BCEIA2015爱丁堡FS5荧光光谱仪
分析测试百科网讯 2015年10月27日，国内分析测试行业影响力最大的展会2015 BCEIA(bceia2015)在北京国家会议中心举办。作为业内规模和质量最高的盛会之一，本届展览会共有461家厂商参展，展出当今国内外分析测试领域的前沿技术和先进仪器设备。其中参展的分子光谱仪器众多，分析测试百科网对部分分子光谱仪器进行了盘点。爱丁堡FS5荧光光谱仪 爱丁堡FS5荧光光谱仪 FS5是爱丁堡仪器公司全新推出的一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。针对不同的应用方向，都有相应测量模式可以进行选择。......阅读全文
X荧光光谱仪分析中的干扰分析
1、在X荧光光谱仪分析中，某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。基本参数方程要求使用没有受到谱线重叠影响的净强度。在这些方程中包含某些经验的修正。 2、在X射线光谱仪分析中，在某些元素间可能存在元素间干扰或者基体效应。来弥补这些效应的经验方式就是制备一系列校正标样的曲线，浓度范围涵盖要分析的范围。此
天瑞X荧光光谱仪能量色散
目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的准确测量。射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》
X荧光光谱仪测试的方法和要点
X荧光光谱仪总而言之，建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到极致，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作，但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到事半功倍的效果。一、X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱仪样品制备
原子荧光光谱仪采购注意事项
1 、什么是原子荧光？基态原子吸收特定波长光辐射的能量而被激发至高能态，受激原子在去激发过程中发射出的一定波长的光辐射被称为原子荧光。2 、什么是原子荧光光谱仪？根据原子荧光原理制作的用来进行元素定量分析的光谱仪器被称为原子荧光光谱仪，又称作原子荧光光度计。3 、原子荧光光谱仪是如何分类的？从方法上
X荧光光谱仪的原理和应用介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射
原子荧光光谱仪的维修与保养
随着检测行业的兴起，各种实验仪器为检测工作者带来了极大地便利。各类仪器已经成为检测工作者的好朋友、得力助手。所以，这些仪器的维护也就成了实验室工作者的必修科目，毕竟，防患于未然总好过于事情发生时手忙脚乱。 实际上，像地震、台风、强降雨、雷暴等极端恶劣天气对实验室的危害也很大。所以就像我们需要参
X射线荧光光谱仪常见故障分析
1、故障现象：X射线发生器的高压开不起来。 故障分析： 这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，一般发生在开机时，偶尔也发生在仪器运行中。故障的产生原因可以从三个方面去分析：1、X射线防护系统;2、内部水循环冷却系统;3、高压发生器及X射线光管。2、故障现象：光谱室和样品室的真空抽不到规定值。
能量色散X荧光光谱仪性能特点
超薄窗X光管,指标达到先进水平采用数字多道技术,可以达到超高计数率,提高测试效率和精度SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率、峰背比和能谱特性低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证仪器工作的一致性高信噪比的电子线
X射线荧光光谱仪的广泛应用
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。 X射线荧光光谱仪主要性能优势： 1.集合了多年
X射线荧光光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
X荧光光谱仪分析中的误差来源
X射线荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差，提高仪器的分析准确度成为重要的课题。 X射线荧光分析过程中产生误差
原子荧光光谱仪送样检测要求
原子荧光光谱仪(1)样品分析一般要求原子荧光光谱仪分析的对象是以离子态存在的砷(As)、硒(Se)、锗(Ge)、碲(Te)等及汞(Hg)原子，样品必须是水溶液或能溶于酸。(2)固体样品①无机固体样品，样品经简单溶解后保持适当酸度：检测砷(As)、硒(Se)、碲(Te)、汞(Hg)，介质为盐酸(5%，
分析X射线荧光光谱仪的产品特点
X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要
原子荧光光谱仪光度计结构
原子荧光光度计分为色散型和非色散型两类。两类仪器的结构基本相似，差别在于非色散仪器不用单色器。色散型仪器由辐射光源、单色器、原子化器、检测器、显示和记录装置组成，非色散仪器没有单色器。荧光仪与原子吸收仪相似，但光源与检测部件不在一条直线上，而是90°直角，而避免激发光源发射的辐射对原子荧光检测信
原子荧光光谱仪柱压高问题
一．原子荧光光谱仪柱压高问题 1 一般是由有做样过程中样品过滤不是很彻底，有大颗粒物质堵塞了保护住或者色谱柱。通过拆卸色谱柱可判别是哪方面的问题。2 流动相也必须抽滤，过膜。（去除流动相里大颗粒物质）
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm 4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，请提前说明
全反射X荧光光谱仪的基本介绍
全反射荧光光谱仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的分析仪器，于2014年12月1日启用。 1、技术指标 检出限可以达到 ppb 和 ppm 级别，S2 PICOFOX 非常适用于痕量元素分析。在样品数量较少、液体样品含有高基质以及样品种类经常变化的情况下，优势十分明显。 2、主要功
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
稳态/瞬态荧光光谱仪送样检测要求
稳态/瞬态荧光光谱仪（QM/TM）（1）液体样品: 样品量约 3-4ml, 样品要有一定透明度。（2）固体样品: 片状样品直径8-15mm或长宽在此范围（3）粉末样品要充满3*3*10mm的样品池（4）纤维参照粉末或片状样品技术指标：（1）稳态激发光波长范围：200～1700nm；（2）稳态发射光波
X射线荧光光谱仪探测器简介
X射线荧光光谱仪常用的探测器有流气正比计数器和闪烁计数器，流气正比计数器用于轻元素检测，闪烁计数器用于重元素检测。 流气正比计数器由金属圆筒（阴极）、金属丝（阳极）、窗口及探测气体（惰性气体）构成。阳极都制成均匀光滑的细丝线，一般由钨、钼、铂、金等稳定的金属丝制成。 流气正比计数器中一般选用
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
原子荧光光谱仪基本原理
原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、
X射线荧光光谱仪分析误差的来源
X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1． 采样误差：非均质材料样品的代表性2． 样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3． 不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4． 仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5． 不适当的
荧光光谱仪的在食品领域的应用
该领域主要用于食品中矿物质及金属元素、氨基酸、维生素、菌类污染、添加剂、防腐剂、食品包装有害物质、农药残留等的分析检测。特别是与HPLC、TLC、FIA等技术的结合可以更好的达到食品中各种物质的检测效果。 目前我国食品标准日趋国际化，对于食品分析的要求也越来越趋向于灵敏和微量化。荧光分析正可以
X荧光光谱仪常见故障诊断
新型的X射线荧光光谱仪都装有故障诊断软件，分布于仪器各个部位的传感器将仪器的状态信号传输到计算机，供仪器操作者和维修工程师判断仪器是否正常，找到产生故障的部位。但是有些在测量过程中出现的问题靠诊断软件是发现不了的，而且诊断软件仅仅提示产生了故障，要找到产生故障的原因，要求维修人员对仪器的结构比较
以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD
仪器介绍： XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作，它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点： 1. 真正实现了快速，准确的检测，直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
X荧光光谱仪的基本原理
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。 X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。
X射线荧光光谱仪准直器介绍
准直器是由许多间距精密的平滑的薄金属片叠积而成，它分为初级准直器和次级准直器。初级准直器安装在样品和晶体之间，次级准直器安装在探测器的前面，初级准直器使样品发射出的X射线荧光通过准直器变成平行光束照射到晶体上，经晶体分光后再通过次级准直器准直后进入探测器，初级准直器对光谱仪分辨率起着重要作用。