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1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ?TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开，晶粒晶界都较模糊。3.做TEM测试时样品有什么要求？很简单，只要不含水分就行。如果样品为溶液，则样品需要滴在一定的基板上（如玻璃），然后干燥，再喷碳就可以了。如果样品本身导电就无需喷碳。4.水溶液中的纳米粒子如何做TEM？透射电镜样品必须在高真空中下检测，水溶液中的纳米粒子不能直接测。一般用一个微栅或铜网，把样品捞起来，然后放在样品预抽器中，烘干即可放入电镜里面测试。如果样品的尺寸很小，只有几个纳米，选用无孔的碳膜来捞样品即可。5.粉末状样品怎么做TEM？扫描电镜测试中粉末样品的制备多采用双面胶干法制样，和选用合适的溶液超声波湿法制样。分散剂在扫......阅读全文
国际微观分析仪器领导厂商EDAX公司，于2012年3月发布了最新的微观分析产品TEAMTM PEGASUS系统。该产品集成了EDAX公司世界一流的能谱仪(EDS)和电子背散射衍射(EBSD)的硬件系统和EDAX公司广受欢迎的最先进的TEAMTM 软件系统，是EDAX公司下一代智
美国EDAX公司是国际知名的微观分析产品生产商，在能量色散X-射线能谱分析(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)和微束X-射线荧光分析(μ- XRF)领域拥有全球领先的技术，一直为半导体、金属、地质、医药、生物、材料和陶瓷等市场的一流企业提供产品和服务。 2012年4月10日至13日，
2011年1月17日，由北京理化分析测试技术学会和北京电镜学会主办的2010年北京电镜年会在北京天文馆4D科普剧场隆重召开。本次年会以推动北京及周边省市广大电子显微学
2012年12月17日，北京天文馆，2012年度北京市电子显微学年会隆重召开，年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。 旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来
1.美国Xenemetrix（能量色散） 美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光
分析测试百科网讯 2018年12月18日，2018年度北京市电子显微学年会在北京市天文馆隆重召开。此次会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。本次会议共有200余人出席。分析测试百科网作为支持媒体为您带来全程报道
2013年12月24日， 2013年度北京市电子显微学年会（电镜年会）在北京天文馆隆重召开，年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。本次会议以推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、
目的:应用计算机辅助设计和快速成型技术预制个体化钛修复体修复下颌角缺损,为该方法在临床的广泛应用提供实验基础和初步的临床经验。方法:在动物实验研究部分,我们将16只小型猪均分为两组,制作了小型猪下颌角缺损的动物模型(A组8只小型猪行左侧下颌角截骨术,B组8只小型猪行双侧下颌角截骨术)。根据术前、术后
透射电镜的相关知识 19世纪电磁学得到了空前的发展，与此同时，电气照明引起了人们浓厚的兴趣。在低压气体放电方面，人们发现其放电时出现一种奇特的现象-阴极射线，在人们围绕其波动还是粒子本性争论时，1898年，J.J. Thomason 用磁场偏转法等一系列实验证明其是带电的粒子，这标志着电子的
用EDAX结合扫描电镜（SEM）分析了无碱MgO-ZnO-Al2O3-ZrO2-SiO2玻璃碱侵蚀过程中表面层成分的变化,研究了各种实验条件（如激发电压、计数时间,配合指数等）的影响,并测定了侵蚀层厚度。结果表明激发电压时分析结果有重大影响,而计数时间与配合指数与分析结果关系不大。在低的激发电压下取
本文提出了一种利用EDAX PV9900能谱仪半定量分析（SUPQ）中的峰背拟合（INTE）功能来正确识别X射线能谱重叠峰的可行方法,并以Ag-SnO2-In2O3合金材料为试样给出了几则应用实例和相应的实验结果。初步研究表明,该方法结合定性分析（EDAX）中的谱线识别（ID）功能可正确识别两峰能量
主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。随着
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2018第九届中国纳博会将于10月24-26日在苏州工业园区盛大召开，“分析与检测”是其重要的展览范围，同期还将举办“分析检测应用论坛”。 据了解，此次“分析检测应用论坛”由中科院苏州纳米所测试分析平台和胜科纳米（苏州）有限公司联合主办，旨在促进高精尖仪器在纳米技术和芯片领域分析检测的应用，解
对于电子薄膜材料研究,薄膜的微观结构、成分和厚度是决定薄膜性能的一个关键因素。如何表征薄膜的微观结构、成分和厚度也一直是薄膜研究领域的一个重要课题,尤其是应用无损表征方法。扫描电子显微镜配备X射线能谱仪分析技术（电子探针能谱）能够观察微观形貌和分析薄膜的微区成分的同时,根据电子束的穿透深度可测量薄膜
1938 年德国的阿登纳制成了第一台扫描电子显微镜，1965 年英国制造出第一台作为商品用的扫描电子显微镜，使扫描电子显微镜进入实用阶段。近 20 年来，扫描电子显微镜发展迅速，多功能的分析扫描电镜（即扫描电镜带上能谱仪、波谱仪、荧光仪等）既能做超微结构研究，又能做超微结构分析，既能做定性、定量分析
1984年3月5日至9日在美国大西洋城(Atlantic City)召开了有关分析化学的匹兹堡会议和展览会(Pittsburgh Conference and Exposition)。当时笔者正在美国,有机会参观了该展览会,着重观看了和电子显微镜配接的X射线能谱仪。会上展出了TN 5500、KEVE
本文提出运用FFT,对双路实测能谱信息在变换域中加以滤波修正,同时完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EM专利程序,并与诸元素特征峰及背底的谱分析相比较,获取滤波修正频窗。文中编制了双路能谱同时作滤波修正程序。试验表明:此法实现了数据压缩及零相位校正,增快了滤波速度,减小了相位滞移量,提高了分
气溶胶是大气环境的重要组成部分,其成分比较复杂,并随来源的不同而异,而对人体健康的影响则决定于其粒度,结构和组成。本文提供了一种以玻璃态石墨为衬底,对气溶胶颗粒直接进行扫描电镜观察(JSM—35C型)和X射线能谱分析(EDAX—9100型)的方法。通过对承德地区气溶胶颗粒的观察和分析,发现小于1μm
本文通过在EM400T透射电镜上用一些标准成分的样品进行薄膜无标样成份分析实验,检验了EDAX9100能谱仪的分析准确度。在本试验所用的样品范围内,其准确度为:近邻元素同一X光线系分析相对误差为5～10％,非近邻元素不同线系分析相时误差较大,可达20～50％。试验证明在分析元素的质量吸收系数之差Δμ
含钪扩散阴极具有极其优异的低温高电流密度的电子发射的能力,是目前唯一能满足新型电子器件发展要求的热阴极材料。但含钪扩散阴极存在发射均匀性不好、抗离子轰击性差以及价格昂贵等因素的制约而没有获得广泛的应用。本论文首次制备了复合稀土Eu2O3-Sc2O3、Y2O3-Sc2O3掺杂的钨粉,通过粉末压制、烧结
前言如果要分析材料微区成分元素种类与含量，往往有多种方法，其打能谱就是我们最常用的手段中打能谱。能谱具有操作简单、分析速度快以及结果直观等特点，最重要的是其价格相比于高大上的电镜来说更为低廉，因此能谱也成为了目前电镜的标配。今天新能源前线团队专门搜集了有关能谱（EDS）的各种问题，汇总成文，希望能给
本文利用EM400T透射电子显微镜和EDAX9100能谱仪研究微量元素在晶界的偏聚。通过本文采用的电子束直径小到40A的微探针,低背底样品台,沿晶界拉长束斑,分段积分等措施,明显地提高了分析灵敏度。用这种方法测量了含磷820ppm的Si-Mn高强度钢和含镁94ppm的GH169高温合金中P和Mg的晶
纳博会分析测试应用研讨会二度降临什么样？——专访主办方“胜科纳米”副总经理李晓东 距离2019年第十届“纳博会”开幕还有114天的时间，相关主办和参展单位正紧锣密鼓的为此准备着。近日我们有幸拜访到了去年第九届中国国际纳米技术产业博览会同期召开的“首届纳博会分析测试应用研讨会”的主办方——胜
扫描电镜一种新型的多功能的，用途最为广泛的电子光学仪器。数十年来，扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中，促进了各有关学科的发展。关键词：扫描电镜;应用1938 年德国的阿登纳制成了第一台扫描电子显微镜，1965 年英国制造出第一台作为商品用的扫描电镜，使扫描电镜进入实用阶段。近
使用扫描电镜（SEM）、X射线能谱分析（EDAX）和X射线衍射分析（XRD）对给水管网中灰口铸铁管和焊接钢管上的管内壁腐蚀管垢进行外观特征、微观形态、化学元素组成和化合物构成等物理化学特征分析。发现管垢外部平滑而致密,内部为疏松多孔结构。铁是管垢最重要的化学组成,管垢基本上由各种含铁的化合物组成。焊
材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段，也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析，从认识材料的分析仪器着手。 成分分析简介 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量
纳博会检测、分析、研讨，怎么能少的了您的身影？ 遥想纳博当年，大会初办了，群情激昂！小纳清晰的记得，2018年第九届纳博会，同期举办的第一届“纳博会分析测试应用研讨会”，得到了Thermo fisher、Bruker、牛津仪器、leical、日立、Zeiss、Tescan、PHI、EDAX
亲爱的用户： 第十四届北京分析测试学术报告会既展览会(BCEIA 2011)即将于10月12-15日在北京召开。美国阿美特克旗下子公司Grabner Instruments，Spectro Instruments，CAMECA，EDAX，Solartron Instruments将携手
本文提出了一种用EDAX PV9900能谱仪半定量分析(SUPQ)中的峰背拟合(INTE)功能来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法。文章重点总介绍了该方法的基本原理和应用实例分析,给出了相应的实验结果。