X射线荧光岩屑识别技术研究
在石油钻井施工中,准确获取岩性资料是录井的基本任务,是及时建立地层剖面、准确评价油气层性质、正确预测下部地层的前提,也是指导钻井生产正常运行的最基础的工作。然而,目前PDC钻头的使用、空气钻井等钻井工程工艺发展,使常规的录井方法难以准确识别岩性,水平井地质导向给录井的岩性识别和地层划分提出了更高的要求。X射线荧光分析技术,可对样品中的元素进行定性和定量分析。本文在鄂尔多斯盆地北部上古生界沉积特征分析基础上,确定了X射线荧光录井的元素组合,分析岩屑中的元素包括Mg、Al、Si、Ca、Fe、Mn、K、Cl、S、Ti、P、Ba等12种元素,这些元素占地壳物质总量的99.48%以上,因此具有代表性。这些元素基本反映了石油地层中主要矿物的指示元素。本文对鄂尔多斯盆地塔巴庙区块26口井,近20000个岩屑样品进行了X射线荧光分析,并对分析结果进行了深入研究,结果表明,元素含量变化与岩性变化具有很强的相关性。X射线荧光分析技术可作为录井岩性识......阅读全文
X射线荧光岩屑识别技术研究
在石油钻井施工中,准确获取岩性资料是录井的基本任务,是及时建立地层剖面、准确评价油气层性质、正确预测下部地层的前提,也是指导钻井生产正常运行的最基础的工作。然而,目前PDC钻头的使用、空气钻井等钻井工程工艺发展,使常规的录井方法难以准确识别岩性,水平井地质导向给录井的岩性识别和地层划分提出了更高的要
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
教你如何识别X射线荧光光谱仪缩略术语
X射线X射线(Xray)是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线。其特性通常用能量(keV)或波长(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射，其波长很短约介于0.001~2
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线能谱重叠峰的识别
提出了一种通过谱线权重来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法。应用该方法 ,成功地分析了Ti合金微区中能量差为 2 0eV的Ti和V的重叠峰。实验表明 ,该方法简便、可靠 ,并可适用于K Zn之间元素的分析
x射线衍射、x荧光、直读光谱区别
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基
矿物X衍射全岩分析在地质勘探中的应用
石油钻井过程中的岩屑录井无论对油气勘探还是钻井工程都是极为重要的关键技术，岩屑录井所获得的实物信息是目前任何其它地质方法都难于取代的，随着石油钻井新工艺技术的飞速发展，如PDC钻头的应用以及气体钻井、大位移井、水平井等，由井底返出的岩屑已经十分细碎，甚至成粉末状，使得岩屑录井对地层岩性难于识辨，层位
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
X射线荧光光谱仪X射线光管结构
常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成，并利用高压电缆与高压发生器相接，同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。 当电流流经X射线光管灯丝线圈时，引起阴极灯丝发热发光，并向四周发射电子
X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射线荧光分析技术介绍
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。 c) 根据各元素的特征X射线的强
X射线荧光分析法
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。 X- 射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。 X 射线是伦琴于 1895 年发现的一种电磁辐射，其波长为 0.01 ～ 10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞
简述－X－射线荧光分析技术
X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关部门提供了一种可行的、低成本的并且及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。相对于其他分析方法（例如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理，快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。 c) 根据各元素的特征X射线的强度，
X射线荧光分析技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X射线荧光的物理原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的
X射线荧光的物理原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差
产生x射线荧光的原理
处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线，称为荧光X射线，此种辐射又称为荧光辐射。当紫外光或波长较短的可见光照射到某些物质时，这些物质会发射出各种颜色和不同强度的可见光，而当光源停止照射时，这种光线随之消失。这种在激发光诱导
X射线荧光的物理原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
X射线荧光分析技术分类
X射线荧光分析技术可以分为两大类型：波长色散X射线荧光分析(WDXRF)和能量色散X射线荧光分析(EDXRF)；而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。目前，X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。c) 根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各
X射线荧光光谱原理
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。 X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能
X射线荧光的物理原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
简述荧光X射线测厚仪的功能
1、样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 2、计算机系统配置IBM计算机：1.6G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显
X射线荧光光谱的概念
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按