岛津X荧光应用技术培训班洛阳成功举办
为了方便广大用户更好的使用仪器，岛津公司于2011年11月17-18日在河南洛阳洛铜宾馆举办了X荧光光谱仪培训班，来自河南省钢铁、有色、耐火材料、水泥等行业的50多家用户参加了此次培训班。 岛津X荧光应用技术培训班现场 随着仪器分析逐渐代替传统的化学分析，实验室工作由摇瓶子变成计算机的操作与控制，劳动力的解放是毋庸置疑的，如何让仪器分析结果也令人高枕无忧呢?这是摆在众多仪器用户面前的问题，特别是在操作人员发生变更时，仪器的使用及应用支持成为仪器用户关注的焦点。 岛津公司作为一家国际知名的专业仪器生产厂家，在130多年的生产、销售中亲身感受着用户的需求，因此将仪器应用支持与仪器研发、销售并重，努力做到“好仪器，用得好”。目前，在中国上海建立了岛津全球最大的分析应用中心，配置有品种齐全的样机及专业应用工程师，可以提供仪器运行展示、客户样品分析及新分析方法的开发。 本次洛阳X荧光光谱仪培训班采用用户集中地集中培训......阅读全文
X射线荧光岩屑识别技术研究
在石油钻井施工中,准确获取岩性资料是录井的基本任务,是及时建立地层剖面、准确评价油气层性质、正确预测下部地层的前提,也是指导钻井生产正常运行的最基础的工作。然而,目前PDC钻头的使用、空气钻井等钻井工程工艺发展,使常规的录井方法难以准确识别岩性,水平井地质导向给录井的岩性识别和地层划分提出了更高的要
X射线荧光仪器的技术优点介绍
利用XRF，元素周期表中绝大部分元素均可测量。作为一种分析手段，XRF具有其优越的地方：分析速度快、非破坏分析、分析精密度高、制样简单等。波长色散和能量色散XRF光谱仪对元素的检测范围为10-5%~100%，对水样的分析可达10-9数量级；全反射XRF的检测限已达到10-9~10-12g。同时也
铁合金X荧光分析技术的研究
铁合金是钢铁冶炼过程中重要的添加剂,其组分直接影响着钢铁产品的质量,因此对铁合金化学成分进行快速、准确分析是非常重要的。采用X射线荧光分析方法对于铁合金分析具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠等优点,受到了科研和生产人员重视。本文采用便携式XRF分析仪开展铁合金主元素的快速分析研究,重点讨论了铬
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S
欢迎参加胶囊中铬检测岛津培训班
一直努力为科学工作者提供更加完善的分析仪器和高效迅捷的分析方法的世界知名分析仪器供应商岛津公司， 为了帮助医药行业准确测定空心胶囊中铬含量，令使用者能够熟练的掌握药典方法，能自行对胶囊样品进行处理，完成测试过程。同时能对原子吸收光谱仪有一定的了解，熟悉工作站的使用，并能对仪器进行基础的维护，
X荧光光谱仪分析技术误区
不管任何分析仪器，分析技术是获得正确结果的保证。分析技术贯穿于仪器应用的全过程。分析方法的选择必须满足仪器应用的需要。 误区1：标样制备太麻烦，最好用无标样法。 X荧光光谱仪分析法和其它大部分分析仪器一样，是相对分析法。在X荧光光谱仪分析中，测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样
能量色散X射线荧光光谱技术
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
简述X荧光光谱仪技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X荧光光谱仪的技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出
X荧光光谱仪的技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。 X荧光光谱仪的技术原理： 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X
X荧光定硫仪的技术特点介绍
X荧光定硫仪是根据中华人民共和国标准GB/T17040-2008《石油产品硫含量测定法（能量色散X射线荧光光谱法）》规定的要求设计、制造的专用X荧光分析仪。 X荧光定硫仪主要技术特点 1、采用荧光强度比率分析方法，检测品种广，带有12个标样，量程宽，分析速度快，样品耗量少。
X荧光光谱仪的技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
关于X射线荧光分析技术应用的误区
X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25 年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁 分析
X荧光光谱仪重要技术原理
X荧光光谱仪技术原理: X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后
岛津光谱分析仪器交流会走进邹平
2011年岛津光谱分析仪器交流会和光电直读光谱仪应用培训班于12月15日走进山东省滨州市邹平县，此次交流会由岛津企业管理(中国)有限公司及其山东地区合作伙伴济南汇海龙盛科技有限公司联合举办，来自邹平周边的30多家客户共同参与了交流活动。 会议现场 邹平是全国知名的百强县，矿产资源
能量色散X射线荧光光谱技术简介
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
简介X荧光分析仪的技术指标
分析范围: 0.01%～100% 分析精度：标准偏差SSO3≤0.04%、SCaO≤0.10% 样品量: 2～3ml(相当样品深度3mm～4mm)； 分析宽度: CaO（SO3）: min~max≤15%,例如水泥中CaO :37%～52%，通过标定工作曲线选定。 测量时间: 60、12
X荧光分析仪的应用及技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。 一、XRF在物质成分分析上的应用 XRF应用主要取决于仪器技术和理论方法的发展。X射线荧光分析仪器有三种主要类型：实验室用
X射线荧光光谱仪的技术原理
X射线荧光光谱仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元
掠射软X射线荧光分析技术研究
掠射X射线分析是近年来迅速发展的一门分析技术，在科学研究以及分析检测和质量控制等生产领域都有着广泛的应用。X射线分析技术具有试样无损分析、制样经济方便、操作简单、分析结果重现性好及精度高等优点，使得这项技术在薄膜特性分析、半导体材料及磁铁材料表面检测方面受到特别的青睐。本文在综述了国内外掠射X射线荧
X荧光光谱仪的产品技术特点
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特
X荧光光谱仪技术原理和用途
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。技术原理受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出
单波长能量色散X射线荧光分析技术
单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术，将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降
X射线荧光测厚仪的原理和技术指标
原理 当原子受到原级X射线或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层空位，并同时放出次级X射线，即X射线荧光。X射线荧光的波长对不同元素是特征的，因此可以根据元素X射线荧光特征波长对元素做定性分析，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如
X射线荧光分析中的相关技术研究
X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析,本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X射线荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台X射线荧光分析仪,至60
X荧光多元素分析仪技术指标
1. 分析范围：CaO、Fe2O3、SiO2、Al2O3、SO3：0.01%~100%；2. 分析宽度：CaO≤7%、Fe2O3≤5%、SiO2≤5%、Al2O3≤7%、SO3≤5%，例如生料中CaO%：38.5%～45.5%，Fe2O3%：0.01%～5.00%，SiO2%：10.00%～15.0
基于RoHS认证的X荧光分析技术实验研究
RoHS指令(《电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令》)规定输往欧洲的电子产品及其组件均需对六种有毒成份:铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)、多溴二苯醚(PBDEs)等有害物质加以限制。近几年该指令已在电子电器、质量检测、环保等相关行业广泛实施应用。在多
岛津能量色散X射线荧光光谱仪通过美国FDA电子签名认证
分析测试百科讯 马里兰州哥伦比亚（华美）2015年8月5日-岛津科学仪器美国子公司（SSI）宣布其EDX-7000/8000能量色散X射线荧光光谱仪现已通过美国食品药物管理局（FDA）指定的21 CFR Part 11的电子签名规定。Part 11证实了由岛津EDX
岛津X射线荧光光谱仪合规应对中国药典通则新修订
*国家药典委员会官网及公示稿截图 中国药典相关通则修订稿正在加速公示中，四月底通则0461 X射线荧光光谱法迎来了它的第一次修订稿的发布。修订的主要内容包括对前言、供试品的制备、定量测定法相关内容的补充完善，以及增订方法学验证与确认中准确度、重复性、中间精密度、专属性、定量限、线性、范围、耐用性、确
x射线衍射、x荧光、直读光谱区别
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基