一文了解微区XRF，及基于SEM的微区XRF技术
X射线荧光（XRF）是一种用于测定材料元素和涂层系统特性的分析方法，具有悠久的历史，在许多实验室都有应用。传统上，XRF分析大面积或体积的样品。在制备过程中，往往需要对样品材料进行变形和破坏，即制备过程是破坏性的。但很多样品需要在无损的情况下进行检测。这意味着需要将完整的样品放置在仪器中，不可能通过均质或抛光来获得平坦的样品区域。在这种情况下，可以使用微区X 射线荧光 (μ-XRF)，因为这种方法只对小面积的样品进行研究。 微 X 射线荧光 (μ-XRF)也称为空间分辨 X 射线荧光技术，在50多年前首次被描述。从那时起，尽管它在一些工业和学术应用领域相当普遍，但多年来一直是一项针对特定客户群的专用技术。早期论文指出了μ-XRF技术的分析优势，这些优势至今仍然适用，例如可以对较大样品中的特定小区域进行非破坏性样品分析，从而更好地描述化学性质不均匀的材料。此外，由于几乎不需要样品制备，该技术还具有快速、主要和痕量元素灵敏度高......阅读全文
一文了解微区XRF，及基于SEM的微区XRF技术
X射线荧光（XRF）是一种用于测定材料元素和涂层系统特性的分析方法，具有悠久的历史，在许多实验室都有应用。传统上，XRF分析大面积或体积的样品。在制备过程中，往往需要对样品材料进行变形和破坏，即制备过程是破坏性的。但很多样品需要在无损的情况下进行检测。这意味着需要将完整的样品放置在仪器中，不可能
扫描电子显微术－SEM
分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象 谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等 提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等
积极响应国家设备更新政策丨布鲁克电子显微分析仪器更新和升级指南
近期，国家连续推出多项政策，科学仪器行业均受到了不同程度的拉动。3月1日，国务院常务会议审议通过《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》（后简称《行动方案》）。一时间在行业中又激起千层浪，将近期的政策利好推向了高潮。作为优异的科学实验仪器制造厂商，布鲁克纳米分析部电子显微分析技术基于电子显微镜
扫描电子显微镜(Scanningelectron－microscopy,－SEM)
扫描电镜分析可以提供从数纳米到毫米范围内的形貌像，观察视野大，其分辩率一般为6纳米，对于场发射扫描电子显微镜，其空间分辩率可以达到0.5纳米量级。其提供的信息主要有材料的几何形貌，粉体的分散状态，纳米颗粒大小及分布以及特定形貌区域的元素组成和物相结构。扫描电镜对样品的要求比较低，无论是粉体样品还是大
电子扫描显微镜（SEM）的工作原理
SEM通过电子来使样本放大50万倍，相当于将1毫米放大到500米。同时，SEM也可以分析样品的组成元素。SEM产生电子束撞击样品原子的电子层，产生X射线，释放不同程度的能力，从而判断原子的种类。这项技术也被称为X射线微探技术，对于分析枪击痕迹非常有用。
什么是扫描电子显微镜－SEM？
扫描电镜的应用较为普遍，扫描电子显微镜原理是：通过光栅扫描技术来产生标本的放大图像。它引导聚焦的电子束穿过样品的矩形区域，当电子束通过时会产生能量损失。该能量会被转换成热、光、二次电子等能量同时反向散射电子。此时通过软件系统进行翻译转换后得到清晰的标本图像信息。从成像原理分析，扫描电子显微镜的分辨率
电子扫描显微镜（SEM）的工作原理
扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗 粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为 5 ～ 35keV 的电子，以其交 叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，
扫描电子显微镜SEM工作原理
透射电镜原理 目前，主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6～8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速运动，经过*聚光镜和第二聚光镜的会聚作用使电子束聚焦在样品上，透过样品的电子束再经过物镜、*中间镜、第二中间镜和投影镜四级放大后在荧
布鲁克发布全球首个多层分析电镜软件包XMethod
分析测试百科网讯 近日，布鲁克公司在2017显微镜和微观分析会议上展示了世界上第一个用于分析单层或多层组成和厚度的软件包X-Method，可以通过XTrace微焦X射线源扫描电子样本激发获得的电子显微镜图像。该软件能够对厚度范围从几纳米到40微米的薄膜和多层结构进行表征，而不需要对样品进行横截面
扫描电子显微镜（SEM）样品制备详解
一、样品处理的要求扫描电子显微镜的优势为可以直接观察非常粗糙的样品表面，参差起伏的材料原始断口。但其劣势为样品必须在真空环境下观察，因此对样品有一些特殊要求,笼统的讲：干燥，无油，导电。1、形貌形态，必须耐高真空。例如有些含水量很大的细胞，在真空中很快被抽干水分，细胞的形态也发生了改变，无法对各类型
采用激光共聚焦显微镜可以获取媲美SEM的显微图像
激光共聚焦显微镜可用来观察样品表面亚微米级别的三维轮廓形貌, 也可以测量多种微几何尺寸, 像晶粒度、体积、膜深、膜厚、深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等。激光共聚焦相比于其他测量手段有其独特的优势, 它提高了图片的清晰度, 有很好的景深, 提高了分辨率, 可以进行无接触的三维轮廓测试。在金属材料研发方
采用激光共聚焦显微镜可以获取媲美SEM的显微图像
激光共聚焦显微镜可用来观察样品表面亚微米级别的三维轮廓形貌, 也可以测量多种微几何尺寸, 像晶粒度、体积、膜深、膜厚、深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等。激光共聚焦相比于其他测量手段有其独特的优势, 它提高了图片的清晰度, 有很好的景深, 提高了分辨率, 可以进行无接触的三维轮廓测试。在金属材料研发方
桌上型扫描电子显微镜（SEM）基础
1 什么是扫描电子显微镜（SEM） Scanning Electron Microscope(SEM)扫描型电子显微镜是由真空系统、 高压电源、高灵敏度增幅器获取样品表面图像的科学仪器。2 SEM的工作原理 3 SEM与光学显微镜相比，SEM的优点有哪些？ 比光学显微镜多10
扫描电子显微镜SEM的结构及原理
扫描电镜主要由电子光学系统，显示系统，真空及电源系统组成。一、电子光学系统包括电子枪，聚光镜（*、第二聚光镜和物镜），物镜光阑和扫描系统。其作用是产生直径为几十埃的扫描电子束，即电子探针，使其在样品表面作光栅状扫描电子枪与透射电镜的电子枪基本相同，只是加速电压较低，一般在40kV以下。磁透镜有*、二
扫描电子显微镜SEM的结构及原理
一、电子光学系统包括电子枪，聚光镜（*、第二聚光镜和物镜），物镜光阑和扫描系统。其作用是产生直径为几十埃的扫描电子束，即电子探针，使其在样品表面作光栅状扫描电子枪与透射电镜的电子枪基本相同，只是加速电压较低，一般在40kV以下。磁透镜有*、二聚光镜和物镜，其作用与透射电镜的聚光镜相同：缩小电子束的直
MINI扫描电镜SEM与光学显微镜的区别
电子显微镜与光学显微镜的区别电子显微镜是以电子束为照明源，通过电子流对样品的透射或反射及电磁透镜的多级放大后在荧光屏上成像的大型仪器，电子显微镜由电子流代替可见光，由磁场代替透镜，让电子的运动代替，是利用了波长比普通可见光短得多的X射线成像，具备很高的分辨率。而光学显微镜则是利用可见光照明，将微小物
MINI扫描电镜SEM与光学显微镜的区别
电子显微镜是以电子束为照明源，通过电子流对样品的透射或反射及电磁透镜的多级放大后在荧光屏上成像的大型仪器，电子显微镜由电子流代替可见光，由磁场代替透镜，让电子的运动代替，是利用了波长比普通可见光短得多的X射线成像，具备很高的分辨率。而光学显微镜则是利用可见光照明，将微小物体形成放大影像的光学仪器。概
扫描电子显微镜（SEM）之样品制备篇
一、样品处理的要求 扫描电子显微镜的优势为可以直接观察非常粗糙的样品表面，参差起伏的材料原始断口。但其劣势为样品必须在真空环境下观察，因此对样品有一些特殊要求,笼统的讲：干燥，无油，导电。 1 形貌形态，必须耐高真空。 例如有些含水量很大的细胞，在真空中很快被抽干水分，细胞的形态也发生了改
扫描电子显微镜（SEM）和电子探针显微分析装置（EPMA）
扫描电子显微镜和电子探针显微分析仪基本原理相同，但很多人分不清其差异，实际上需要使用电子探针领域比较少，而扫描电镜相对普遍。扫描电子显微镜（SEM），主要用于固体物质表面电子显微高分辨成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征信号分析。 最常用的分析信号是聚焦电子束和样品相互作用区发射出的元素特征X
SEM结构
结构1．镜筒镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。其作用是产生很细的电子束（直径约几个nm），并且使该电子束在样品表面扫描，同时激发出各种信号。2．电子信号的收集与处理系统在样品室中，扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号，其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇（Auger）电子
SEM特点
特点（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。（二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。（三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。（四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍
XRF
能量色散X荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势，在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。可应用于：1、欧盟RoHS指令限定有害元素检测： 铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬
四大显微设备SEM、TEM、AFM、STM工作原理汇总
四大显微设备：SEM、TEM、AFM、STM，相信大家并不陌生，特别是学材料的小伙伴们。那它们的工作原理呢？下面，让您轻松了解它们的工作原理，跟枯燥乏味的各种分析说拜拜啦！01.扫描电子显微镜（SEM）SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。SEM是采用逐点成像的
美国IXRF公司来天美安装及培训能谱
2010年12月14-16日，美国IXRF公司副总裁Rich Lamb先生和Kenny Witherspoon先生来天美北京电镜应用实验室安装IXRF能谱并培训相关人员。该能谱为10mm2的电制冷型，能量分辨率为126ev，将放在天美电镜应用实验室做演示。目前，天美公
SEM关机程序
关机程序（1）关灯丝电流（FILAMENT）。（2）关高压（ACCELERATION POTENTIAL）。（3）反时针调节显示器对比度（CONTRAST）、亮度（BRIGHTNESS）到底.（4）关闭镜筒真空隔阀。（5）关主机电源开关。（6）关真空开关。（7）20分钟后，关循环水和电子交流稳压器开
SEM灯丝选择
01.电子源大小电子源大小为电子枪发射出电子后经韦氏帽汇聚后所形成的电子束斑，六硼化镧和六硼化铈灯丝明显小于钨灯丝，更有利于经过聚光镜和物镜汇聚后形成更小的电子束斑，从而得到更好的分辨率； 02.亮度亮度为灯丝单位面积内的电子流强度，亮度越高，越有利于得到更充足的信号，提高图片的信噪比和清晰度。六硼
SEM衬－度
衬 度衬度包括：表面形貌衬度和原子序数衬度。表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大，图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大；所以只有—些特殊的高
SEM真空系统
SEM真空系统 不同的灯丝，SEM真空系统的设计有所不同。在钨灯丝系统中，灯丝的真空度受到运行状态影响。例如，每次加载或卸载样品时，都会有空气进入真空柱，影响灯丝的使用寿命。观察不导电样品时，通常需要低真空，也会缩短灯丝寿命。对于CeB6系统，比如飞纳电镜，内置涡轮分子泵，采用分级真空系统，通过压差
SEM相关应用
扫描电镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器．它可以进行如下基本分析： 1、观察纳米材料：其具有很高的分辨率，可以观察组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。2、材料断口的分析：其景深大，图象富立体感，具有三维形
SEM放大倍数
放大倍数扫描电镜的放大倍数可表示为M =Ac/As式中，Ac—荧光屏上图像的边长；As—电子束在样品上的扫描振幅。一般地，Ac 是固定的(通常为100 mm)，则可通过改变As 来改变放大倍数。目前，大多数商品扫描电镜放大倍数为20～20,000倍，介于光学显微镜和透射电镜之间，即扫描电镜弥补了光学