梅特勒托利多推出高性能新型XPE系列天平
梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵盖了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液体自动加样模块。凭借最新的静电消除、智能秤盘以及状态指示灯技术，新型XPE天平可以保证测量结果的稳定性和合规性，帮助客户轻松实现无忧测量。 如何处理静电是分析天平和微量天平所要面对的一大挑战，而新型XPE天平的静电消除技术使得这一问题将不复存在。XPE微量分析天平和分析天平使用创新的静电消除技术，能够通过分析称量信号判断并消除由于静电导致的称量误差。 此外，革新性的智能秤盘可以使得精密天平在不使用防风罩的情况下，实现最高达5mg的测量精度。即便是在通风橱中，其测量结果的速度也比之前加快了一倍。 XPE天平自带的TestManager软件将使得常规测量管理变得轻松无比。使用该软件可以便捷地帮助客户实现特定测量，且用户在测试即将开始时也会接收到软件的提醒通知。如果实验尚未完成，用户还可以......阅读全文
梅特勒托利多推出高性能新型XPE系列天平
梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵盖了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液体自动加样模块。凭借最新的静电消除、智能秤盘以及状态指示灯技术，新型XPE天平可以保证测量结果的稳定性和合规性，帮助客户轻松实现无忧测量。 如何处理静电是分析天平和微量天平所要
梅特勒托利多推出高性能新型XPE系列天平
梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵盖了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液体自动加样模块。凭借最新的静电消除、智能秤盘以及状态指示灯技术，新型XPE天平可以保证测量结果的稳定性和合规性，帮助客户轻松实现无忧测量。 如何处理静电是分析天平和微量
新型XPE系列天平——更强技术，更高性能！
梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵盖了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液体自动加样模块。凭借最新的静电消除、智能秤盘以及状态指示灯技术，新型XPE天平可以保证测量结果的稳定性和合规性，帮助客户轻松实现无忧测量。 如何处理静电是分析天平和微量天平所要面对的一大
梅特勒托利多新超越系列XPE/XSE分析天平荣耀上市
2014年6月26日，2014世界制药机械、包装设备及材料中国展(P-MEC China)揭开帷幕。梅特勒-托利多公司在亮相展会的同时，于26日上午举行了”新超越系列XPE/XSE分析天平新品发布会”。梅特勒-托利多中国区实验室业务总经理陈淮先生和天平产品市场团队董文忠先生出席了新品发布会。
梅特勒托利多新超越系列XPE/XSE分析天平荣耀上市
在超越系列XP/XS分析天平引领全球高端分析天平市场10年之际，在美丽的常州，来自全国各地的50余家梅特勒-托利多天平合作经销商伙伴聚集一堂，体验梅特勒-托利多全新发布的新超越系列XPE/XSE分析天平。新XPE和XSE系列天平将会延续XP和XS系列天平的成功，通过推广“无忧称量”，再一次体现梅特勒
梅特勒新型天平――更强技术，更高性能
梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵盖了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液体自动加样模块。凭借最新的静电消除、智能秤盘以及状态指示灯技术，新型XPE天平可以保证测量结果的稳定性和合规性，帮助客户轻松实现无忧测量。
梅特勒托利多推出新型高性能热分析产品
分析测试百科网讯 2015年10月8日，梅特勒-托利多宣布推出了两款新型热分析产品，DSC3+ 和 TGA/DSC 3+。 DSC 3 +拥有最新的高级炉体并结合了先进的传感器技术：提供优秀分辨率的FRS 6 +以及优秀灵敏度的HSS 9 +。 梅特勒新开发的高级炉体和传感器组合能够在最苛
梅特勒托利多NewClassic系列天平上市
梅特勒-托利多全新NewClassic系列天平即将上市，NewClassic系列天平是面对各种业务挑战而开发的新一代分析和精密天平，上市后将逐步替代现有的经典B系列和L-IC系列天平。 “Classic"表示延续了梅特勒-托利多作为称量领域的领导者，长期以来积累的传统和先进技术，以及倍受客户赞
梅特勒托利多新超越系列－轻松应对各项挑战
食品和食品成分的质量控制涉及多种参数，如pH，氯离子含量，酸值或者过氧化值。通常每个月有几百个样品需要分析，因此，需要一个完善的滴定系统来减少实验室人员的工作量。梅特勒-托利多的新超越系列电位滴定仪提供了快速熟悉的用户界面，并且减少了培训和更新的需求。为每个实验室或者工厂的用户定制个性化的用户界面，
瑞士梅特勒托利多超越系列XP精密天平/电子天平
梅特勒-托利多XP精密天平快速安全的满足所有称量需求，特别适合于例如制药行业的严格法规环境。仪器特点/功能：1. 采用高速单模块传感器(MonoBlocHighSpeed)，以最快的速度准确称量结果，具有良好的抗冲击、抗过载性能；2. 有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)，实现安全
梅特勒托利多新超越系列分析天平中文宣传语有奖征集
2011年9月，由梅特勒-托利多主办的首次以“高端天平的未来”为主题的创新技术交流会在上海华亭宾馆顺利落下帷幕。与会期间，众多天平用户、经销商及销售人员各抒己见，提供了近100个未来高端天平的产品功能创意，共同描绘了一个能自行判断状态，并且为用户考虑样品特性的未来智能化称量系统。经过2年多的努力，
XPE－精密天平
始终确保可靠称量XPE 精密天平持久耐用，易于清洁，可为几毫克至数千克的样品提供高可读性和可重复性。创新型 SmartPan™ 秤盘提供的卓越稳定性使您能够用 1 mg 读数精度进行称量，而无需防风罩。 即便在通风橱内，5 和 10 mg 型号稳定时间的速度也快了两倍。 重复性改善了两倍。
梅特勒托利多：实验天平领域研制专家
导读：2014年9月24日，第七届慕尼黑上海分析生化展（analytica China）在上海新国际博览中心盛大揭幕。来自29个国家和地区的695家参展商参与此次盛会。中国化工仪器网组织强大的团队，分三个报道小组，用影像记录了展会盛况。展会现场，梅特勒-托利多天平产品市场部高级产品专员季忱接
梅特勒托利多ME系列天平感恩大回馈活动
梅特勒-托利多经典系列天平以其紧凑的设计、可靠的性能，在过去二十年中赢得众多中国用户的青睐。为满足用户更高地称量需求，梅特勒-托利多隆重推出新经典系列ME天平。 为了答谢广大用户的厚爱，梅特勒-托利多特别举办“感恩20年，真情大放送”活动。只要您购买ME系列天平，就有机会到梅特勒-托利多瑞士总
瑞士梅特勒托利多PBS系列精密天平
技术参数：1.可读性: 0.001g-1g 2.最大称量值: 151g-8100g 3.重复性(s):0.001g-0.08g 4.线性: ±0.002g-±1g 5.秤盘尺寸(mm): Φ100-Φ180主要特点：•采用单模块传感器技术（MonoBloc），提高称量结果的准确性和天平抗冲击和过载保
瑞士梅特勒托利多经典系列AL分析天平/电子天平
梅特勒-托利多经典系列AL分析天平，秉承梅特勒-托利多天平产品一贯的卓越称量性能，融入创新的产品设计，符合高标准的产品研发、生产及性能测试的质量规范，体现了真正的瑞士品质。同时以更加实惠的价格力求让越来越多的中国用户享受到来自梅特勒-托利多的专业产品和服务。仪器特点/功能：1. 多级数字滤波和补偿技
瑞士梅特勒托利多超越系列XS分析天平/电子天平
梅特勒-托利多XS分析天平，配合其创新选件，为快速高效的称量过程设立了全新标准。仪器特点/功能：1. 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求；2. 具有中文界面的触摸屏(TouchScreen)，实现安全、便捷的天平操作；3. 网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确的称量结
梅特勒托利多超越系列XSEx精密天平/防爆天平/电子天平
梅特勒-托利多XS-Ex精密天平，配合其创新选件，为快速高效的称量过程设立了全新标准，是符合中国及欧洲防爆标准的理想解决方案。 仪器特点/功能： 1. 用高速单模块传感器(MonoBlocHighSpeed)，以最快的速度准确称量结果，具有良好的抗冲击、抗过载性能； 2. 具有中文界面的触摸屏(T
新海报：快速检查您的移液器性能
新海报：快速检查您的移液器性能February 26, 2018 - Greifensee, Switzerland定期评估移液器性能是否在可接受的范围内是确保数据完整性并降低总体风险的出色方法。利用重量分析天平 – 移液器性能测试选择方法，可轻松地检验大多数移液器的准确性。具备集成性能检查功能的天
梅特勒托利多系列XP/XS超微量天平/微量天平/电子天平
梅特勒-托利多XP2U/XP6/XS3DU(超)微量天平在处理昂贵、易分解或者有毒物质时，尽可能减少样品使用量意味着可以大大降低成本。而XP26/XP56微量天平特别适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免样品转移过程中的误差和浪费。仪器特点/功能：XP2U/XP6/XP26/XP56型
梅特勒托利多MS/ML系列半微量天平/分析天平/电子天平
梅特勒-托利多新经典系列MS半微量天平，集成众多瑞士称量技术，无论是简单的日常工作，还是复杂的称量程序， MS半微量天平将卓越的性能和提高生产力进行了完美的结合：它采用高分辨率称量技术(HRT)；易于使用的左右手互换开关门(ErgoDoor)；直观的用户界面，配合智能菜单指导。是面对各种业务挑战而开
梅特勒托利多诚邀您莅临－“2014慕尼黑上海分析生化展”
由德国慕尼黑国际博览集团和慕尼黑展览（上海）有限公司主办的2014慕尼黑上海分析生化展将于2014年9月24日至9月26日在上海新国际博览中心召开。梅特勒-托利多将带来最新、最全面的实验室解决方案，包括在在制药、化工、食品、材料等行业领域的检测应用。如梅特勒-托利多最新产品新超越系列XPE分析天平、
梅特勒托利多推出新型数字传感器！
导读：梅特勒-托利多的数字传感器具有业界证明可靠的K8S接头，它具有IP68级别的保护，非常适用于恶劣、潮湿的环境。此外，与传感器配套使用的测量仪器(M700变送器)可选择pH/氧化还原、氧气和电导率的三种检测模块。梅特勒-托利多(Metler Toledo)，一家实验室、工业和零售食品行业所用
梅特勒托利多推出X33－系列散料检测系统
英国罗伊斯顿 2013 年 9 月 – 梅特勒-托利多 X 射线推出了 X33 系列散料检测系统，可对干燥和粘状散装食品进行最佳污染检测，检查产品的污染物，如玻璃、金属碎片、钙化骨、矿物石和高密度塑料等。从事散装主食，如麦片、葡萄干、橄榄、干果、甚至虾或肉末等工作的食品制造商很早就不得不采用繁琐
梅特勒托利多推出新型－IND570－工业仪表
2015年5月4日，中国北京—全球领先的精密仪器供应商梅特勒-托利多公司近日宣布推出一款新的工业仪表IND570。IND570 具有精确、耐久和用途广的特点。该款仪表结构坚固，适合在最恶劣的工业环境中使用，从而为简单到复杂的称重应用提供了灵活的控制选件。 IND570 具有多样的形
岛津公司推出新型ATX/ATY系列分析天平
基于一键校准和先进的传感器技术的新型ATX / ATY系列分析天平可提供更精确的测量 哥伦比亚特区，马里兰州，2011年3月13日 日本岛津公司推出ATX/ATY系列新型分析天平，该系列天平可提供多种功能，测量操作简单，结果精确。该ATX/ATY系列新型分析天平测量范
梅特勒推出新型实验室天平选型工具
从上百种天平中找到正确的天平是一项艰巨的任务，尤其，当您缺少对几款天平性能和参数进行轻松比较的详细信息，或当您迷失于过多的参数和样本数据表时。最糟糕的是您最终选择了不适合您需求的天平。 作为梅特勒-托利多公司了解将正确的产品信息传递给客户这一需求，通过直接获得正确信息，您可以轻松找到适合您的具体称
梅特勒托利多参加2014中国材料大会
2014年7月5-7日“2014中国材料大会”在成都召开，此次会议由中国材料研究学会主办，四川大学承办。大会共设19个分会场及材料教育论坛，涉及的领域包括能源与环境材料、新型功能材料、高性能结构材料及材料基础研究。黄伯云、蹇锡高等我国材料研究领域权威人物出席大会。专家和学者们分别来自清华大学、中南大
梅特勒托利多全新MSTS系列天平即将隆重上市！
梅特勒-托利多全新MS-TS系列天平即将隆重上市！ 全新MS-TS系列天平配备有7 英寸超大彩色液晶触摸屏， 18mm高数字显示方便清晰读取结果，且超大图标方便天平操作。FACT全自动内部校准技术和LevelControl 水平控制功能等产品特性确保天平始终获得准确称量结果。此外，天平标
梅特勒托利多荣膺Weighing－Review奖
近日，梅特勒-托利多宣布了该公司在第二届年度称重评审选择奖中获得了“Best Weighing Company”和“Best Laboratory Scale/Balance”称号。此次评选在网上进行，汇聚了由用户提名的32个称重公司和50个称重产品。据悉，选票来自72个国家，说明了奖项的国际性