布鲁克推出新一代波散XRFS8TIGER™2
分析测试百科网讯 近日，Bruker宣布推出其新款波长色散X射线荧光（WDXRF）光谱仪S8 TIGER™系列2。作为其即新一代产品，S8 TIGER系列2是最通用的WDXRF工具，可用于工业和学术材料研究以及材料的工业质量控制（QC）中的高级定量元素分析。S8 TIGER™ 2 据介绍，新的S8 TIGER系列2引入了新颖的HighSense™技术，提供了卓越的线性动态范围，从而为水泥，矿物，采矿，金属，玻璃和陶瓷应用中的工艺和质量控制提供了更高的精度水平。此外，测量时间明显降低，样品通量增加，出结果更快，通常可提升25％。 S8 TIGER系列2还具有XRF2小尺寸图，用于材料中元素分布的详细显示。采用300μm光斑尺寸，XRF2可提供WDXRF中最高的空间分辨率。这使得S8 TIGER系列2成为工业QC实验室以及工业和学术研究和方法开发实验室的优秀系统。 此外，S8 TIGER系列2全新的HighSense X射......阅读全文
值得收藏！一文了解XRF前世今生及主流产品
主要厂商及产品XRF中便携式X射线荧光是主要类型，约占40%。本文对主要手持式 XRF产品（均为EDXRF）制造商及拳头产品进行总结，以供读者参考。更多XRF产品的介绍请见续篇。品牌型号特点赛默飞Niton™ XL5 Plus2021年发布，重2.8磅，1~2秒牌号鉴别，可靠的元素分析（包括轻元素）
布鲁克Q1财报出炉－新冠疫情对布鲁克带来哪些影响？
分析测试百科网讯 近日，布鲁克公司（Nasdaq：BRKR）宣布了截至2020年3月31日的第一季度财务业绩，第一季度收入为4.24亿美元，比2019年第一季度下降8.1%有机收入比去年同期下降7.9%，其中收购带来0.9%的增长，而汇率影响带来1.1%。的负面影响。 本季度中，布鲁克收入下降
一文了解微区XRF，及基于SEM的微区XRF技术
X射线荧光（XRF）是一种用于测定材料元素和涂层系统特性的分析方法，具有悠久的历史，在许多实验室都有应用。传统上，XRF分析大面积或体积的样品。在制备过程中，往往需要对样品材料进行变形和破坏，即制备过程是破坏性的。但很多样品需要在无损的情况下进行检测。这意味着需要将完整的样品放置在仪器中，不可能
PID－传感器/灯的更换和清洁
在高湿度环境中使用 TIGER 时，PID 可能显示意外偏高的读数。当检测仪中的灰尘或其它小颗粒受到湿气影响变湿润时，将发生这种情况。这些颗粒会在电极之间传导信号。用户可按照以下步骤利用计算机罐装吹尘器在现场解决这一问题。在正常使用的情况下，灯每使用 100 小时应清洁一次 (基于 30 ppm 使
布鲁克宣布收购ACQUIFER－Imaging－GmbH
2023年1月5日，布鲁克公司（纳斯达克股票代码：BRKR）宣布收购 ACQUIFER Imaging GmbH，该公司是生物成像和高内涵显微镜大数据管理解决方案的先驱。此次收购增加了高性能的本地处理、安全存储和网络技术，补充了布鲁克先进的荧光显微镜成像产品，如可生成高信息内容的光片和超分辨
Biognosys和布鲁克达成战略合作
* 新的战略合作旨在为无偏蛋白质组学和表观蛋白质组学提供Biognosys先进的CRO服务和Spectronaut®软件工具； * 该合作将有利于蛋白质组学研究、疾病生物标志物发现、药物发现和药物蛋白质组学开发利用的临床试验； * 借助布鲁克的投资，Biognosys计划在美国开设先进的蛋白
布鲁克任命新首席财务官
2011年9月14日，布鲁克公司宣布William Knight将永久担任公司首席财务官一职，即日起生效。 今年6月，布鲁克公司原首席财务官Brian Monahan因个人原因辞去首席财务官一职，当时公司任命公司首席营运官William Knight担任临时首席财务官，并表示寻找一位
XRF与原子吸收的区别
XRF：X射线荧光分析，检出极限~ ppb级。原子吸收，一般检出极限~ ppm.
XRF镀层测厚仪的组成介绍
XRF光谱仪的主要部件组成为X射线管、光圈、探测器、对焦系统、相机以及样品台。如上图所示。X射线管是仪器的一部分，产生照射样品的X射线。光圈是引导X射线指向样品的装置的第一部分。XRF仪器中的光圈将决光斑尺寸，正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。探测器与相关电子设备一并处理从样品中激发出的
XRF与原子吸收的区别
XRF：X射线荧光分析，检出极限~ ppb级。原子吸收，一般检出极限~ ppm
关于XRF仪器的特点介绍
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
XRF仪器的优点有哪些？
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
XRF能扫描全部元素吗
不能做全部元素扫描，因为轻质元素能量跃迁很小，不容易捕捉。最好情况下XRF能检测Na（第十一号元素）以后的元素。
XRF仪器的基本理论
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到
XRF合金分析仪简介
合金分析仪是基于X射线理论而诞生的，它主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和军事制造领域必不可少的快速成份鉴定工具。
XRF分析仪检测什么？
分析仪分析可以通过探测从镁（Mg）到铀（U）的元素。XRF分析仪几乎我们可以直接指向任何样件进行系统检测，并获得更加准确的结果。使用网络分析仪完成的常见技术应用主要包括废料分拣、合金牌号的辨别、金属设备制造业的质量管理控制（QC）、地质勘探或采矿、工业建筑材料的检测，如：水泥或煤炭等，以及社会消费金
关于XRF的基本分析
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据
XRF测试针对什么材料
XRF测试的范围很广泛，比如：塑胶、皮革、金属、五金、电子电器、玩具等行业的环保RoHS测试，八大重金属测试，金属成份分析等。
XRF分析仪的用途
XRF分析仪用于需要辨别材料的化学成分或样件合金牌号的应用中。便携式XRF分析仪可在野外现场采用堪比实验室的技术对那些庞大、笨重或运送成本很高的样品进行检测。在现场进行分析可以实时提供信息，使用户迅速做出决策。
XRF2000镀层测厚仪规格
儀器功能 : 測量電鍍層厚度（单镀层 双镀层 合金镀层 电镀液分析 元素定性分析）系統結構 :主機箱,專用分析電腦,,彩色打印機主機尺寸610 x 670 x 490 mm主機箱重量 : 75 公斤配件重量 : 約 35 公斤以电脑鼠标移動方式,驅動 XYZ 三軸移動,步進馬達XYZ 樣片台移動尺寸
XRF能扫描全部元素吗
不能做全部元素扫描，因为轻质元素能量跃迁很小，不容易捕捉。最好情况下XRF能检测Na（第十一号元素）以后的元素。
关于XRF的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
XRF的能量相关信息介绍
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为: E=hν=h C/λ 式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。 因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外
XRF镀层测厚仪的技术介绍
XRF技术的最小检测厚度为大约1nm。如果低于这个水平，则相应的特征X射线会淹没于噪声信号中，无法对其进行识别。最大范围约为50μm左右。如果在该水平之上，则镀层厚度将导致内层发射的X射线无法穿透镀层而到达探测器。即厚度的任何进一步增加都不会导致更多的X射线到达探测器，因此厚度达到饱和无法测出变
XRF镀层测厚仪的相关介绍
XRF镀层测厚仪对焦系统确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续一致；否则会导致结果不准确。XRF镀层测厚仪相机帮助用户精确定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以精确定位需要测量的区域。样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样
GENIUS－XRF系列新品闪耀登场
RoHS 合金 地矿 土壤 精准检测、10秒到位 GENIUS XRF系列新品闪耀登场 经过近一年的前瞻性研发，天瑞仪器向市场正式推出GENIUS XRF系列产品，该系列是在原有手持三代基础上创新升级而成，故也被称为手持四代x荧光分析仪。 手持式产品一直是天瑞传统优势产品之一，其便携小巧
XRF原理天瑞EDX－2800
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
XRF能扫描全部元素吗
不能做全部元素扫描，因为轻质元素能量跃迁很小，不容易捕捉。最好情况下XRF能检测Na（第十一号元素）以后的元素。
关于XRF的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子