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原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好，稳定性高，但结构复杂，价格昂贵，应用较受限，后者结构简单，价格低，但干扰元素多，且准确性低，目前还处在继续完善阶段。分析元素范围：4号铍(Be)-92号铀(U)分析特点：分析速度快，操作简单，适合大块样品的测试；可进行元素定性分析，确定元素的类型；可实现全元素扫描；可对元素进行半定量分析，某些元素有标准物质时也可进行定量分析，检出限较高。......阅读全文
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（
X荧光光谱仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测：
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 &
天瑞仪器参展第十四届北京分析测试学术报告会及展览会（BCEIA 2011） 2011年10月12日，天瑞仪器在北京展览馆2号会议室举办了合金分析、重金属检测技术交流会。来自科研院所、高等院校的30余名专家学者参加了本次交流会，共同探讨XRF仪器新技术，及其在合金行
——访朗铎科技副总经理李勇 分析测试百科网讯 从一家创业型的仪器代理公司，发展到上亿的销售额，朗铎科技（北京）有限公司（以下简称：朗铎科技）仅仅用了3年时间。作为赛默飞世尔尼通（Niton）手持式光谱仪在合金/地矿行业的中国区总经销商，朗铎科技参展了BCEIA2017，其代理的NitonTM XL
【成分分析简介】 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量分析，鉴别、橡胶等高分子材料的材质、原材料、助剂、特定成分及含量、异物等。 【成分分析分类】 按照对象和要求：微量样品分析 和 痕量成分分
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。 一、XRF在物质成分分析上的应用 XRF应用主要取决于仪器技术和理论方法的发展。X射线荧光分析仪器有三种主要类型：实验室用
1.美国Xenemetrix（能量色散） 美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X荧光光谱仪的原理 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 （10）-12-（10）-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态.这个过程
如今，X荧光光谱仪技术已成功应用于环境、食物链、动植物、农产品、人体组织细胞及器官、生物医学材料、组织细胞、医学试剂、动植物器官、代谢产物中的无机元素测定。X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，含量范围ppb至100%，检
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。 X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻
用X光能否鉴定人体内的石状物体真的是钻石？先要了解什么是X光。 X射线的本质和光一样,是一种电磁辐射,它覆盖了从0.01nm到10nm的波段范围,对应的能量范围从125eV到125keV。通常我们把波长在0.001nm～0.1nm之间，能量较高的X射线称为硬X射线,；波长在0.1nm以上，能量
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。 X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡
X荧光镀层测厚仪进行有害物质的检测 1.1样品制备：散装样品均质的各种块，板或铸件，可以利用适当的工具有一定的样本量样本。照射的样本应该是比较光滑和平整。这种分析是材料：测试样品的电影的时候，要注意均匀的薄膜厚度和组成，我们通常膜平铺覆盖到一定厚度的测试仪器计数率可以达到超过1000CPS在通常特
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射
X荧光镀层测厚仪进行有害物质的检测 1.1样品制备：散装样品均质的各种块，板或铸件，可以利用适当的工具有一定的样本量样本。照射的样本应该是比较光滑和平整。这种分析是材料：测试样品的电影的时候，要注意均匀的薄膜厚度和组成，我们通常膜平铺覆盖到一定厚度的测试仪器计数率可以达到超过1000CPS在通常特
——访XF-8100型波长色散X荧光光谱仪首席专家白友兆博士 【导语】中国水泥产量已占到全球60％左右, 水泥生产中，普遍使用X荧光光谱仪（XRF）进行生产监控和质量管理。虽然能量色散XRF（EDXRF）和波长色散XR
单波长色散X射线荧光光谱仪应该称作单波长激发—波长色散X射线荧光光谱仪。 单波长色散型X荧光光谱仪原理： 用全聚焦型双曲面弯晶将微焦斑X线管(可看作点光源)发射的原级X射线的某个波长(通常选取出射谱中的特征X射
X射线荧光光谱技术，是一种利用样品对X射线的吸收随样品中的成分及其多少变化，来定性或定量测定样品中成分的方法。它集现代电子技术、光谱分析技术、计算机技术和化学计量学技术于一体，具有分析速度快、可测浓度宽、重现性好、非破坏性测定、测量元素范围广、成本低等特点。适合于多种类型的固态和液态物质
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。技术原理受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。 X荧光光谱仪的技术原理： 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X
X射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射
20世纪80年代初期，商品X射线荧光光谱仪主要有波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和以正比计数器为探测器的可携式X射线荧光光谱仪(PXRF)。WDXRF谱仪的送样系统和参数的设置已高度自动化，用户根据待分析试样的组成购买理论α系数表，用于校正基体中元素间的
通常认可的重金属分析方法有：紫外可见分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体法（ICP）、X射线荧光光谱（XRF）、电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）分析，但对国内用户而言，仪器成本高。也有的采