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半导体X射线探测器相关介绍

半导体探测器是以半导体材料为探测介质的辐射探测器。锗和硅是我们最通用的半导体探测材料,其基本原理与气体电离室相类似。晶体计数器可以认为是半导体探测器的前身,20世纪初期人们发现在核辐射下可以通过某些固体电介质产生电导现象,在这之后金刚石、氯化银等晶体计数器又相继被人们发明。可是我们至今无法解决晶体极化效应的问题,所以目前可以达到实用水平的只有金刚石探测器。20世纪中期有人在使用α粒子照射锗半导体点接触型二极管时,发现有电脉冲输出。1958年第一个金硅面垒型探测器被设计完成,直到20世纪60年代初期锂漂移型探测器被研制成功后,半导体探测器才得到迅速的发展。 半导体探测器的工作原理如图4所示。将工作电压加在电极K和A上后,固体介质内部会形成很强的电场区。这时进入介质后的带电粒子,因为电离作用从而会产生电子——空穴对,并且在强电场作用下,电子和空穴将各自按照自身相反的电极方向迅速移动,并产生感应电荷,随之形成信号脉冲输出在负载R......阅读全文

半导体X射线探测器相关介绍

  半导体探测器是以半导体材料为探测介质的辐射探测器。锗和硅是我们最通用的半导体探测材料,其基本原理与气体电离室相类似。晶体计数器可以认为是半导体探测器的前身,20世纪初期人们发现在核辐射下可以通过某些固体电介质产生电导现象,在这之后金刚石、氯化银等晶体计数器又相继被人们发明。可是我们至今无法解决晶

X射线探测器的结构相关介绍

  CT机种的X射线探测器结构如图所示。位于管套中的真空管为旋转阳极式的射线管。管内设有阳极、阴极、灯丝和转子,在真空管外部对应阳极转子处设有定子线圈。定子线圈通入电流产生旋转磁场,在铜质的转子中产生。  一个典型的探测器包括:闪烁体、光电转换阵列和电子学部分。此外还有软件、电源等附件。目CT中常用

X射线探测器相关内容

  X射线探测器主要是用于测量目标样品发出的X射线荧光,目前市场上已经有多种不同类型的X射线荧光分析探测器可用。能量色散X射线荧光光谱分析技术通常使用的为固态探测器,例如SI-PIN探测器或者硅漂移探测器(SSD)等。每种类型的探测器在不同的应用方面都具有不同的优劣势,因此并不存在最好与最差之分,只

“新型CZT半导体X射线和γ射线探测器研制”专项通过验收

  科技部评估中心于2017年4月14日在北京组织了由我校主持完成的首批国家重大科学仪器设备开发专项“新型CZT半导体X射线和γ射线探测器研制”项目综合验收评审会。以中国工程院潘自强院士为验收专家组组长的13名评审专家对项目进行了严格审查,最终以97.4分顺利通过了项目综合验收。  该项目于2011

关于闪烁X射线探测器的介绍

  在介绍闪烁探测器之前,必须先了解光脉冲,当闪烁物质受到放射线或其他高能粒子辐照时会激发阻止介质原子,被激发的原子由激发态退激回到基态时会形成荧光脉冲[7]。闪烁探测器正是利用某些物质在核辐射的作用下会发光的这一特性工作的。闪烁探测器主要是由被封闭在一个不透明的外壳里的闪烁体、接收光的收集系统、光

γ射线料位计的探测器相关介绍

  探测器也称探头、接收器,主要用于探测射线,并将射线产生的光信号转化为电信号。主流探测器内部主要元器件为:闪烁晶体、光电倍增管、前置电路。也有电离室探测器和计数管探测器,探测效率比较低,市场使用率很小。   射线照射到闪烁晶体上,会产生光子,光子与光电倍增管表面涂的光感材料(称为光阴级)撞击,

X射线衍射仪的的X射线探测器和控制装置介绍

  (1)X射线探测器 —— 测量X射线强度的计数装置;  计数器的主要功能是将X射线光子的能量转换成电脉冲信号。通常用于X射线衍射仪的辐射探测器有正比计数器、闪烁计数器和位敏正比探测器。  (2)X射线系统控制装置 —— 数据采集系统和各种电气系统、保护系统。  X射线能对人体组织造成伤害,在自己

CdZnTe半导体探测器X射线能谱响应特性分析

CdZnTe是一种性能优异的高能射线探测材料,在空间科学、核安全以及核医学等众多领域有广泛的应用前景.本文选取了3枚不同等级的CdZnTe探测器,在详细阐述了CdZnTe探测器工作原理的基础上,对比分析了他们的能谱响应曲线和载流子输运特性的关系.重点分析了CdZnTe探测器能量分辨率、电荷收集效率和

X射线探测器概述

  X射线探测器(X-raydetector)是CT成像的核心,将肉眼看不到的“X射线”转换为最终能转变为图像的“数字化信号”。   x射线探测器是一种将X射线能量转换为可供记录的 电信号的装置。它接收到射线照射,然后产生与辐射强度成正比的电信号。 通常探测器所接受到的射线信号的强弱,取决于该部

x射线衍射仪的应用相关介绍

  油田录井   Olympus便携式X 射线衍射仪BTX可能直接分析出岩石的矿物组成及相对含量,并形成了定性、定量的岩性识别方法,为录井随钻岩性快速识别、建立地质剖面提供了技术保障。   每种矿物都具有其特定的X 射线衍射图谱,样品中某种矿物含量与其衍射峰和强度成正相关关系。在混合物中,一种