岛津X荧光应用技术培训班洛阳成功举办
为了方便广大用户更好的使用仪器，岛津公司于2011年11月17-18日在河南洛阳洛铜宾馆举办了X荧光光谱仪培训班，来自河南省钢铁、有色、耐火材料、水泥等行业的50多家用户参加了此次培训班。 岛津X荧光应用技术培训班现场 随着仪器分析逐渐代替传统的化学分析，实验室工作由摇瓶子变成计算机的操作与控制，劳动力的解放是毋庸置疑的，如何让仪器分析结果也令人高枕无忧呢?这是摆在众多仪器用户面前的问题，特别是在操作人员发生变更时，仪器的使用及应用支持成为仪器用户关注的焦点。 岛津公司作为一家国际知名的专业仪器生产厂家，在130多年的生产、销售中亲身感受着用户的需求，因此将仪器应用支持与仪器研发、销售并重，努力做到“好仪器，用得好”。目前，在中国上海建立了岛津全球最大的分析应用中心，配置有品种齐全的样机及专业应用工程师，可以提供仪器运行展示、客户样品分析及新分析方法的开发。 本次洛阳X荧光光谱仪培训班采用用户集中地集中培训......阅读全文
x射线衍射、x荧光、直读光谱区别
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
X荧光钙铁元素分析仪技术指标
1. 分析范围: CaO、Fe2O3: 0.01%~99%；2. 分析宽度： (CaO、Fe2O3) %max~ (CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%, CaO：38%~43%，Fe2O3:1%~6%，通过标定工作曲线选定；3. 分析精度！标准偏差SCaO≤0.3
X荧光硫元素分析仪的技术特点介绍
环境污染已引起世界各国政府和公众的密切关注,要求保护生态环境和大气环境的呼声日渐高涨。造成大气层破坏和污染的主要祸首是CO2 和SO2的排放。 CO2、SO2源自动力燃料的燃烧,车船飞机中使用汽油、柴油、重油等含硫量越低将会大大减少对大气的污染。 欧洲和我国都制定了一系列含硫标
x射线荧光光谱测厚仪的技术指标介绍
1、同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 2、分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 3、任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。 4、多变量非线性回收程序 适应范围为15℃至30℃。 5、电源: 交流220V±5V, 建
能量色散X射线荧光光谱技术基本介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
技术课堂之X荧光激发源的激发方式
针对通常的X射线荧光光谱仪，比较普及的激发方法有一下几种： 一、用放射性同位素源激发 源激发是将小量的放射性同位素，如55Fe（铁）、109Cd（镉）等化学物质固封在密封性的多出小圆孔的铅罐中，持续发射点出低能γ放射线，经准直后照射被测化学物质上造成X莹光。放射性同位素源传出的X射线
x射线荧光光谱的微区分析技术介绍
铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，各类矿物均存在类质同象或者镜下光学特征相似的现象，传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。 微区分析技术（电子探针、同步辐射、全反射
X荧光钙铁元素分析仪技术指标
X荧光钙铁元素分析仪技术指标1. 分析范围: CaO、Fe2O3: 0.01%~99%；2. 分析宽度： (CaO、Fe2O3) %max~ (CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%, CaO：38%~43%，Fe2O3:1%~6%，通过标定工作曲线选定；3. 分析精
X射线荧光分析技术应用的原理分析及误区
X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁分析仪的研
X射线荧光分析显微镜的技术参数
1.测量元素：Na—U； 2. X射线管：铑（Rh）靶/管电压50 kV /管电流1 mA； 3. X射线荧光检测器：SDD硅漂移检测器； 4.透过X射线检测器：NaI（Ti）晶体； 5. X射线导管：单毛细管10μm / 100μm无滤光片； 6.光学图像：样品整体光学像及共轴放大图
X荧光钙铁分析仪的技术指标
1. 分析范围： CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。 2. 分析范围宽度： CaO%max—CaO%min≤7% Fe2O3 % max—Fe2O3 % min≤5%； 例如生料：CaO：39%~46%，Fe2O3：0.01~5%。 3. 固
购买X荧光光谱仪技术指标误区
评价一台X荧光光谱仪好坏的技术指标是多重、综合的。用户关心和看重的主要有分析元素范围，即我们通常所说的可分析元素有哪些，分析时间长短，精确度如何等。技术指标的重要性最终还是取决于应用目的。 误区1：片面追求高指标。买一台仪器恨不得把元素周期表里的元素全测了，可实际应用的时候，只简单的测几种元素。 对
X荧光硅铝分析仪的技术指标
X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4
质子激发X射线荧光分析的非真空分析技术
质子X 射线荧光分析一般在真空中照射样品（称作真空分析或内束技术），但也发展了一种非真空分析技术（或称外束技术），即将质子束从真空室中引出，在空气（或氦气）中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷（质子电荷）而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积
X荧光硅铝分析仪的技术指标
技术指标 1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100% 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08% 3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通过标定工作曲线选定。
台式x荧光光谱仪的技术资料
台式x荧光光谱仪样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。 （1）固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等，其中金属材料占了很大的比例。 （2）粉末样品 包括各种矿产品，水泥及其原材料，金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等；还
购买X荧光光谱仪技术指标误区
评价一台X荧光光谱仪好坏的技术指标是多重、综合的。用户关心和看重的主要有分析元素范围，即我们通常所说的可分析元素有哪些，分析时间长短，度如何等。技术指标的重要性zui终还是取决于应用目的。 误区1：片面追求高指标。买一台仪器恨不得把元素周期表里的元素全测了，可实际应用的时候，只简单的测几种元
X荧光测硫仪
X荧光测硫仪是用于石油、煤、建材、冶金、采矿等工业的定量分析仪器，主要用于测量石油及其制品、煤、水泥、碳黑等材料中的全硫（S）的含量。由于它采用物理分析方法，具有分析速度快、无需复杂的样品预处理、精度高、人为误差小、操作工劳动强度低、无污染等特点，故已在上广泛应用并基本取代化学分析 方法。由于国外的
岛津公司上海大区代理商Workshop培训班成功举办
日前，由岛津公司分析事业开发部主办的为期一周的岛津公司上海大区代理商Workshop培训班圆满结束。 本期Workshop依托岛津公司上海分析中心强大的硬件平台与应用技术支持。在五天的培训课程中，来自岛津公司上海大区代理商的各位学员在讲师指导下，进行了LC、GC、GCM
触摸屏X荧光测硫仪和按键X荧光定硫仪
触摸屏X荧光测硫仪RC-9000XS型X荧光测硫仪：优点：仪器改进后外形美观大方，nei部结构紧凑。RC-9000XS型X荧光测硫仪可以当老款5台使用。RC-9000XS型X荧光测硫仪从低含量到高含量wu需选择曲线，放样60秒出结果，适用多油种，存储空间大。做样一条曲线。可存储19条曲线按键X荧光测
2010青海全省原子荧光法监测分析技术培训班结束
为配合做好青海环境监测技术大比武预赛暨首届全国环境监测专业技术大比武，近日，省环境监测中心站在西宁组织举办了原子荧光法监测分析技术培训班。来自省环境监测中心站、西宁市环境监测站、海西州环境监测站、格尔木市环境监测站、海东地区环境监测站、海北州环境监测站的近40名学员参加了本次培训
X荧光硫钙铁分析仪主要技术指标
X荧光硫钙铁分析仪主要技术指标：1. 分析范围：SO3、CaO、Fe2O3：0.01%~100% ;2. 分析宽度：SO3（CaO、 Fe2O3）%max~SO3(CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%，CaO：38%~43%，Fe2O3：1%~6%，通过标定工作曲线
X荧光硫元素分析仪的主要技术指标
1.测硫范围: 7ppm～5%;2.精密度: a重复性(r):＜0.02894（X+0.1691);b再现性(R):＜0.01215（X+0.05555）; 3.样品量: 2～3ml(相当样品深度3mm～4mm);4.测量时间: 30、60、90、120、150秒,任意设定;5.单样品自动测量,测量
X荧光钙铁分析仪的主要技术指标
1. 分析范围： CaO、Fe2O3：0.01%~100% ； 2. 分析宽度： CaO（Fe2O3）%max~ CaO（Fe2O3）%min≤5%，例如生料中CaO：38%~43%，Fe2O3：1%~6%，通过标定工作曲线选定； 3. 分析精度：标准偏差SCaO≤0.10%、SFe2O3≤
X荧光分析仪谱仪测量技术的进展介绍
1、数据处理系统智能化 1)软件智能化：窗式软件的使用，将仪器的工作状态实时地显示得一清二楚。在显示器上可直接显示 X 射线管管流和管压、现用晶体名称和何种准直器、样品分析室的压力和真空度等测量条件和参数。 2)汇编分析程序智能化：现代的分析软件包能自动进行汇编分析程序，操作者只要从仪器显示
全反射X荧光（TXRF）分析技术发展前景可观
全反射X荧光（TXRF）分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术，使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪（EXRF）本底降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏度，避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应；同时TXRF技术又继承了EXRF方法的优越性，
X射线荧光光谱分析技术的发展
归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射
X射线荧光光谱分析技术的发展
归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射
全反射X射线荧光光谱仪技术相关介绍
全反射现象由Compton于1923年发现，1971年Yoneda等首次提出利用全反射现象来激发被测元素的特征谱线。这是一种超衡量检测XRF技术。 XRF于1981年在德国问世,实质上是EDXRF的拓展,与常规EDXRF所具有的关键区别就在于其反射系统：TXRF通常有一级、二级或三级反射系