HORIBA科学仪器发布GDOES深度分析DiP创新系统
分析测试百科网讯 HORIBA科学仪器事业部最近为辉光放电发射光谱（GD-OES）的深度分析发布了DiP创新系统。 DiP(差分干涉分析)为无需校准的深度剖面分析提供了实时的镀层厚度、断面深度和溅射速度。 GD-OES是公认的快速、多元素的导电和非导电材料深度分析技术。GD-OES依赖于被调查样品代表区域的等离子体溅射，在高分辨率光谱仪上同时测量所有感兴趣的元素。GD-OES的溅射速率取决于所测材料，当多层测量时，它们随深度变化。在此之前，准确定量所需溅射速率的估计是计算（倾向于不确定性）或外部测量的结果。 GD-OES仪器DiP（差分干涉分析）系统ZL的引进实现了镀层厚度原位直接测量。 DiP现在可提供实时、溅射过程中、无需校准的： 断面深度 镀层厚度 溅射速率 在DiP系统中，从相同的激光光源发出的两束光一束定向射向GD断面的中央，另一束定向射向靠近GD断面的完整样品表面。如果材料反射足够，反射光束被搜集......阅读全文
怎样才能在真空系统中不产生辉光放电
你用加热管加热就可以了.卤素石英红外管/ 硅碳棒也行.
EXF镀层测厚仪可测量各种金属涂层的厚度
EXF镀层测厚仪主要用于测量金属材料的涂层厚度。但是，由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引入了大量的测量误差，为了保证测量结果的准确性和可靠性，有必要进行不确定性分析。 EXF镀层测厚仪可同时测量磁性基材表面的非磁性涂层（如钢铁）（如油漆、陶瓷、铬等）和非磁性金属基材表面的非导电涂
测量镀层或薄膜厚度的几种常见方法
无论是天纵鉴定（SKYLABS）在质量争议案件的调查中或是天纵检测同事在日常的检测工作中，对镀层或薄膜厚度的测量都是一种比较常见的需求。一般说来，镀层厚度的测试方法按照测试方法的基本原理类型可以分为化学法、电化学法和物理法三大类。 其中： 化学法包括化学溶解分析法、化学溶解称重法和化学溶解液
仪器研制日新月异－第23届全国光谱仪器学术研讨会召开
分析测试百科网讯 2019年11月22日，第二十三届“全国光谱仪器学术研讨会”在上海召开。本次会议由上海理工大学与中国仪器仪表学会分析仪器分会光谱仪器学术专家组联合主办，分析测试百科网承办。上海理工大学庄松林院士、厦门大学田中群院士担任大会主席，上海理工大学张大伟教授担任执行主席，本次大会邀请了
高压差分探头和低压差分探头的区别
我们用示波器来测量信号就需要对信号有个初步的判断。首先是信号的强弱，还有信号是否为对地信号。然后就是信号的工作频率。示波器通常会标配普通的单端探头，这种探头只适合测量300V以内的对地信号，而当信号不对地了，是互相参考的浮地信号，这个时候就应该选择差分探头。差分探头通常分为高压差分探头和低压差
高压差分探头和低压差分探头的区别
我们用示波器来测量信号就需要对信号有个初步的判断。首先是信号的强弱，还有信号是否为对地信号。然后就是信号的工作频率。示波器通常会标配普通的单端探头，这种探头只适合测量300V以内的对地信号，而当信号不对地了，是互相参考的浮地信号，这个时候就应该选择差分探头。差分探头通常分为高压差分探头和低压差
高压差分探头和低压差分探头的区别
我们用示波器来测量信号就需要对信号有个初步的判断。首先是信号的强弱，还有信号是否为对地信号。然后就是信号的工作频率。示波器通常会标配普通的单端探头，这种探头只适合测量300V以内的对地信号，而当信号不对地了，是互相参考的浮地信号，这个时候就应该选择差分探头。差分探头通常分为高压差分探头和低压差分探头
揭晓涂层测厚仪进行常规涂层或镀层厚度检测工作
涂层测厚仪使用须知 涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 涂层测厚仪使用
磁性涂镀层厚度测量仪原理及影响因素
磁性涂镀层厚度测量仪原理及影响因素一、磁吸力原理测厚仪利用*磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用zui
什么是微分干涉差显微镜
微分干涉差显微镜(differential interference contrast )又称Nomarski相差显微镜，其优点是能显示结构的三维立体投影影像。与相差显微镜相比，标本可略厚一点，折射率差别更大，故影像的立体感更强。微分干涉差显微镜利用的是偏振光，这些光经棱镜折射后分成两束，在不同时间
DR360涂镀层测厚仪（镀锌铬层厚度）仪器特点
仪器特点l 采用合金探头，坚硬耐用、准l 操作简单，测试速度快，灵敏度好，测量精度高l 具有两种测试方式：连续（CONT INUE）和单次（SINGLE）测量方式l 设有四个统计功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、测量次数（No）l 大容量存储，可存贮800多个测量数据l 仪
X荧光镀层厚度测量仪的功能特点有哪些
X荧光镀层厚度测量仪通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果，镀层厚度测量仪荧光或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。 x.jpg X荧光镀层厚度测量仪
铝箔层厚度检测方案三泉中石金属镀层测厚仪
桶装薯片包装的铝箔层厚度检测方案三泉中石金属镀层测厚仪摘要：塑料薄膜或纸张表面（单面或双面）镀上一层极薄的金属铝即成为镀铝薄膜，它广泛地用来代替铝箔复合材料如铝箔/塑料、铝箔/纸等使用。随着科技的发展真空蒸镀金属薄膜的使用越来越广泛，主要用于风味食品、农产品的真空包装，以及药品、化妆品、香烟的包装。
X荧光镀层厚度测量仪的功能特点有哪些
X荧光镀层厚度测量仪通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果，镀层厚度测量仪荧光或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。 x.jpg X荧光镀层厚度测量
CISILE－2010展览会隆重开幕
2010年北京光谱仪器分析应用学术报告会上，来自北京矿冶研究总院的符斌教授、钢铁研究总院国家钢铁材料测试中心余兴博士、清华大学化学系孙素琴教授分别向与会者介绍了我国光谱仪器的最新分析技术及其应用进展。 2010年北京光谱仪器分析应用学术报告会现场 北京矿冶研究总院 符斌教授
大气压辉光放电微等离子体光谱技术研究及其环境应用
中科院上海硅酸盐所汪正研究员 中科院上海硅酸盐所汪正研究员发表主题为“大气压辉光放电微等离子体光谱技术研究及其环境应用”的精彩报告。报告介绍了液体阳极/阴极/氦气氛常压辉光放电-原子发射光谱技术研究进展，包括SCGD辐射源结构优化及活性剂增敏研究，在线固相萃取技术耦合SCGD-OES，蒸汽发生技术
光谱基础知识答疑——拉曼、荧光等多种热门光学光谱技术
拉曼光谱技术 1. 拉曼点扫面积有多大？ 显微镜物镜出口的激光光斑的直径约1-2微米。拉曼成像的区域大小更多取决于自动平台的移动范围，尺度和自动平台相关，有75X50mm，100X80mm，300X300mm等选择。 2. 表面增强拉曼能否表征金膜表面修饰的单分子层自组装膜的形态？如膜的缺
材料荧光镀层厚度测量仪技术质量对应解决方案
在材料件上镀上金属层可以使材料的质量和价值得到很大的提升，而荧光镀层厚度测量仪技术上镀材料作为工程中的物资基础，其质量优劣对工程质量有着不可忽视的作用，因此材料行业能否稳定有序地健康发展，对工程质量的提升有着非常重要的作用。对于目前市场上出现的以次充好、欺瞒的行为，政府管理部门必将严格管理，严厉
850万！昆明理工大学双聚焦辉光放电质谱仪设备招标
一、项目基本情况项目编号：YNGH[2022]-291项目名称：昆明理工大学企业信息真空冶金国家工程实验室双聚焦辉光放电质谱仪设备购置（双一流23）预算金额（万元）：850最高限价（万元）：850采购需求：拟采购双聚焦辉光放电质谱仪1套合同履行期限：合同签订之日起180日历天（供应商在此期限内自报最
辉光放电质谱分析量化高纯度材料过程中基体效应的影响
天空科技/TMS张辉建 天空科技/TMS张辉建发表主题为“辉光放电质谱分析量化高纯度材料过程中基体效应的影响”的精彩报告。辉光放电质谱可广泛应用于高纯晶金属材料、先进陶瓷材料、光学/激光晶体等高纯度材料。报告围绕辉光放电质谱量化基础前提、量化准确度提升方向、量化方式（标准RSF、校正RSF）展开介
纳米薄膜的制备方法
针对有机半导体粉料和金属粉料蒸发温度低的特点,设计并制作了新型低温辐射式薄膜加热蒸发器,通过对有机粉料的蒸发及溅射时样片衬底的加热实验,取得了良好效果,通过观测装置,可以观测到,薄膜监控测厚仪未能反映出的10纳米薄膜厚度。其制作成本低,加热效率高,同时又提高了设备功效;是一种多功能辐射式加热器,在物
光电创新耀未来——武汉光电国家研究中心能源光子学研究部“HORIBA－科学奖”颁奖仪式成功举行
2024年1月8日，首届武汉光电国家研究中心（以下简称：中心）能源光子学研究部“HORIBA 科学奖”颁奖仪式在光电信息大楼成功举行。武汉光电国家研究中心能源光子学研究部执行主任王磊教授、党支部书记胡彬教授、工程科学学院行政副院长徐书华、HORIBA 集团科学仪器事业部中国区总经理濮玉梅女士、销
什么是差分脉冲伏安法
差分脉冲伏安法简介：一种电化学测量手段，是线性扫描伏安法和阶梯扫描伏安法的衍生方法，即在其基础之上添加一定的电压脉冲。在电势改变之前测量电流，通过这种方式来减小充电电流的影响。原理： 有图1可见，差分脉冲伏安法的电势波形可看做是线性增加的电压与恒定振幅的矩形脉冲的叠加。脉冲波形，脉冲高
什么是差分脉冲伏安法
差分脉冲伏安法简介：一种电化学测量手段，是线性扫描伏安法和阶梯扫描伏安法的衍生方法，即在其基础之上添加一定的电压脉冲。在电势改变之前测量电流，通过这种方式来减小充电电流的影响。原理： 有图1可见，差分脉冲伏安法的电势波形可看做是线性增加的电压与恒定振幅的矩形脉冲的叠加。脉冲波形，脉冲高
什么是差分脉冲伏安法
差分脉冲伏安法简介：一种电化学测量手段，是线性扫描伏安法和阶梯扫描伏安法的衍生方法，即在其基础之上添加一定的电压脉冲。在电势改变之前测量电流，通过这种方式来减小充电电流的影响。原理： 有图1可见，差分脉冲伏安法的电势波形可看做是线性增加的电压与恒定振幅的矩形脉冲的叠加。脉冲波形，脉冲高
什么是差分脉冲伏安法
差分脉冲伏安法简介：一种电化学测量手段，是线性扫描伏安法和阶梯扫描伏安法的衍生方法，即在其基础之上添加一定的电压脉冲。在电势改变之前测量电流，通过这种方式来减小充电电流的影响。原理： 有图1可见，差分脉冲伏安法的电势波形可看做是线性增加的电压与恒定振幅的矩形脉冲的叠加。脉冲波形，脉冲高
什么是差分脉冲伏安法
差分脉冲伏安法简介：一种电化学测量手段，是线性扫描伏安法和阶梯扫描伏安法的衍生方法，即在其基础之上添加一定的电压脉冲。在电势改变之前测量电流，通过这种方式来减小充电电流的影响。原理： 有图1可见，差分脉冲伏安法的电势波形可看做是线性增加的电压与恒定振幅的矩形脉冲的叠加。脉冲波形，脉冲高
什么是差分脉冲伏安法
差分脉冲伏安法简介：一种电化学测量手段，是线性扫描伏安法和阶梯扫描伏安法的衍生方法，即在其基础之上添加一定的电压脉冲。在电势改变之前测量电流，通过这种方式来减小充电电流的影响。原理： 有图1可见，差分脉冲伏安法的电势波形可看做是线性增加的电压与恒定振幅的矩形脉冲的叠加。脉冲波形，脉冲高
差分电极与复合电极区别
差分电极与复合电极区别为：性质不同、用途不同、使用条件不同。一、性质不同1、差分电极：差分电极是电极电位保持恒定的电极。2、复合电极：复合电极是把pH玻璃电极和参比电极组合在一起的电极。二、用途不同1、差分电极：差分电极用来测量各种电极电势时作为参照比较。2、复合电极：复合电极用来测定溶液的pH。三
LTPICPMS联用对电路板镀层的深度分析
1 引 言 金属镀层在电子设备产品中的应用已经越来越普遍和重要【1】， 在电子设备的电路板中， 镀有稀有金属的连接触头是各种模块互连的关键部件， 如PCB金手指就是内存处理单元的所有数据流、电子流与内存插槽的连接点。因此， 其镀层的化学成分及镀层元素的纵向深度剖面分布与电路板的耐蚀性、导电性