近红外光纤光谱仪矫正和测试
近红外光谱仪主要是依靠近红外光谱原理来进来一系列的测量，而近红外光谱又是由于分子振动的非谐振性使分子振动从基态向高能级跃迁时产生的，记录的主要是含氢基团X－H（X=C、N、O）振动的倍频和合频吸收。不同团（如甲基、亚甲基，苯环等）或同一基团在不同化学环境中的近红外吸收波长与强度都有明显差别，NIR 光谱具有丰富的结构和组成信息，非常适合用于碳氢有机物质的组成与性质测量。但在 NIR区域，吸收强度弱，灵敏度相对较低，吸收带较宽且重叠严重。 因此，依靠传统的建立工作曲线方法进行定量分析是十分困难的，化学计量学的发展为这一问题的解决奠定了数学基础。其工作原理是，如果样品的组成相同，则其光谱也相同，反之亦然。如果我们建立了光谱与待测参数之间的对应关系（称为分析模型），那么，只要测得样品的光谱，通过光谱和上述对应关系，就能很快得到所需要的质量参数数据。分析方法包括校正和预测两个过程： （1）在校正过程中，收集一定量有代表性的样品（......阅读全文
近红外光纤光谱仪 矫正和测试
近红外光谱仪主要是依靠近红外光谱原理来进来一系列的测量，而近红外光谱又是由于分子振动的非谐振性使分子振动从基态向高能级跃迁时产生的，记录的主要是含氢基团X－H（X=C、N、O）振动的倍频和合频吸收。不同团（如甲基、亚甲基，苯环等）或同一基团在不同化学环境中的近红外吸收波长与强度都有明显差别，NIR
近红外光谱仪分析方法的校正和预测过程
近红外光谱仪在常规光纤中有良好的传输特性，且其仪器较简单、分析速度快、非破坏性和样品制备量小、几乎适合各类样品分析、多组分多通道同时测定等特点，成为在线分析仪表中的一枝奇葩。近几年，随着化学计量学、光纤和计算机技术的发展，近红外光谱仪技术正以惊人的速度应用于包括农牧、食品、化工、石化、制药、烟草等
近红外光谱仪分析方法的校正和预测过程
近红外光谱仪在常规光纤中有良好的传输特性，且其仪器较简单、分析速度快、非破坏性和样品制备量小、几乎适合各类样品分析、多组分多通道同时测定等特点，成为在线分析仪表中的一枝奇葩。近几年，随着化学计量学、光纤和计算机技术的发展，近红外光谱仪技术正以惊人的速度应用于包括农牧、食品、化工、石化、制药、烟
近红外光纤光谱仪对LED及薄膜厚度的测试
近红外光纤光谱仪采用背照式CCD，相比普通光谱仪，其紫外灵敏度提升。同时，采用双闪耀光栅，配备消高阶滤光片，基于100.0mm焦距光学平台，在全波谱范围提供了均衡的灵敏度和较高的分辨率，是一款适合多种科研应用的光谱仪。 光纤光谱仪以其检测精度高、速度快等优点，已成为光谱测量学中使用的重要测量仪器
近红外光纤光谱仪简介和特点
近红外光纤光谱仪是基于avabench-50 光学平台，采用对称式 czerny-turner光路设计 , 采用256像素的ingaas 探测器阵列。光谱仪有一个光纤输入接口（标准的 sma, 可选其他类型）、准直镜、聚焦镜和衍射光栅。可以选择 4种不同色散系数和闪耀波长的光栅，实现 900-1
近红外光纤光谱仪的参数简介
光学平台 对称式czerny-turner光路设计，50 mm焦距 波长范围 900 -1750nm 分辨率 2.0 -50 nm 杂散光 < 0.1% 灵敏度 (avalight-hal, 8 µ；m芯径光纤) 单位：记数/µ；w每毫秒积分时间 350 探测器 线阵in
近红外光纤光谱仪的应用简介
近红外光纤光谱仪采用高性能的光学平台，具有较低的电子噪声和多个光栅的选择。采用紧凑的平台设计即插即用的通讯接口，有900-1700 nm, 900-2100 nm 和900-2500 nm三个测量范围的选择。采用用户定制化的设计可广泛应用于医学，药物学，环境学和生产控制流程中。
近红外光纤光谱仪用于酒曲检测
酒曲生产需要一定的发酵周期，发酵过程不便调控，因此酒曲的化学成分分析对于制曲生产起着相当重要的作用。通过运用近红外技术快速分析酒曲中的水分、酸度、淀粉等指标指导生产，为发酵微生物的活动创造良好的物质环境基础。传统的酒曲检测方法较为落后且费时费力，检验过程也会造成药品的消耗和废液的产生。近红外光纤光谱
近红外光谱仪包括校正和预测两个过程
随着近年来近红外光谱仪的增加，越来越多的高质量近红外光谱仪已在中国市场应用，以提高各元素之间的检测效果，其中原子荧光分析仪设备的应用这种技术为中国光谱仪器的检测带来了更好的技术支持。这种近红外光谱仪检测技术的应用在中国的许多领域都不容忽视。 近红外光谱仪分析方法包括校正和预测两个过
近红外光谱仪包括校正和预测两个过程
随着近年来近红外光谱仪的增加，越来越多的高质量近红外光谱仪已在中国市场应用，以提高各元素之间的检测效果，其中原子荧光分析仪设备的应用这种技术为中国光谱仪器的检测带来了更好的技术支持。这种近红外光谱仪检测技术的应用在中国的许多领域都不容忽视。 近红外光谱仪分析方法包括校正和预测两个过程：