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分子荧光和分子磷光

分子和原子一样,也有它的特征分子能级,分子内部的运动可分为价电子运动、分子内原子在平衡位置附近的振动和分子绕其重心的转动。因此分子具有电子能级、振动能级和转动能级。 分子从外界吸收能量后,就能引起分子能级的跃迁,即从基态跃迁到激发态,分子吸收能量同样具有量子化的特征,即分子只能吸收等于二个能级之差的能量,符合:⊿E=E2-E1=hν=hc/λ 由于三种能级跃迁所需能量不同,所以需要不同波长的电磁辐射使它们跃迁,即在不同的光学区域出现吸收或发射谱带。 某些物质的分子吸收一定能量后,电子从基态跃迁到激发态,以光辐射的形式从激发态回到基态,这种现象称为分子发光,在此基础上建立起来的分析方法为分子发光分析法。 根据分子受激时所吸收能源及辐射光的机理不同分为: 光致发光:以光来激发而发光有分子荧光分析法和分总磷光分析法。 电致发光:以电能来激发而发光 生物发光:以生物体释放的能量激发而发光 化学发光:以化学反应能激发而......阅读全文

分子荧光和分子磷光

  分子和原子一样,也有它的特征分子能级,分子内部的运动可分为价电子运动、分子内原子在平衡位置附近的振动和分子绕其重心的转动。因此分子具有电子能级、振动能级和转动能级。  分子从外界吸收能量后,就能引起分子能级的跃迁,即从基态跃迁到激发态,分子吸收能量同样具有量子化的特征,即分子只能吸收等于二个能级

荧光\磷光与分子结构的关系

产生荧光的有机物质,都含有共轭双键体系,通常>1个苯环。共轭体系越大,离域大π键的电子越容易激发,荧光与磷光越容易产生。

发射光谱法与原子荧光、分子荧光、分子磷光法的差别?

原子发射是利用高温等产生气态原子并将它们激发,收集测量回到基态时所发出的光,原子发射光谱的特点是复杂,一个原子可能有好多条谱线,可定性,也可定量。原子荧光,可分为两种,一种是x-ray荧光,是对于内层电子的激发,导致外层电子向内层跃迁,产生的荧光。另一种是用特定光源去激发外层电子,并测量荧光。特点是

原子发射光谱法与原子荧光、分子荧光、分子磷光法的差别

  原子发射是利用高温等产生气态原子并将它们激发,收集测量回到基态时所发出的光,原子发射光谱的特点是复杂,一个原子可能有好多条谱线,可定性,也可定量。  原子荧光,可分为两种,一种是x-ray荧光,是对于内层电子的激发,导致外层电子向内层跃迁,产生的荧光。另一种是用特定光源去激发外层电子,并测量荧光

原子发射光谱法与原子荧光、分子荧光、分子磷光光谱法...

原子发射光谱法与原子荧光、分子荧光、分子磷光光谱法的差别 原子发射是利用高温等产生气态原子并将它们激发,收集测量回到基态时所发出的光,原子发射光谱的特点是复杂,一个原子可能有好多条谱线,可定性,也可定量。原子荧光,可分为两种,一种是x-ray荧光,是对于内层电子的激发,导致外层电子向内层跃迁,

荧光和磷光的产生

荧光和磷光的产生涉及光子的吸收和再发射两个过程。 1.激发过程 分子吸收辐射使电子能级从基态跃迁到激发态能级,同时伴随着振动能级和转动能级的跃迁。在分子能级跃迁的过程中,电子的自旋状态也可能发生改变。应用于分析化学中的荧光和磷光物质几乎都含有π→π*跃迁的吸收过程,它们部含有偶数电子。根据泡里不相容

分子荧光和磷光光谱分析法机理

产生机理1、荧光\磷光的产生       激发后分子的多重性可能改变( S/T两态).单重态: 所有电子自旋都配对的分子的电子状态。大多数有机物分子的基态是单重态。当处于基态的一对电子中的一个被激发到较高能级,其自旋方向没有改变,分子仍处于单重态。三重态:  有两个电子的自旋不配对而平行的状态。激发

【干货】分子光谱分析法第四弹—分子荧光和分子磷光

分子和原子一样,也有它的特征分子能级,分子内部的运动可分为价电子运动、分子内原子在平衡位置附近的振动和分子绕其重心的转动。因此分子具有电子能级、振动能级和转动能级。   分子从外界吸收能量后,就能引起分子能级的跃迁,即从基态跃迁到激发态,分子吸收能量同样具有量子化的特征,即分子

【干货】分子光谱分析法第四弹—分子荧光和分子磷光

  分子和原子一样,也有它的特征分子能级,分子内部的运动可分为价电子运动、分子内原子在平衡位置附近的振动和分子绕其重心的转动。因此分子具有电子能级、振动能级和转动能级。  分子从外界吸收能量后,就能引起分子能级的跃迁,即从基态跃迁到激发态,分子吸收能量同样具有量子化的特征,即分子只能吸收等于二个能级

新型荧光新材料可100%替换磷光

  西安宝莱特光电科技有限公司推出新材料--荧光100%系列化合物(结构式见下图):   新材料特点是发光效率高、价格低。传统的荧光材料电能转化成光能效率为25%,新材料电能转化成光能的效率接近100%。新材料与发光效率较高磷光材料相比,它与无需使用高成本的稀有金属即可实现高发光效率。据测算器件制