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TEM块状样品制备

块状样品制备电解减薄方法用于金属和合金试样的制备。(1)块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片;(2)用金刚砂纸机械研磨到约120~150μm厚;(3)抛光研磨到约100μm厚;(4)冲成Ф3mm 的圆片;(5)选择合适的电解液和双喷电解仪的工作条件,将Ф3mm 的圆片中心减薄出小孔;(6)迅速取出减薄试样放入无水乙醇中漂洗干净。注意事项:(1)电解减薄所用的电解液有很强的腐蚀性,需要注意人员安全,及对设备的清洗;(2)电解减薄完的试样需要轻取、轻拿、轻放和轻装,否则容易破碎,导致前功尽弃;......阅读全文

聚焦离子束系统知多少?

纳米科技是当今国际上的一个热点。纳米测量学在纳米科技中起着信息采集和分析的不可替代的重要作用,纳米加工是纳米尺度制造业的核心,发展纳米测量学和纳米加工的一个重要方法就是电子束,离子束技术。近年来发展起来的聚焦离子束纳米加工系统用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工,结合扫描电子显微镜实时观察,开辟了从

追随诺贝尔足迹——2017年北京市电子显微学年会在京召开

  2017年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开。  分析测试百科网讯2017年12月19日,2017年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开,本次会议年会由北京市电镜学会、北京理化分析测试技术学会主办,旨在推动北京及周边地区广大电子显微学的学术及技术水平,促进电子显微学工作者在材料科学,生命科

新技术,真应用——第10次华北五省电镜研讨会的饕餮盛宴

  分析测试百科网讯 2018年7月22日,第十次华北五省市电子显微学研讨会及2018年全国实验室协作服务交流会在山东省烟台市举行。本次会议由华北五省电子显微镜学会主办,北京理化分析测试技术学会协办。此次会议旨在推动华北五省市电子显微分析技术的发展,促进电子显微分析工作者的学术交流,加强实验室资源共

连续断层3D重构中的超薄切片制备

当需要以纳米级分辨率观察样品超微结构时,科学家通常借助电子显微镜(观察表面结构的扫描电镜 SEM 和观察内部结构的透射电镜 TEM)——它们是当前科研界可使用的最大显微成像工具。电镜成像要求对样品进行通常 20-150 nm的超薄切片,使用超薄切片机切割的切片厚度薄、表面平整、光滑且无人为干

从样品制备到实际操作,手把手教你拍出高质量TEM照片

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)具有很高的分辨率和放大倍数高,广泛应用于材料科学、地球科学、医学和生命科学等领域。透射电子显微镜结合不同的附件(X射线能谱分析(EDS)、电子能量损失谱(EELS)),可以同时提供形貌、成分、结构信息,它可以揭

材料科学公共平台工作流程的主要改进

分析、断层扫描、样品制备和数据完整性得到提升图片由 Bruce W. Arey 和 Andrew R. Felmy提供  德国耶拿,2019年7月24日,蔡司推出了新功能,在分析、断层扫描、样品制备和数据整合方面均得到了提升。这为工程材料、能源材料、软材料和地球科学的研究带来了新的可能性,顺应了增材

创新先锋 | 蔡司开启离子显微镜新篇章

材料科学公共平台工作流程的主要改进分析、断层扫描、样品制备和数据完整性得到提升图片由 Bruce W. Arey 和 Andrew R. Felmy提供  德国耶拿,2019年7月24日  蔡司推出了新功能,在分析、断层扫描、样品制备和数据整合方面均得到了提升。这为工程材料、能源材料、软材料和地球科

聚焦离子束显微镜FIB都有哪些功能?

聚焦离子束显微镜FIB主要用途: 芯片的电路修补、断面切割、透射电镜样品制备。聚焦离子束显微镜FIB应用范围: 1.定点切割 2.穿透式电子显微镜试片 3.IC线路修补和布局验证 4.制程上异常观察分析 5.晶相特性观察分析 6.故障位置定位用被动电压反差分析。在各类应用中,以线路修补和布局验证这一

第9次华北五省市电镜会在呼伦贝尔召开 新技术层出不穷

  分析测试百科网讯 2016年7月23日,由华北五省电子显微镜学会和北京理化分析测试技术学会组织的“第九次华北五省市电子显微学研讨会及2016年全国实验室协作服务交流会”在内蒙古呼伦贝尔市召开。会议囊括了透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜、激光共聚焦显微镜等在材料、生命科学、

2013年度北京电子显微学年会大会报告(一)

  2013年12月24日, 2013年度北京市电子显微学年会在北京天文馆隆重召开,会上,来自中科院、北京大学、北京工业大学、北京建筑大学、钢铁研究总院等多位专家学者带来了关于电镜在教学科研、纳米材料、生物医药、探伤等方面应用的精彩报告,科扬、FEI、蔡司、布鲁克、牛津

经典材料分析七种方法:成分,光谱,质谱 ,能谱

  材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段,也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析,从认识材料的分析仪器着手。  成分分析简介  成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析,通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么,帮助您对样品进行定性定量

盘点2014年度十大改变世界的革命性技术

  基因编辑更快更准更简单  1973年,斯坦利•N•科恩(Stanley N. Cohen)和赫伯特•W•博耶(Herbert W. Boyer)找到了改变生物体基因组的方法,成功将蛙的DNA插入到细菌中。20世纪70年代末,博耶的基因泰克(Genetech)公司对大肠杆菌进行基因改造,使其带有一

常用材料测试方法总结

成分分析:  成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同,又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。  体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析,其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方

2449.8万!这所高校发布采购建设分析测试中心平台

  分析测试百科网讯 近日,海南省教学仪器设备招标中心受招标人海南大学委托,采购场发射透射电子显微镜、基质辅助激光解析电离串联飞行时间质谱仪、纳米喷雾干燥仪、石英晶体微天平、多功能样品前处理平台、热重-红外图像-气质联用原位反应系统、显微傅里叶变换红外光谱仪+光声光谱检测器、差示扫描量热

2016北京市电子显微学年会召开 探讨电镜技术应用新进展

  分析测试百科网讯 2016年12月20日,2016年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开,会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学学术及技术水平,促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来自电子显微学领域相关单位的200余人参加了此次会议。2016年度北京市电子显微学

2011年度北京市电子显微学年会在国家图书馆成功举行

  报告题目:蔡司GEMINI技术(非交叉束)——聚焦离子束(FIB)   报告人:蔡司公司显微镜部门唐圣明教授 蔡司公司显微镜部门 唐圣明 教授   蔡司公司是德国第二大基金会之一,具有悠久的历史。蔡司电镜(中国)自2008年进入大陆直接销售,4年来,蔡司用户有了迅速的发展,目前,市

组织学研究方法

(一)一般光学显微镜术应用一般光学显微镜(简称光镜)观察组织切片是组织学研究的最基本方法。取动物或人体的新鲜组织块,先用固定剂(fixative)固定(fixation),使组织中的蛋白质迅速凝固,防止细胞自溶和组织腐败。常用的固定剂如洒精、甲醛、醋酸、苦味酸、四氧化锇等,一般常将几种固定剂配制成混

超全面锂电材料常用表征技术及经典应用

  在锂离子电池发展的过程当中,我们希望获得大量有用的信息来帮助我们对材料和器件进行数据分析,以得知其各方面的性能。目前,锂离子电池材料和器件常用到的研究方法主要有表征方法和电化学测量。  电化学测试主要分为三个部分:(1)充放电测试,主要看电池充放电性能和倍率等;(2)循环伏安,主要是看电池的充放

徕卡显微镜:电子显微镜涂层技术

   涂层的样品需要在该领域的电子显微镜,以启用或提高成像的样品。创建的导电层上的金属样品抑制充电,减少热损伤,提高了所需的地形检查在SEM的二次电子信号。微细碳层,即透明的电子束,但导电性,所需的X-射线微量分析,支持网格上的薄膜的TEM成像备份副本。分辨率和应用程序依赖于所使用的涂层技

材料检测表征方法之扫描电镜

在材料领域中,扫描电镜技术发挥着极其重要的作用,利用扫描电镜可以直接研究晶体缺陷及其产生过程,可以观察金属材料内部原子的集结方式和它们的真实边界,也可以观察在不同条件下边界移动的方式,还可以检查晶体在表面机械加工中引起的损伤和辐射损伤等。扫描电镜的结构及主要性能 扫描电镜可粗略分为镜体和电源电路

原子力显微镜使用分析

实验概要了解原子力显微镜的基本结构和原理。掌握原子力显微镜对固体和粉末样品的要求及制作方法。掌握原子力显微镜使用方法。实验原理原子力显微镜的优点是:有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单。1. 仪器结

原子力显微镜使用分析

实验概要了解原子力显微镜的基本结构和原理。掌握原子力显微镜对固体和粉末样品的要求及制作方法。掌握原子力显微镜使用方法。实验原理原子力显微镜的优点是:有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单。1. 仪器结

2010年北京电镜年会隆重召开

       2011年1月17日,由北京理化分析测试技术学会和北京电镜学会主办的2010年北京电镜年会在北京天文馆4D科普剧场隆重召开。本次年会以推动北京及周边省市广大电子显微学

纳米粒子聚集体的特征分析

纳米粒子在水溶液中常呈现为缔合形态,对这类集合体的特征分析挑战重重。借助于现代显微镜技术,结合分散方法,可成功解析最复杂的纳米集合形态。 现在,材料研究和药物研究已能成功应用到具有复杂纳米结构的多组分体系,源自金属、氧化物、半导体和有机材料的纳米微粒的应用日益广泛。纳米微粒可作为催化剂、电

聚焦离子束(FIB)直写技术研究

现代半导体制造业迅速发展,对产品的质量要求越来越高,对相关的微分析技术的要求也越来越高。除了IC 制造以外,纳米结构在新元件上应用越来越多,特别是纳米光子和纳米光学。聚焦离子束(Focused Ion Beam,FIB)系统是在常规离子束和聚焦电子束系统研究的基础上发展起来的,除具有扫描电子显微镜具

探秘纳米聚集体

纳米粒子在水溶液中常呈现为缔合形态,对这类聚集体的特征分析是一项充满挑战的任务。借助于现代显微镜与分散方法的结合,可成功解析最复杂的聚集形态。 如今,材料和药物研究已经成功地应用到具有复杂纳米结构的多组分体系中。金属、氧化物、半导体和有机材料中的纳米微粒也得到了日益广泛的应用,如催化剂、电

中科院海洋研究所594万采购Cryo-SEM冷冻型场发射扫描电镜

  分析测试百科网讯 近日,中国科学院海洋研究所深海资源保藏与开发平台之冷冻型场发射扫描电镜采购项目(项目编号:OITC-G190311595)进行公开招标,用于各种样本表面的微观形貌的高分辨观察,在真空及低温条件下实现生物、材料等含水样品的冷冻制备(冷冻断裂、升华刻蚀、溅射镀膜)、样品传输和电镜低

超实用!XRD样品制备及仪器基本操作

  俗话说:“磨刀不误砍柴工”了解XRD样本的要求、制备过程并细心的制作XRD样品,可以起到事半功倍的效果,而不是本末倒置,急于得到衍射图谱而粗心准备样品,这样往往引起实验数据误差,从而给结果分析带来困难,浪费大量的分析时间。  1. XRD运用对象  X射线衍射仪技术可以获得材料的晶体结构、结晶状

扫描电镜及能谱在机械零部件中的应用

扫描电镜及相应附件已成为机械零部件研究和生产过程中发现问题的有利手段。随着扫描电镜分辨率及自动化程度的提高以及附件装置的增多。在SEM下可完成越来越多的材料分析表征工作。因此,充分利用扫描电镜的优势将为汽车、机械装备的大发展、大创新做出巨大的贡献。1、扫描电子显微镜和能谱仪的原理扫描电镜是由电子枪发

见证中国电子显微学新时代 记2019电子显微学学术年会

  分析测试百科网讯 2019年10月16日,2019年全国电子显微学学术年会在合肥隆重举行。本届年会主题是“中国电子显微学快速发展的新时代”,共开设了10个精彩分论坛,为中国电镜人带来一场学术盛宴。本次会议共有近1300余人出席、参与。分析测试百科网与中国电子显微镜学会共同为您带来年会精彩报导。北