赛默飞世尔科技成功举办2011表面分析用户会
2011年7月19日-22日，由赛默飞世尔科技(中国)有限公司和中国科学院大连化学物理研究所携手举办的赛默飞世尔科技2011表面分析用户会在美丽的海滨城市大连胜利召开。有来自各高校、中科院科研院所、企业等单位共50余人参加了此次用户会。 赛默飞世尔表面分析销售经理魏义彬博士主持召开了开幕式。会议首先由赛默飞世尔分子光谱&表面分析中国区商务运营总经理吴秋波先生致欢迎辞，感谢广大用户多年来对赛默飞世尔的支持与信赖，并承诺为用户提供一流的仪器、优质的服务及解决方案。来自大连化物所国家重点实验室分析测试中心余松华主任代表用户发表讲话，感谢赛默飞世尔为用户提供世界顶尖的设备，对公司提供的优质的售后服务表示赞赏，并殷切希望用户会能每年召开一次，为用户提供更多学习、交流的场所。 此次会议邀请了国内知名的XPS专家分别从表面分析的标准化、表面分析在催化领域应用、XPS光电子能谱仪实验室的管理以及XPS光电子能谱仪的实验室......阅读全文
X光电子能谱仪
X光电子能谱仪是一种用于能源科学技术领域的分析仪器，于2010年10月1日启用。 技术指标 最佳能量分辨率 < 30 μm，最佳能量分辨率 < 0.5 eV FWHM，C1s能量分辨率< 0.85 eV，离子源能量范围：100 eV至3 keV，最大束流：4 μA，在烘烤完成24小时后，分析
多功能·光电子能谱仪
多功能·光电子能谱仪是一种用于化学领域的分析仪器，于2014年12月13日启用。 技术指标 超高真空： 5×10-10 mbar 单色化Al Kα； 水冷双阳极Mg/Al Kα； 水冷双阳极Zr Lα, Ti Kα 能量分辨率： 0.45 eV, 灵敏度: 400k cps @0.5 eV
X射线光电子能谱
X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技术也被称作用于化学分析的电子能谱(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS属表面分析法,它可以给出固体样品表面所含的元素种类、化学组成以及有
光电子能谱的分类
根据光源的不同，光电子能谱可分为:1、紫外光电子能谱UPS（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer）；2、X射线光电子能谱XPS(X-Ray Photoelectron Spectrometer ）3、俄歇电子能谱AES(Auger Electron Spect
光电子能谱仪的作用简介
光电子能谱仪（photoelectron spectrograph）是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器。可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素。 用途 光电子能谱仪可研究原子的状态、原子周围的状况及分子结构，在表面化学分析、分子结构、催化剂、
X射线光电子能谱仪原理
X射线光子的能量在1000～1500ev之间，不仅可使分子的价电子电离而且也可以把内层电子激发出来，内层电子的能级受分子环境的影响很小。 同一原子的内层电子结合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固体表面激发出光电子，利用能量分析器对光电子进行分析的实验技术称为光电子能谱。 XPS的原理
现代X光电子能谱仪简介
介绍了现代 X 光电子能谱仪的激发源、能量分析器、传输透镜、电子检测器、荷电中和器等主要部件的结构特点。在此基础上介绍了仪器的主要性能指标灵敏度、能量分辨率等,简单介绍了考察一台能谱仪的方法。最后讨论了电子能谱仪发展。
关于光电子能谱的简介
光电子能谱主要用于表面分析，由激发源发出的具有一定能量的X射线，电子束，紫外光，离子束或中子束作用于样品表面时，可将样品表面原子中不同能级的电子激发出来，产生光电子或俄歇电子等．这些自由电子带有样品表面信息，并具有特征动能．通过能量分析器收集和研究它们的能量分布，经检测纪录电子信号强度与电子能量
X射线光电子能谱（－XPS）
XPS：X射线光电子能谱分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量，而EDS不能测价态，且测试的深度为几十纳米到几微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。 原理：用X射线去辐射样品，使原子或分子
光电子能谱法的简介
中文名称光电子能谱法英文名称photoelectron spectroscopy定 义以光作激发源的电子能谱分析方法。常用激发源有X射线和紫外光。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
紫外光电子能谱仪的简介
中文名称紫外光电子能谱仪英文名称ultraviolet photoelectron spectrometer定 义用紫外光激发试样光电子的能谱仪。适用于表面状态分析，能获得能带结构，振荡能级信息。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合
X射线光电子能谱仪的发现
1895年11月8日晚，德国维尔茨堡大学校长兼物理研究所所长伦琴在实验室研究阴极射线。 为了防止外界光线对放电管的影响，也为了不使管内可见光漏出管外，他把房间全部弄黑，创造伸手不见五指的环境，他还用黑色硬纸给放电管做了个封套。为了检查封套是否漏光，他给放电管接上电源，发现没有漏光。但他切断电源
X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
多功能X射线光电子能谱仪
多功能X射线光电子能谱仪是一种用于物理学、生物学、基础医学、临床医学领域的分析仪器，于2018年1月22日启用。 技术指标 1. 分析室真空度：5×10-10 mbar 2. 最佳能量分辨率：0.43eV 3. 最小空间分辨率：1μm 4. Ag的3d5/2峰半峰宽为1eV时电子计数率
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
电子能谱仪概述
电子能谱仪：对固体表面进行微区成份分析及元素分布。可应用于半导体材料、冶金、地质等部门。X光光电子能谱仪：对固体进行化学结构测定、元素分析、价态分析。可应用于催化、高分子、腐蚀冶金、半导体材料等部门。 电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器
X射线光电子能谱仪的仪器类别
03030707 /仪器仪表 /成份分析仪器指标信息： 主真空室：1×10-10 Torr XPS：0.5eV, AES: 分辨率：0.4%, 电子枪束斑：75nm , 灵敏度：1Mcps信噪比：大于70:1 角分辨：5°～90°. A1/Mg双阳极靶 能量分辨率：0.5eV ,灵敏度：255KCP
关于X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合
X射线光电子能谱仪(XPS)的发展
X射线光电子能谱（XPS）也被称作化学分析电子能谱（ESCA）。该方法首先是在六十年代由瑞典科学家K.Siebabn 教授发展起来的。这种能谱最初是被用来进行化学元素的定性分析，现在已发展为表面元素定性、半定量分析及元素化学价态分析的重要手段。此外，配合离子束剥离技术和变角XPS技术，还可以进行
关于光电子能谱的分类介绍
一、根据光源的不同，光电子能谱可分为: 1、紫外光电子能谱UPS（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer）； 2、X射线光电子能谱XPS（X-Ray Photoelectron Spectrometer ） 3、俄歇电子能谱AES(Auger Elec
关于光电子能谱的基本介绍
光电子能谱（photoelectron spectroscopy），利用光电效应的原理测量单色辐射从样品上打出来的光电子的动能（并由此测定其结合能）、光电子强度和这些电子的角分布，并应用这些信息来研究原子、分子、凝聚相，尤其是固体表面的电子结构的技术。对固体而言，光电子能谱是一项表面灵敏的技术。
紫外光电子能谱的介绍
紫外光电子能谱UPS（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer）以紫外线为激发光源的光电子能谱。激发源的光子能量较低，该光子产生于激发原子或离子的退激，最常用的低能光子源为氦Ⅰ和氦Ⅱ。紫外光电子能谱主要用于考察气相原子、分子以及吸附分子的价电子结构。
紫外光电子能谱的原理
紫外光电子谱的基本原理是光电效应（如图1）。它是利用能量在16-41eV的真空紫外光子照射被测样品，测量由此引起的光电子能量分布的一种谱学方法。忽略分子、离子的平动与转动能，紫外光激发的光电子能量满足如下公式：hν=Eb+Ek+Er，其中Eb电子结合能，Ek电子动能，Er原子的反冲能量。
关于光电子能谱的简史介绍
1905 年，Einstein 在他的论文中解释了光电效应，而P. Auger 在1923 年发现了Auger效应，这两个效应构成了现在的化学分析电子能谱学的基础。分析电子动能的仪器也已经很早就出现了，甚至早在第一次世界大战前，就已经有了利用磁场分析β 射线的实验。但是，化学研究中所需要分析的电
俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同
的内层电子瞬间得到极高的能量 就会摆脱原子核的束缚 这样就会靠近原子的轨道形成电子的空缺 为了使整个原子保持稳定 即能量最低 次外层的电子就会向内跃迁来填补这种空穴 这个过程也会产生光子 并且光子的能量非常的高 就是X射线 不过这只是X射线谱的一部分 为特征辐射 还有一类是连续谱 是高能电子飞向原子
电子能谱仪的简介
电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器。电子能谱仪可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素，还可研究原子的状态、原子周围的状况及分子结构，在表面化学分析、分子结构、催化剂、新材料等研究领域中已得到应用。
俄歇电子能谱仪
俄歇电子能谱仪（Auger Electron Spectroscopy，AES），作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析