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透射电镜高分辨成像是材料等研究领域的重要分析手段，然而高分辨像像衬度（简称像衬）与晶体结构之间的关系并不是显而易见的：像衬除了会受成像条件（如欠焦量）的影响，还随着样品厚度的变化而变化，像差校正电镜中尤其严重。所以为了解释高分辨像衬需要理解成像条件和样品厚度对像衬的影响。 从物理过程上讲，透射电镜成像分为两个过程：电子与物质的相互作用形成出射波；出射波经过磁透镜调制生成电子显微像。电子与物质的相互作用可以用多层法精确描述，但是由于多层法公式复杂，无法将计算得到的出射波函数与样品的投影势函数一一对应起来。为了对高分辨像进行解释，前人发展了弱相位物体近似理论，在特殊的成像条件下，高分辨像和投影势图一一对应。但弱相位物体近似完全忽略样品厚度对电子的散射，所以无法解释厚度对图像衬度的影响。李方华等人将多层法相关思想和弱相位物体近似理论相结合，发展了赝弱相位物体近似理论，在准相干近似下，成功预测高分辨像中原子位置对应的衬度随厚度的变......阅读全文
2012年12月17日，北京天文馆，2012年度北京市电子显微学年会隆重召开，年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。 旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来
分析测试百科网讯 2019年12月17日，2019年度北京市电子显微学年会隆重举行。本次会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。会议共有200余人出席、参与。分析测试百科网作为支持媒体为您带来全程跟踪报道。年会签
美国《国家科学院院刊》（Proceedings of the National Academy of Science, USA）1月10日在线发表了中国科学院生物物理研究所朱平研究组程凌鹏副研究员等人的研究论文——Atomic model of a cypovirus
高分辨透射电子显微镜是研究微观结构的有力工具。获得可解释的高分辨像，样品厚度要满足苛刻的要求-弱相位物体近似。可以选择在Scherzer欠焦下观察，但有时不得不在大欠焦下拍摄图像提高图像衬度，比如在冷冻电镜中通常拍摄的离焦量为1-2μm，通过扣除成像过程中的衬度传递函数来获得样品的投影结构。实际
天津汇晶科技发展有限公司的杨新先生 来自天津汇晶科技发展有限公司的杨新先生介绍了《CAMSCAN扫描电镜最新技术》。Obducat Camscan 公司在扫描电子显微镜制造业享有盛誉，是现存历史最久
分析测试百科网讯 2019年10月16日，2019年全国电子显微学学术年会在合肥隆重举行。本届年会主题是“中国电子显微学快速发展的新时代”，共开设了10个精彩分论坛，为中国电镜人带来一场学术盛宴。本次会议共有近1300余人出席、参与。分析测试百科网与中国电子显微镜学会共同为您带来年会精彩报导。北
2019年上半年很快就结束了，iNature盘点了中国学者在Cell，Nature及Science发表的成果，我们发现总共有86篇（截至2019年6月24日），具体介绍如下： 4-6月发表的文章 【1】2019年6月21日，西北工业大学王文，中科院昆明动物研究所/BGI 张国捷及丹麦哥本哈根