚仪操作要求及规范3.1测试环境：温度22±3℃，湿度60±15%。3.2开机：打开测试主机、电脑、显示器，打印机电源。3.3进
精工盈司举办荧光分析仪器在文物保护的应用讲座
精工盈司电子科技（上海）有限公司与西安文物保护修复中心联合举办荧光分析仪器在文物保护领域的应用讲座 2010年11月09日上午, 精工盈司电子科技（上海）有限公司和西安文物保护修复中心一同举办了《X荧光分析仪器在金属、彩绘文物保护领域的应用》讲座。讲座现场样品分析演示
精工电子纳米科技X射线荧光分析仪全新上市
精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。 X射线荧光分析仪，因其便捷的操作性和分析的快速性，在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外，随着
X射线金属镀层测厚仪
XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开
材料荧光镀层厚度测量仪技术质量对应解决方案
在材料件上镀上金属层可以使材料的质量和价值得到很大的提升，而荧光镀层厚度测量仪技术上镀材料作为工程中的物资基础，其质量优劣对工程质量有着不可忽视的作用，因此材料行业能否稳定有序地健康发展，对工程质量的提升有着非常重要的作用。对于目前市场上出现的以次充好、欺瞒的行为，政府管理部门必将严格管理，严厉
X射线金属电镀层测厚仪
目的：提供X-ray测厚仪的操作及方法，从而了解镀层（金、镍、锡、银）的厚度情况。2.0 范围：适用于本公司品质部物理实验室X-ray测厚仪。3.0 X-ray测厚仪操作要求及规范3.1测试环境：温度22±3℃，湿度60±15%。3.2开机：打开测试主机、电脑、显示器，打印机电源。3.3进入Wi
X射线镀层测厚仪测试原理
X射线镀层测厚仪/X光镀层测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单● X射线镀层测厚仪的测量原理物质
X射线金属镀层测厚仪应用
X射线金属镀层测厚仪，X射线经过镀层界面，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。测试镀层厚度要考虑镀层材质和镀层密度等因素，如果各因素都不确定是无法分析的。XRF是X射线荧光光谱，可以检测不同位置的元素分布（11号以后的），扫面断
牛津仪器推出新款X射线荧光镀层测厚仪XStrata920
牛津仪器推出最新款快速可靠的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪X-Strata920，其稳定性和可靠性大大提升，加上圆滑的新设计，使其成为性价比极高的分析工具。 稳定性和可靠性提升 性能增强 符合安全标准 圆滑的新设计符合人体工程学 操作简单易学 牛津
精工盈司参加食品、药品分析检测技术与仪器交流会
“食品、药品分析检测技术与仪器交流会”于2011年3月29-30日在四川成都加州酒店会议室举办。 精工盈司电子科技(上海)有限公司在会上发表了以“日本精工在食品检测领域中的研究”为主题的演讲，重点介绍了利用X射线元素分析仪检测大米中的Cd。 详细资料请参考：http://www.si
电镀层测厚仪
荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外，也适用于无铅焊锡的应用。备有250种以
X射线镀层测厚仪的工作原理
X射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。 X射线镀层测厚仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法， 射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡
x射线镀层测厚仪的使用原理
X荧光分析仪的工作原理及特点荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，
精工盈司参加第二十届国际电子电路展览会
第二十届中国国际电子电路展览会(CPCASHOW 2011)于2011年3月15日～17日在上海新国际博览中心举办，同期还召开CPCA2011春季国际PCB技术、信息论坛。 精工盈司电子科技(上海)有限公司作为行业内的科研明星参加了本次展览。 本届CPCASHOW有近450家厂商参展
X光膜厚测试仪原理
X射线镀层测厚仪/X光镀层测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单● X射线镀层测厚仪的测量原理物质
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
磁性涂镀层厚度测量仪原理及影响因素
磁性涂镀层厚度测量仪原理及影响因素一、磁吸力原理测厚仪利用*磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用zui
关于膜厚测试仪的萤光X射线装置介绍
X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
X荧光镀层测厚仪的工作原理
一、X荧光镀层测厚仪的工作原理 若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。 下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光
如何检测电镀层厚度
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,操作非常方便简单 X光镀层测厚仪原理物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
铜镀银X射线无损测厚仪
铜镀银X射线无损测厚仪，荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征◆可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度◆可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。◆薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外，也适用于
美国博曼高性能XRF镀层测厚仪
膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。鼎极天代理的美国博曼高性能XRF镀层测厚仪,多年深耕镀层测厚事业经历不断创新、追求卓越、获得广泛好评最广