多层膜分析红外光谱法
多层膜分析-红外光谱法 多层薄膜材料，就是在一层厚度只有纳米级的材料上，再铺上一层或多层性质不同的其他薄层材料，最后形成多层固态涂层。由于各层材料的电、磁及化学性质各不相同，多层薄膜材料会拥有一些奇异的特性。目前，这种制造工艺简单的新型材料正受到各国关注，已从实验室研究进入商业化阶段，可以广泛应用于防腐涂层、燃料电池及生物医学移植等领域。多层膜由于其优秀的使用性能及廉价的成本使得被企业广泛应用。 多层膜分析是一种将切片技术与显微红外技术相互结合的优秀实用技术，这两种技术是多层膜分析的关键点，也是难点。切得干净漂亮，看得清晰，才可以对每层都充分分析。以某企业送来的测试样品为例： 上图为薄膜切片后的效果图，红线区域为夹具，作用为固定薄膜。图中我们可以发现薄膜从左到右一共有4层，且分层明显，效果达到了预期目标。分层结构越明显越利于分析测试。然后将薄膜切到5微米后，放在镀金玻璃镜片上，使用反射法......阅读全文
多层膜分析-红外光谱法
多层膜分析-红外光谱法 多层薄膜材料，就是在一层厚度只有纳米级的材料上，再铺上一层或多层性质不同的其他薄层材料，最后形成多层固态涂层。由于各层材料的电、磁及化学性质各不相同，多层薄膜材料会拥有一些奇异的特性。目前，这种制造工艺简单的新型材料正受到各国关注，已从实验室研究进入商业化阶段，可以广泛应用于
红外光谱法的分析
红外光谱具有鲜明的特征性，其谱带的数目、位置、形状和强度都随化合物不同而各不相同。因此，红外光谱法是定性鉴定和结构分析的有力工具 ①已知物的鉴定 将试样的谱图与标准品测得的谱图相对照，或者与文献上的标准谱图（例如《药品红外光谱图集》、Sadtler标准光谱、Sadtler商业光谱等）相对照，
氮化物/钽多层膜的制备及性能研究
气相沉积薄膜赋予材料表面特殊的物理、化学和机械性能，在航天航空、微电子、机械制造等领域有着重要的应用，特别是在金属切削加工刀具的性能提高方面，具有举足轻重的作用。气相沉积的多层膜往往具有基体和单层膜难以达到的特殊性能，是当前薄膜材料理论与技术的研究热点之一。已有的关于氮化物/金属多层膜的研究成果，预
湖南公布《多层复合食品包装膜、袋》地方标准
湖南地方标准《多层复合食品包装膜、袋》实施三个月，已有超过半数的生产企业采用新标准。10月12日，湖南省质量技术监督局公布标准细则，并召开宣贯会广而告之，相关生产企业积极配合。此举将有效提高相关产品的监管能力和质量安全。 现状：食品相关产品安全风险陡增 自2007年以来，我国对食品用塑料
红外光谱法
一定频率的红外光辐照能导致被照射物质分子在振动、转动能级上的跃迁。当分子中某些化学键或基团（具有偶极特性）的振动频率与红外辐射的频率一致时，分子便吸收此红外辐射（一种共振吸收）。若以频率连续改变的红外光辐照试样，由于试样对不同频率的红外光的吸收不同，便得到以吸光度A或透光率T为纵坐标，红外辐射波数或
红外吸收光谱法结构分析初步
红外吸收光谱法结构分析初步一、 实验目的1、 掌握一般固体试样的制样方法以及压片机的使用方法。2、 了解红外光谱仪的工作原理。3、 掌握红外光谱仪的一般操作。二、 实验原理红外吸收光谱是由于分子中振动能级的跃迁而产生的。由于不同物质或同一物质的不同聚集态中各基团固有的振动频率不同或结构的不同，导致所
多层织物热防护性能分析
选用消防员灭火防护服常用外层、舒适层、隔热层以及防水透气层组成3层和4层结构织物,测试其整体热防护能力(TPP)值,分析隔热层和防水透气层对多层结构织物整体热防护性能的贡献。在喷湿量5%、10%、15%、20%的条件下,探讨喷湿方向、喷湿量和润湿时间对织物TPP值的影响。结果表明:防水透气层对多层
输液袋多层共挤膜氮气阻隔性能的试验
为了有效降低注射液内氧气含量，有些注射液产品采用充氮气方法，即提高输液袋内氮气浓度，尽可能降低内部氧气浓度，使得注射液处在低氧或绝氧环境中。因此，为了保证袋内氮气不易散失，以维护高氮低氧的环境，输液袋必须对内部氮气具有较高的阻隔性，即氮气透过率较低。企业需要对输液袋多层共挤膜材料进行氮气阻隔性能的检
多层共挤重包装膜、袋厚度测试解决方案
摘要：随着社会对环保等方面要求的日益提高,环保,美观的FFS重包装膜顺势发展,潜力巨大。自2001年起,中国的重包装袋市场随着一些新的石化企业的投产而获得发展机会。FFS重包装膜取代传统包装形式的潜力巨大。随着我国重包装市场的逐步国际化,中国包装业面临更严峻的挑战和的机遇,采用更先进的FFS包装形式
长春光机所极紫外多层膜膜厚分布超高精度控制研究获进展
近日，中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室金春水研究团队在极紫外多层膜膜厚分布超高精度控制研究方面取得新进展：通过采用遗传算法，实现了Φ200mm曲面基底上极紫外多层膜膜厚分布控制精度优于±0.1%，镀膜引起的不可补偿面形误差小于0.1nmRMS，相关指标达到国际先进水平