扫描探针显微镜（SPM）针尖
1、STM针尖：W丝、Pt-Ir丝。超高真空一般用W丝，通过电化学腐蚀、高温退火或原位处理以去除氧化层。大气中一般用Pt-Ir丝，直接剪切制成。2、AFM针尖：Si、SiN4材料，通过微加工光刻的方法制备。......阅读全文
SPM纳米加工技术
提示：扫描探针显微镜( scanning probe microscopes，SPM)，包括扫描隧道显微镜( STM)、原子力显微镜(AFM)、激光力显微镜(LFM)、磁力显微镜(MFM)等。SPM成为人类在纳米尺度上，观察、改造世界的一种新工具。STM是通过探测隧道电流来感知物体表面
轻敲模式原子力显微镜的优化
经过近二十多年的科学技术的发展，原子力显微镜（AFM）已从实验室走向 了市场，从单纯的AFM仪器发展出了系列扫描探针显微镜（SPM），并完善了 它的设计理论。本文就SPM的理论进行了深入的研究和分析，对SPM的基本结 构以及每个环节进行了详细的总结，并从SPM的理论出发，在以前的激光力显 微
HORIBA收购SPM制造商－首次实现拉曼与SPM真正耦合
具有50多年拉曼光谱仪制造经验的全球拉曼(Raman)技术领导者HORIBA Scientific今年年初宣布成功收购美国顶尖扫描探针显微镜(SPM)制造商AIST-NT。收购前，双方经历了长达四年的合作。这次收购意味着扫描探针显微镜与拉曼光谱技术实现真正意义的耦合，NanoRaman将会有完整
计量型原子力显微镜
第一台在纳米测量中,在中等测量范围内,具有微型光纤传导激光干涉三维测量系统、可自校准和进行绝对测量的计量型原子力显微镜。它的诞生,可使目前用于纳米技术研究的扫描隧道显微镜定量化,并将其所测量的纳米量值直接与米定义相衔接。使人们更加准确地了解纳米范围内的各种物理现象,并对它们进行更精确的分析
岛津在京发布高分辨原子力显微镜新品SPM8100FM
分析测试百科网讯 2017年8月28日，岛津“跨界拓新 见微知著” SPM-8100FM新品发布会在北京举行。 SPM-8100FM新品发布会现场 岛津企业管理（中国）有限公司分析测试仪器市场部事业部部长 曹磊 岛津企业管理（中国）有限公司分析测试仪器市场部事业部部长曹磊为发布会致辞。
布鲁克推出全新XR系列SPM－拓展纳米材料表征界限
分析测试百科网讯 近日，布鲁克宣布推出Dimension XR™系列扫描探针显微镜（SPM）。新系统主要是AFM系统方面创新，包括布鲁克独有的DataCube纳米电子模式，用于能源研究的AFM-SECM，以及全新的AFM-nDMA模式，该模式首次将聚合物纳米力学与体动力学机械分析（DMA）相关联
SPM的成像模式有些哪？
SPM是一类仪器的统称，最主要的SPM是STM和以AFM为代表的扫描力显微镜（Scanning Force Microscope，SFM）。SPM的两个关键部件是探针（Probe）和扫描管（Scanner），当探针和样品接近到一定程度时，如果有一个足够灵敏且随探针-样品距离单调变化的物理
SPM与SEM的图像比较
SPM(扫描探针显微镜)与SEM(扫描电子显微镜)相比，SEM历史更长且在各方面的发展已日渐成熟。而SPM正处在方兴未艾的发展之中，软件/硬件不断开发升级，应用技术也在不断开拓。更重要的是，SPM并非是在溯寻SEM的发展历史，而是朝着一个崭新的方向在发展。虽然从名称上看二者类似，但从本质来讲，“扫描
AFM盘点：应用及热点市场需求探讨
当下，中国原子力显微镜市场也不例外，随市场容量的不断增长，竞争日趋激烈。近日，第十七届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2017)在北京国家会议中心隆重开幕。若干AFM生产厂商悉数亮相展会，借此机会，仪器信息网编辑对AFM主流产品的技术特点、典型用户及典型应用案例、各厂商对AFM热点市场
相关探针和电子显微镜™（CPEM）的关联成像技术简介
LiteScope™是一种独特的扫描探针显微镜（SPM）。 它设计用于轻松集成到各种扫描电子显微镜（SEM）中。 组合互补的SPM和SEM技术使其能够利用两者的优势。使用LiteScope™及其可更换探针系列，可以轻松进行复杂的样品分析，包括表面形貌，机械性能，电性能，化学成分，磁性能等的表征。相关
原子力显微镜是不是扫描探针显微镜
原子力显微镜（AFM）是扫描探针显微镜（SPM）的一种。SPM也包括STM等。可参看《分子手术与纳米诊疗：纳米生物学及其应用》。
AFM纳米材料与粉体材料的分析
纳米材料与粉体材料的分析在材料科学中，无论无机材料或有机材料，在研究中都有要研究文献，材料是晶态还是非晶态。分子或原子的存在状态中间化物及各种相的变化，以便找出结构与性质之间的规律。在这些研究中AFM 可以使研究者，从分子或原子水平直接观察晶体或非晶体的形貌、缺陷、空位能、聚集能及各种力的相互作用
一种新型的扫描探针显微镜SPM和扫描电子显微镜SEM简介
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'} p.p2 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px
扫描探针显微镜（SPM）针尖
1、STM针尖：W丝、Pt-Ir丝。超高真空一般用W丝，通过电化学腐蚀、高温退火或原位处理以去除氧化层。大气中一般用Pt-Ir丝，直接剪切制成。2、AFM针尖：Si、SiN4材料，通过微加工光刻的方法制备。
扫描探针显微镜（SPM）结构
1、探针：STM金属探针，AFM微悬臂、光电二极臂2、机械控制系统：压电扫描器、粗调定位装置、振动隔离系统3、电子学控制系统：电子学线路、接口，控制软件
扫描探针显微镜（SPM）特点
1.扫描隧道显徽镜（STM）和原子力显微镜同其他显微镜相比具有分辨率高、工作环境要求低、待测样品要求低、不需要重金属投影等优点，所以它们观察到的图像更能直接反映样品的原有特点。 2.借助于快速的计算机图像采集系统时，STM和AFM还可以用来观察细胞，亚细胞水平甚至是分子水平上的快速动态变化过程
原子力显微镜在材料科学研究中的应用
AFM 是利用样品表面与探针之间力的相互作用这一物理现象，因此不受STM 等要求样品表面能够导电的限制，可对导体进行探测，对于不具有导电性的组织、生物材料和有机材料等绝缘体，AFM 同样可得到高分辨率的表面形貌图像，从而使它更具有适应性，更具有广阔的应用空间。AFM 可以在真空、超高真
布鲁克探针是一项创新性的产品设计，其功能强大
布鲁克探针是一项创新性的产品设计，其功能强大 作为全球*一家能够提供*AFM/SPM仪器和*AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套高性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在广泛的应
岛津SPM8100FM型高分辨原子力显微镜
岛津SPM-8100FM型高分辨原子力显微镜 产品技术特点——中国AFM市场目前正在走向成熟，成熟市场源于用户的成熟，按应用需求采购，追求性价比，看中售后服务将是今后AFM市场的指向标。各厂商都会针对应用开发相应的软件和硬件。对于岛津而言，紧紧抓住超高分辨和原位测试两个技术基点。 高分辨一直都是
拿到AFM数据后，如何处理
现今市面上不同商家多种型号AFM设备并存，然而各自支持数据格式却不尽统一，这对AFM用户进行后期数据分析处理难免造成一些困扰。在此，谨整理一些不同的AFM数据后期处理方法，以方便有需求者。（需要说明的是，在此列举的实例虽然受限于相关设备软件，但其想法可推广于其他AFM设备甚至其他扫描类显微镜如SPM
扫描探针显微镜（SPM）的特点
1、局域探针：探测样品的局域特性、表面形貌、电子结构、电场、磁场等其他局域特性、2、高分辨率：STM x、y 0.1nm，Z 0.01nm3、可在不同环境下成像：大气、超高真空、溶液、低温、高温4、对样品无损伤、无干扰5、实时、动态过程的研究：吸附、脱附、结构相变、化学反应6、谱学特性测量：扫描隧道
原子力显微镜在生命科学与材料研究中的重要价值
原子力显微镜以其操作方便，对样品处理要求不高，原子级分率低，样本可在空气中成者液体中直接观察，可检测的样品范围广等优点，赢得了越越广阔的应用，利用AFM可以观察生物制品的形态结构、检测生物力、观察品体的三结构及插体的生长等，这势必会进一步推动生命科学，材料科学的一步发展。 一、生命科学中的
扫描探针显微镜（SPM）结构及特点
扫描探针显微镜（SPM）结构1、探针：STM金属探针，AFM微悬臂、光电二极臂。2、机械控制系统：压电扫描器、粗调定位装置、振动隔离系统。3、电子学控制系统：电子学线路、接口，控制软件。扫描探针显微镜（SPM）特点1、局域探针：探测样品的局域特性、表面形貌、电子结构、电场、磁场等其他局域特性、2、高
AFM曲线测量
曲线测量SFM除了形貌测量之外，还能测量力对探针-Zt（Zs）。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近，然后离开样品表面时，微悬臂和样品间产生了相对移动。而在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面，然后脱离，此时原子力显微镜/AFM测量并记录了探
AFM应用实例
应用实例1．应用于纸张质量检验。 2．应用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．评定材料纳米尺度表面形貌特征陶瓷膜表面形貌的三维图象
AFM应用实例
应用实例 1．应用于纸张质量检验。 2．应用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．评定材料纳米尺度表面形貌特征 原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而
AFM位置检测
位置检测部分主要是由激光和激光检测系统组成。而反馈系统中主要包含一系列的压电陶瓷管。压电陶瓷是一种性能奇特的材料，当在压电陶瓷对称的两个端面加上电压时，压电陶瓷会按特定的方向伸长或缩短。而伸长或缩短的尺寸与所加的电压的大小成线性关系。即可以通过改变电压来控制压电陶瓷的微小伸缩。通常把三个分别代表X，
什么是AFM
明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微
快速AFM－技术
快速AFM 技术通常的AFM扫描速度较慢，不能满足许多动态现象的研究需求，快速AFM 技术(high speed AFM，HS-AFM)的核心限制因素是微悬臂探针的自然带宽，其在真空、大气及液体环境下分别是几赫兹，几千赫兹和几万赫兹。因此，在液体环境下更容易实现HS-AFM，但还需要具有高带宽(兆赫
什么是AFM
明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微