X荧光光谱仪分析中的误差来源
X射线荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差，提高仪器的分析准确度成为重要的课题。 X射线荧光分析过程中产生误差的原因主要有操作方面、仪器方面、以及试样本身等三方面因素。 一、在X荧光光谱仪分析中操作方面带来误差的因素： 1、在X荧光光谱仪分析制样过程中，粉磨时未设定好粉磨时间和压力，达不到要求的粉磨粒度或相应的料度分布。实验表明当粉磨时间短于试验设定时间，测定结果就会产生波动。同时，粉磨时未按规定加适量助磨剂或所加助磨剂中含有所要分析的元素，都会给测定结果带来较大影响。磨头和磨盘里留有前期样品或被其它物质污染），结果也会产生误差。 2、X荧光光谱仪分析制样过程中压片时，......阅读全文
X荧光光谱仪分析中的误差来源
X射线荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差，提高仪器的分析准确度成为重要的课题。 X射线荧光分析过程中产生误差
X射线荧光光谱仪分析误差的来源
X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1． 采样误差：非均质材料样品的代表性2． 样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3． 不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4． 仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5． 不适当的
X射线荧光仪器分析误差的来源
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几
X荧光光谱仪分析中的干扰分析
1、在X荧光光谱仪分析中，某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。基本参数方程要求使用没有受到谱线重叠影响的净强度。在这些方程中包含某些经验的修正。 2、在X射线光谱仪分析中，在某些元素间可能存在元素间干扰或者基体效应。来弥补这些效应的经验方式就是制备一系列校正标样的曲线，浓度范围涵盖要分析的范围。此
食品理化实验中的误差来源分析！
食品理化检验在食品安全管理工作中具有至关重要的作用，其检验结果是判定食品质量的主要科学依据。但是仪器设备、实验室环境、操作过程、试剂、样品等多种因素严重影响了食品理化检验的质量，导致食品理化检测中存在很多误差。本文就食品理化检验中的误差来源进行分析探讨。 一、系统误差 系统误差（又叫做规律误差）指的
直读光谱仪误差来源
直读光谱仪误差来源有： 1）标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。 2）标样和试样的物理性能不完全相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。3）浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时，测出的数据会有所
直读光谱仪的误差来源
光电直读光谱仪虽然本身测量准确度很高，但测定试样中元素含量时， 所得结果与真实含量通常不一致，存在一定误差，并且受诸多因素的影响，有的材料本身含量就很低。下面就误差的种类、来源及如何避免误差进行分析。根据误差的性质及产生原因， 误差可分为系统误差、偶然误差、过失误差及其他误差等。 1.系统误差
X射线荧光光谱仪中X射线的由来和性质分析
X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线荧光光谱仪使用中因样品引起测量误差的原因
X射线荧光光谱仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有
滴定误差的来源分析
从理论上讲，滴定应在到达等当点时结束，但实际上很难正好滴定到这一点，因此滴定误差总是存在的。滴定误差是容量分析误差的重要来源，是采用任何滴定方法时首先要考虑的问题。除滴定误差外，试样的称重、溶液体积的测量、指示剂的消耗等也会影响容量分析的准确度，并带来一定的误差。由于溶液体积测量的误差为0.1%～0
光电直读光谱仪的误差来源
光电直读光谱仪虽然本身测量准确度很高，但测定试样中元素含量时，所得结果与真实含量通常不一致，存在一定误差，并且受诸多因素的影响，有的材料本身含量就很低。下面就误差的种类来源，那么根据误差的性质及产生原因，误差可分为下面几种： 1、系统误差的来源 (1)标样和试样中的含量和化学组成不完
理化实验中的误差来源
理化检验是实验室检测主要检测部分之一，其检验结果是判定产品质量的主要科学依据。理化实验室的误差来源主要有三个方面：系统误差、随机误差和人为误差，那么，每种误差的具体产生原因都是什么? 仪器设备、实验室环境、操作过程、试剂、样品等多种因素严重影响了理化检验的质量，导致理化检测中存在很多误差。
砝码检定中的误差来源
在实验室的量值传递中，砝码属于一种结构简单、稳定性强的实体量具。但正因为其这种特点，所以，在具体的操作中，却往往容易被忽视影响检定结果的诸多因素的防范。造成检定结果的偏差。 这就要求我们砝码计量检定员熟练掌握砝码的检定规程和操作规范。并严格按照检定规程进行操作。认真分析排查引起检定误差的原因，及时
砝码检定中的误差来源
在实验室的量值传递中，砝码属于一种结构简单、稳定性强的实体量具。但正因为其这种特点，所以，在具体的操作中，却往往容易被忽视影响检定结果的诸多因素的防范。造成检定结果的偏差。 这就要求我们砝码计量检定员熟练掌握砝码的检定规程和操作规范。并严格按照检定规程进行操作。认真分析排查引起检定误差的原因，及时消
手持式光谱仪系统误差的来源分析
手持式光谱仪虽然本身测量准确度很高，但测定试样中元素含量时，所得结果与真实含量通常不一致，存在一定误差，并且受诸多因素的影响，有的材料本身含量就很低。 手持式光谱仪系统误差的来源有： (1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。 (2
X荧光中干扰谱线的来源及消除方法
在X射线光谱分析中,由于谱线之前互相干扰比较少,并且减少这种干扰的方法较多,在多数情况下谱线干扰现象不是影响分析结果的主要因素。但是在某些情况如稀土化合物中稀土元素的测定中,谱线重叠现象仍然是严重的。这种干扰,轻则影响强度的确定,增加分析线强度测量的统计误差,降低分析元素的测定灵敏度;重则是某些分析
x荧光光谱仪的分析对象
x荧光光谱仪的分析对象主要有各种磁性材料、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，x荧光光谱仪还可以对各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，x荧光光谱仪检测的结果接近于定量分析的准确度。X荧光光谱仪分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。x荧光光谱仪适合用于课题研
实验室光学仪器X荧光光谱仪定量分析中的不确定度来源
在X射线荧光光谱定量分析中,导致分析结果具有一定不确定度的因素很多。多数情况下,很难直接计算出每一种因素所引起的不确定度分量。但在实际分析过程中,所有不确定度分量中,往往其中的某个或者某几个分量就决定了合成不确定度的大小,因此,对于这几个不确定度分量必须仔细分析其来源,并正确估计其对合成标准不确定度
X荧光光谱仪中X光管的寿命问题
经常在网上看到大家讨论X光管的寿命问题，实际上，可能每个人描述的都不是一件事情，因为X光管的功率不同，并且差别很大，从几瓦到几千瓦，各种功率X光管的设计寿命就相差很多。比如灯丝电流，50W的光管只要几安培，400W的要将近10安培，2000W的要十几安培，4000W的要几十安培，那么对灯丝的消耗就
X荧光光谱仪分析中的粉末压片制样法
作为一种比较成熟的成分分析手段，X荧光光谱仪分析在冶金、地质、环境、化工、材料等领域中应用非常广泛。X荧光光谱仪分析的对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得最多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，如各种矿石，由于直接分析技术目前还不成熟，
直读光谱仪器的误差来源有哪些？
1、直读光谱仪器的误差来源有哪些？ 1)系统误差也叫可测误差，一般包括仪器的本身波动；样品的给定值和实际值存在一定的偏差（标准样品的元素定值方法可能和实际检测方法不一致，这样检测结果会有方法上的差异；同一种方法的检测结果也存在一定的波动）；待测样品和系列标样之间存在成分的差异，可能导致在蒸发、
简述分析天平称量中误差的来源，及减小称量误差的途径
分析天平计量性能是从稳定性、灵敏性、正确性(等臂 性)和示值变动性四方面来衡量的。它规定了天平衡量 的度。分析天平的计量性能带来的误差是不可避免 的。分析天平在使用较长时间后，其计量性能会发生改变。表现在: (1)使用过程中天平室的环境温度或震动，使天平横 梁上的偏差螺丝的松动，造成不等臂性误
X射线荧光光谱仪原理分析
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
X荧光光谱仪分析技术误区
不管任何分析仪器，分析技术是获得正确结果的保证。分析技术贯穿于仪器应用的全过程。分析方法的选择必须满足仪器应用的需要。 误区1：标样制备太麻烦，最好用无标样法。 X荧光光谱仪分析法和其它大部分分析仪器一样，是相对分析法。在X荧光光谱仪分析中，测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样
分析X荧光光谱仪的测试方法
X荧光光谱仪是目前zui常用的分析仪器之一，下面来了解下关于X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱仪样品制备 进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的
X射线荧光光谱仪中的X射线原理科普
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应。X射线初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这一类对人体有危害的
原子发射光谱仪的误差来源探讨
根据误差的性质及产生原因，误差可分为系统误差、偶然误差、过失误差及其他误差等。 1.系统误差的来源 （1）标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。 （2）标样和试样的物理性能不完全相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。
电子分析天平的误差来源
1、装置误差 用来以固定形式复现标准量值的标准量具、进行测量时使用的仪器或仪表以及仪器的附近及附属设备不可避免地都含有误差。 2、环境误差 由于各种环境因素与要求的标准状态不一致，而引起的测量装置和被测量本身的变化所造成的误差，如温度、湿度、气压(引起空气各部分的扰动)、振动、电磁场、
X射线荧光光谱仪X射线防护系统的故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合
环境监测分析中，误差的来源有哪些方面
误差的来源可分为系统误差、偶然误差。 系统误差又包括： （1）仪器误差：所用仪器或量具在测量中产生的误差； （2）方法误差（理论误差）：由于实验方法或理论不完善产生的误差； （3）装置误差：由于对测量装置和电路布置、安装和调整不当产生的误差； （4）环境误差：由于外界环境（如光线、温度