拉曼光谱法和X射线荧光光谱法检验香烟水松纸的研究
随着经济的发展,香烟品牌越来越多,我国烟民数量也呈上升趋势,因此在现场提取到烟蒂物证的几率也较大。通过对香烟水松纸的检验可推断香烟品牌,缩小侦查范围,但目前尚未形成系统的检验方法,这就为公安检验鉴定部门提出了新的研究课题。本文利用显微共焦激光拉曼光谱法和X射线荧光光谱法对香烟水松纸进行了检验,取得以下研究成果:1.建立了拉曼光谱检验香烟水松纸的分析方法,优化了实验条件:激光光源为785nm;光栅为1200 l/mm,针孔聚焦能量为0%,采集时间为20s,采集次数为10次,采集方式为点扫描,光谱采集范围为100-2000cm-1。2.对样品拉曼光谱图进行分析,通过与样品常用的填料、着色剂标准品的拉曼光谱图比对,表征样品印刷面所含填料、着色剂种类,依据填料、着色剂种类与配比的不同对样品进行分类,考察香烟品牌与填料、着色剂的种类和配比的相关性。3.将拉曼光谱图转换为多维矢量(excel数据),运用SPSS统计分析软件,考察原始拉曼......阅读全文
拉曼光谱法和X射线荧光光谱法检验香烟水松纸的研究
随着经济的发展,香烟品牌越来越多,我国烟民数量也呈上升趋势,因此在现场提取到烟蒂物证的几率也较大。通过对香烟水松纸的检验可推断香烟品牌,缩小侦查范围,但目前尚未形成系统的检验方法,这就为公安检验鉴定部门提出了新的研究课题。本文利用显微共焦激光拉曼光谱法和X射线荧光光谱法对香烟水松纸进行了检验,取得以
X荧光光谱与拉曼光谱“合作”－鉴定古陶瓷年代
日前，香港皇廷2016秋季中国艺术品拍卖会在厦门开始了其全国巡展首站，展出了19件历朝陶瓷精品。这些拍品采用了“科技+人文”鉴宝的新模式，也是目前唯一附有国际标准化组织ISO认证机构检测报告的古陶瓷拍品。 据介绍，仪器检测是将瓷器放进真空环境的X荧光光谱仪后，再经过拉曼光谱仪检测釉面成分。随后
X射线荧光光谱和荧光光谱－区别
一、理论上。荧光光谱是比较宽的概念，包括了X射线荧光光谱。二、从仪器分析上，荧光光谱分析可以分为：X射线荧光光谱分析、原子荧光光谱分析，1）X射线荧光光谱分析——发射源是Rh靶X光管2）原子荧光光谱分析——可用连续光源或锐线光源。常用的连续光源是氙弧灯，常用的锐线光源是高强度空心阴极灯、无极放电灯、
X射线荧光光谱原理
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。 X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能
物质的拉曼光谱和荧光光谱
做生物样品的拉曼光谱，在获得的图里面有很强的荧光，有的说，如果拉曼得不到就用其荧光谱。那么在拉曼谱里面得到的荧光背景，是真正的荧光特征谱吗？这和荧光光谱仪里面的荧光图有什么区别？ 1. 原则上说，拉曼谱中的荧光和荧光谱中的荧光是一样的，只要激发波长和功率密度相同。注意横坐标要从波数变换为纳米，即用1
拉曼光谱与荧光光谱的区别
简单来说,拉曼就是光散射后发生的频率改变;荧光则是分子吸收能量再由于碰撞释放能量产生的。荧光光谱:当物质分子吸收了特征频率的光子,就由原来的基态能级跃迁至电子激发态的各个不同振动能级.激发态分子经与周围分子撞击而消耗了部分能量,迅速下降至第一电子激发态的最低振动能级,并停留约10-9秒之后,直接以光
拉曼光谱与荧光光谱的区别
简单来说,拉曼就是光散射后发生的频率改变;荧光则是分子吸收能量再由于碰撞释放能量产生的。荧光光谱:当物质分子吸收了特征频率的光子,就由原来的基态能级跃迁至电子激发态的各个不同振动能级.激发态分子经与周围分子撞击而消耗了部分能量,迅速下降至第一电子激发态的最低振动能级,并停留约10-9秒之后,直接以光
x射线衍射、x荧光、直读光谱区别
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基
拉曼光谱和荧光光谱的主要差异
荧光光谱：在辐射能激发出的荧光辐射强度进行定量分析的发射光谱分析方法。物体经过较短波长的光照，把能量储存起来，然后缓慢放出较长波长的光，放出的这种光就叫荧光。如果把荧光的能量--波长关系图作出来，那么这个关系图就是荧光光谱。拉曼光谱：光照射到物质上发生弹性散射和非弹性散射. 弹性散射的散射光是与激发
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
X射线荧光光谱的概念
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
X－射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。图
什么是X射线荧光光谱
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
拉曼光谱
1、单道检测的拉曼光谱分析技术。2、以CCD为代表的多通道探测器的拉曼光谱分析技术。3、采用傅立叶变换技术的FT-Raman光谱分析技术。4、共振拉曼光谱分析技术。5、表面增强拉曼效应分析技术。
拉曼光谱
一、拉曼光谱的基本原理用单色光照射透明样品时，光的绝大部分沿着入射光的方向透过，一部分被吸收，还有一部分被散射。用光谱仪测定散射光的光谱，发现有两种不同的散射现象，一种叫瑞利散射，另一种叫拉曼散射。1.瑞利散射散射是光子与物质分子相互碰撞的结果。如果光子与样品分子发生弹性碰撞，即光子与分子之间没有能
拉曼光谱
一、拉曼光谱的基本原理用单色光照射透明样品时，光的绝大部分沿着入射光的方向透过，一部分被吸收，还有一部分被散射。用光谱仪测定散射光的光谱，发现有两种不同的散射现象，一种叫瑞利散射，另一种叫拉曼散射。1.瑞利散射散射是光子与物质分子相互碰撞的结果。如果光子与样品分子发生弹性碰撞，即光子与分子之间没有能
X射线光谱
1914年，英国物理学家莫塞莱（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射线光谱仪研究不同元素的X射线，取得了重大成果。莫塞莱发现，以不同元素作为产生X射线的靶时，所产生的特征X射线的波长不同。他把各种元素按所产生的特征X射线的波长排列后，发现其次序与元素周期表中的次序一致，他称这
X荧光和拉曼光谱成为古陶瓷鉴定新手段
古陶瓷鉴定不再凭经验，而是靠科学技术手段。7月1日，皇朝遗珍古陶瓷实验室在深圳举行夏季科学鉴定和古陶瓷巡展，来自两岸三地的30多件宋元明清瓷器悉数亮相，一批古陶瓷接受科学鉴定。 中国地缘辽阔，历史悠久，有很多古陶瓷珍品在民间被广泛收藏，但古陶瓷市场鱼龙混杂，不乏众多高仿赝品，让无数古陶瓷爱好
X射线荧光光谱仪荧光光谱的相关介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的 半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受
X射线荧光光谱仪X射线光管结构
常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成，并利用高压电缆与高压发生器相接，同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。 当电流流经X射线光管灯丝线圈时，引起阴极灯丝发热发光，并向四周发射电子
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
拉曼光谱仪fProbe－荧光探头
fProbe 荧光探头 超过 OD4 的激光抑制 / 集成设计、操作方便 荧光探头
X射线荧光光谱仪简介
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
X射线荧光光谱仪结构
该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产