能量色散X射线荧光(EDXRF)的相关介绍
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中，样品中的所有元素都被同时激发，而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合，用于同时收集从样品发射的荧光辐射，然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决于检测仪，通常范围为 150 eV -600 eV。EDXRF 系统的主要优点是简单、快速、无运动部件和较高的源效率。 X 射线光学晶体可用于增强 EDXRF 仪器。对于常规 XRF 仪器，样品表面典型焦斑尺寸的直径范围从几百微米到几毫米不等。多毛细管聚焦光学晶体从发散 X 射线源收集 X 射线，并将它们引导至样品表面上形成直径小到几十微米的小聚焦光束。由此增加的强度以小焦斑传递到样品，可增强用于小特性分析的空间分辨率和用于微 EDXRF 应用的微量元素测量性能。......阅读全文
能量色散－X－射线荧光－(ED－XRF)的相关介绍
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中，样品中的所有元素都被同时激发，而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合，用于同时收集从样品发射的荧光辐射，然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决
XRF9能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料
XRF9能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、
XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪
X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品
X射线荧光（XRF）仪的结构组成介绍
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器
波散XRF与能散XRF的区别
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
X射线荧光光谱仪分类中波长和能量有什么区别
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍
X荧光光谱仪分类及比较
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
XRF的两大类型，波长色散型和能谱色散型区别何在？
X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后
微－X－射线荧光－(µXRF)的基本信息介绍
微 X 射线荧光 (µXRF) 是一种元素分析技术，它允许检测非常小的样品区域。与传统的 XRF 仪器一样，微 X 射线荧光通过使用直接 X 射线激发来诱导来自样品的特性 X 射线荧光发射，以用于元素分析。与传统 XRF 不同（其典型空间分辨率的直径范围从几百微米到几毫米），µXRF 使用 X
能量色散X射线荧光光谱技术基本介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
微－X－射线荧光－(µXRF)技术详解
微 X 射线荧光 (µXRF) 是一种元素分析技术，它允许检测非常小的样品区域。与传统的 XRF 仪器一样，微 X 射线荧光通过使用直接 X 射线激发来诱导来自样品的特性 X 射线荧光发射，以用于元素分析。与传统 XRF 不同（其典型空间分辨率的直径范围从几百微米到几毫米），µXRF 使用 X 射线
X射线荧光光谱仪(XRF)－简介
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
单波长能量色散X射线荧光分析技术
单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术，将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
X射线荧光仪的相关介绍
X射线荧光仪一般是采用，激发样品中的目标元素，使之产生特征X射线，通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。 仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器（正比计数管及闪烁计数器）能量分辨率不高，不能区
x射线荧光光谱仪－SPECTRO－XEPOS的广泛应用
斯派克XEPOS能量色散x射线荧光光谱仪(ED-XRF)重新定义ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光谱仪代表了能量色散x射线荧光技术的飞跃。它提供突破性的进步multi-elemental分析专业,小,微量元素浓度。新发展激励和检测提供出色的灵敏度和检测限制收益显著的精密度和准确
能量色散X射线荧光光谱技术
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
单波长X射线荧光光谱仪原理与应用
一、 概述 单波长X射线荧光光谱仪（Monochromatic Excitation X-ray Fluorescence Spectrometer: ME XRF），也可称为单色化激发X射线荧光光谱仪，其通过单色化光学器件将X射线管出射谱某单一波长（对应单一能量）衍射取出并照射样品，由于消除
XRF－能量色散型－X射线荧光光谱仪对人辐射大吗
日本岛津的EDX-GP是有一个上海环境保护局发出的关于其辐射豁免的正式文件，其他仪器型号你可问一下仪器厂商是否有关于这方面的证明。X荧光射线算射线中辐射危害量较小的，射线的辐射危害最大的是γ射线，若将γ射线比喻成黄蜂，那X荧光射线就相当于蜜蜂。所以单个对人体的危害不是很大，但是你们那个15平方的小房
X射线荧光分析技术相关介绍
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
色散型与能量型x射线光谱仪各有什么优缺点
一、X一射线荧光分析仪(XRF)简介X一射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理I.波长色徽型X射线荧光光诺仪(WD-XRF)是