半导体参数仪
半导体参数仪是一种用于物理学领域的科学仪器，于2015年9月17日启用。 4200-SCS/F半导体特性分析系统主机，2个高分辨率中功率SMU 最大电流100mA，最大电压200V，最大功率2W 4200-SMU高分辨率中功率SMU（源测量单元） 最大电流100mA；最大电压200V；最大功能2W；配置有4200-PA，扩展电流分辨率至0.1fA 4200-CVU C-V测试单元，扫描频率范围1KHZ-10MHz。......阅读全文
半导体参数仪
半导体参数仪是一种用于物理学领域的科学仪器，于2015年9月17日启用。 4200-SCS/F半导体特性分析系统主机，2个高分辨率中功率SMU 最大电流100mA，最大电压200V，最大功率2W 4200-SMU高分辨率中功率SMU（源测量单元） 最大电流100mA；最大电压200V；最大功能
半导体参数测试仪
半导体参数测试仪是一种用于工程与技术科学基础学科领域的仪器，于2016年12月08日启用。 技术指标 1.小电流i-v ： 超低漏电流（fA），最 大电压200V，最大电流1A； 2.高电压I-V ： 最大电压1000V 3.通用I-V ： 适合于大多数参数测试 4.c-v单元： 能够在1M
什么是半导体参数分析仪
半导体参数分析仪（器件分析仪）是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器，可准确执行电流-电压（IV）和电容测量（CV（电容-电压）、C - f（电容-频率）以及 C – t（电容-时间）测量），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。半导体参数测试是确定半导体器件特征及其制造过程的一
半导体激光器的常用参数
半导体激光器的常用参数可分为：波长、阈值电流Ith 、工作电流Iop 、垂直发散角θ⊥、水平发散角θ∥、监控电流Im。（1）波长：即激光管工作波长，可作光电开关用的激光管波长有635nm、650nm、670nm、激光二极管690nm、780nm、810nm、860nm、980nm等。（2）阈值电流I
半导体特性测试仪
半导体特性测试仪是一种用于化学工程领域的物理性能测试仪器，于2016年05月01日启用。 技术指标 支持多达9个精密直流源测量单元，能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压。 主要功能 参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和
年度创新：Ion PGM半导体测序仪
【导读】Rothberg博士的梦想是打造测序领域的“数码相机”，既实惠又易用，还能快速得到结果。他确实做到了。与其他测序平台相比，Ion PGM™ 测序仪快速、简捷，扩展性好，更关键的一点是，价格实惠。它让测序平民化，让每个实验室都触手可及。 半导体技术已经改变了它所触及的每一个行业，从计算到摄影
开关参数测试仪的产品参数
1、时间测量 同时可测量断口数：≤12个 测定过程整定时间：0～6秒 分辨率：0.1ms 2、开关开距、开关超行程、弹跳幅度测量 量程：＜1000mm 分辨率：1mm 3、测量误差 时间测量误差：±1% 行程测量误差：±1% 4、速度测量范围：0～20m/s
土壤三参数仪采集主机的参数
采集主机 速测仪尺寸：176*96*40 (mm) 屏 幕：液晶显示器50*65（mm） 记录间隔： 1分钟～24小时之间可调 重 量：记录仪240克 可接探头：土壤水分FDR原理 可存储数据：＞10万条 数据导出：USB接口，方便数据导出 上位机软件：免费赠送 供 电：5节5
Illumina透露半导体测序仪的更多细节
2016年度的基因组生物学技术进展大会（AGBT）于上周在美国奥兰多举行。Illumina的CEO Jay Flatley在大会上宣布了其半导体测序平台，即Firefly计划的更多细节。 Flatley表示，Firefly将打开新的市场，因为它是如此简单。最终目标是制成这样一种设备，输入的是
半导体式气体检测仪概述
半导体式气体检测仪是利用一些金属氧化物半导体材料，在一定温度下，电导率随着环境气体成份的变化而变化的原理制造的。比如，酒精传感器，就是利用二氧化锡在高温下遇到酒精气体时，电阻会急剧减小的原理制备的。 半导体式气体检测仪可以有效地用于：甲烷、乙烷、丙烷、丁烷、酒精、甲醛、一氧化碳、二氧化碳、乙烯