YAG激光照射牙周病牙根面电镜及X射线能谱分析
通过对不同时间脉冲型Nd:YAG激光照射牙周病牙根表面超微结构及牙骨质层主要无机物钙(Ca)、磷(P)含量进行分析,初步探讨临床最佳激光照射时间。方法:临床选择重度牙周病病例,待拔除单根牙共25颗,25个根面,随机分为5组,对照组、激光1组、2组、3组、4组,每组5颗患牙5个根面,另选5颗离体健康阻生牙为健康组。对照组在拔牙前无激光照射,余激光组用脉冲型Nd:YAG激光分别在牙周袋内持续照射15s、30s、60s、90s后,局麻下拔除患牙,处理样品,扫描电子显微镜观察牙根面超微结构,X射线能谱仪对根面牙骨质层Ca、P含量分析,分别计算Ca/P比值,统计学处理。结果:用脉冲型Nd:YAG激光,波长532nm,0.8W输出功率,15～30s为最佳照射时间,即杀菌、玷污层被汽化,又无根面过度损伤;X射线能谱分析激光照射15～30s组,根面牙骨质层Ca/P比值分别与对照组相比,经统计学处理无统计学差异;随激光照射时间延长患牙根面出现熔融......阅读全文
基于MARS系统的X射线能谱CT研究
X射线是19世纪末物理学的三大发现（X射线1895年、放射性1896年、电子1897年）之一，这一发现标志着现代物理学的诞生。由于X射线是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射，因而它具有很高的穿透本领，能穿透许多对可见光不透明的物质，基于此，可用来帮助人们进行医学诊断和治疗，或者用于工业等领域的非破
多层镜软X射线能谱仪的研制
软X射线能谱测量是ICF实验中的重要内容,测量意义重大。软X射线能诊断通过光谱分析,可以得到X射线总的通量,辐射温度,转换效率以及反照率。这些都是间接驱动黑腔热力学的重要参数。作为黑体腔特征诊断系统,软X射线能诊断系统测量黑体腔中发射出的X射线,可得出黑腔中辐射温度的时间变化图。针对目前常用的谱仪往
X射线能谱仪和波谱仪的优缺点
能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪，其关键部件是Si(Li)检测器，即锂漂移硅固态检测器，它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。Si(Li)能谱仪的优点 分析速度快 能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号，故可在几分钟内分析和
X射线能谱仪的工作原理和应用
1 X射线能谱仪的工作原理 当电子枪发射的高能电子束进入样品后，与样品原子相互作用，原子内壳层电子被电离后，由较外层电子向内壳层跃迁产生具有特定能量的电磁辐射光子，即特征X射线。X射线能谱仪就是通过探测样品产生的特征X射线能量来确定其相对应的元素，并对其进行相应的定性、定量分析。 2 扫描电
美国KEVEX公司8000型x射线能谱仪
8000型X射线能谱仪主要做能量分散X射线分析,可用于冶金、电子、地球化学勘探、化工、石油、生物医学等许多领域。仪器由X射线探测器,分析仪,小型计算机、大容量存贮器,显示器,键盘和软件构成。
6MV－X－射线能谱的实验测定
用穿透系数数值分析的叠代最小二乘法对稳态加速器的Ｘ射线能谱进行了实验测定，编写了叠代最小二乘法的计算程序。
X射线能谱仪和波谱仪的优缺点
能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪，其关键部件是Si(Li)检测器，即锂漂移硅固态检测器，它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。 Si(Li)能谱仪的优点 分析速度快 能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号，故可在几分
Z箍缩软X射线连续能谱测量
诊断Z箍缩等离子体不同时刻的空间分布及状态是认识等离子体运动规律进而控制其箍缩过程以便加以利用的必经环节。在箍缩过程中,离子、电子和光子发生强烈的相互作用,探测出射的X光可不破坏等离子体原有状态而获取三者运动信息。通过测量X光能谱可以探知辐射场温度、离子密度、辐射冲击过程等等。受现有装置驱动能力的限
电子探针分析的X射线能谱法
本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学
X射线能谱仪的使用原理及应用
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线能谱仪的简介 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法是在
12MVX射线能谱的实验测定
对于流体物理研究所的12MV脉冲X射线装置,其光子能谱是一个重要的物理参量。当用12MV脉冲射线作为相关实验研究的辐射源时,得到的实验结果的物理解释也需要足够的谱的数据。但由于高能高注量轫致辐射的光子谱难以用通常的在线式γ谱仪测量,所以用透射系数数值分析的方法对12MV-X射线谱作了初步的实验测定。
快脉冲硬X射线能谱测量实验研究
研究设计了以解析吸收片后的透射率来测量快脉冲硬X射线辐射场能谱的实验方法。对实验方案进行了理论模拟设计,并获得了解谱必要的理论数据,通过测量不同吸收片后光强的实验方法获得了透射系数,用微扰的数学方法完成了测量谱的解析,复现了测量位置处快脉冲硬X射线辐射场能谱,最后对该方法的可靠性进行了验证。
X射线能谱测量的蒙特卡罗成像模拟
针对高能强流电子束轰击高Z靶产生的X射线的能谱测量问题,采用蒙特卡罗方法进行成像模拟研究。高能X射线能谱通常由对X射线经过衰减体的直穿透射率曲线进行解谱获得。设计了带多准直孔的截锥体模型,在单次模拟成像中获得完整的衰减透射率曲线,有效避免了散射光子对透射率曲线以及X射线能谱重建的影响。成像面采用非均
X射线能谱分析中谱线重叠问题
扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较
X射线能谱法与X射线光谱法最小浓度检测极限的对比
自从1968年Fitzgerald等人把x射线能谱法[EDX]引用于电子光学仪器以来,不少专家就着手评价这两种系统的优劣了。Servant等人在普通扫描电镜[SEM]上加装束流调节器和防污染装置,用能谱仪[EDX]对浓度大于2(wt)%的二元合金。
用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱
利用最新研制的小型化透射光栅谱仪在"神光Ⅲ"原型实验装置上测量了激光注入金腔靶时激光注入口的X射线能谱,首次实现了在上极点附近对柱腔注入口辐射的测量,且实现对X射线的二维空间分辨和谱分辨的测量。改进后的透射光栅谱仪成像系统首次使用一种错位排布的狭缝阵列结构来解决因谱仪尺寸减小带来的能谱分辨问题,并同
用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱
在星光激光装置上利用波长为 0 3 5 μm的激光辐照金箔靶 ,在金箔靶背侧用透射光栅配X射线chargecoupleddevice系统测量了其发射的软X射线能谱 ,并与用亚千能谱仪测量的结果进行了比较 ,获得了比较一致的结果 .测量结果表明 ,0 17μm厚度的金箔靶背侧的X射线能谱偏离平衡辐射谱
HPGe测量连续硬X射线能谱的解谱方法研究
结合数值模拟得到的单能光子在HPGe探测器上能量响应函数,用改进的剥谱法对测量得到的连续硬X射线能谱进行解谱。扣除测量谱中康普顿、反散射等效应产生的计数对测量能谱的影响,得到了仅反映探测器对光电效应的能量响应的能谱。最后,通过效率修正,完成了测量谱到实际能谱的还原,为连续硬X射线能谱解析提供了可靠方
NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究
为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能
用X射线能谱研究金基六元合金
利用Ｘ射线能谱（ＥＤＳ）和透射电子显微术（ＴＥＭ）等手段研究了Ａｕ－Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｒ－Ｉｎ－Ｚｒ合金的显微组织。研究结果表明，合金主要由Ａｕ基固溶体和Ｎｉ基固溶体组成。此外还有两种第二相粒子，一种粒子（命名为η相）含Ｃｒ量为９０ａｔ％，属简单正交结构，ａ＝０．４４８ｎｍ，ｂ＝１．４０ｎｍ，ｃ＝１．２
高能X射线能谱测量中衰减材料特性影响
基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量,采用蒙特卡罗成像模拟的方法研究衰减材料选择对能谱准确稳定重建的影响。设计多孔准直模型模拟X射线穿过不同衰减材料的透射过程,并在单次成像中获得完整的衰减透射率曲线。由衰减透射率求解能谱是一种病态条件问题,采用改进的迭代扰动法进行解谱,计算时考虑透射率计算值与真实值
X射线能谱仪分析的基本原理
X射线能谱仪为扫描电镜附件，其原理为电子枪发射的高能电子由电子光学系统中的两级电磁透镜聚焦成很细的电子束来激发样品室中的样品，从而产生背散射电子、二次电子、俄歇电子、吸收电子、透射电子、X射线和阴极荧光等多种信息。若X射线光子由Si（Li）探测器接收后给出电脉冲讯号，由于X射线光子能量不同（对某一元
X射线光电子能谱仪和样品制备
XPS仪由X射线激发源、样品台、电子能量分析器、检测器系统、超高真空系统等部分组成。X射线源：在目前的商品仪器中，一般采用Al/Mg双阳极X射线源。常用的激发源有Mg Ka X射线，光子能量为1253.6 eV和Al Ka X射线，光子能量为1486.6 eV。电子能量分析器：电子能量分析器是XPS
腔靶软X射线能谱结构的实验研究
叙述了利用双狭缝透射光栅谱仪,在高功率激光物理联合实验室神光装置上,对腔靶不同位置的能谱进行诊断,给出了腔靶源区能谱的空间分布和爆区的能谱结构,为腔靶辐射场的研究提供了重要信息。
HPGe测量连续硬X射线能谱的方法研究
采用数值模拟与实验测量相结合的方法,完成了探测系统刻度,得到了该探测器对单能光子的能量全响应函数,在此基础上探索出改进的剥谱法,对测量得到的连续硬X射线能谱进行解析,扣除了测量谱中非光电效应对每道计数的贡献,复现了测量位置处的实际能谱,并对该能谱测量方法进行了误差分析,提出了进一步完善措施。
用X射线能谱同时测定薄膜成分及厚度
本文提出一个直接利用薄膜和衬底的X射线能谱来同时测定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜发出的各元素的标识X射线强度比确定其成分,利用NaCl衬底的Nak_α和Clk_α标识X射线的强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚,本方法不需要纯元素的块状标样,对在NaCl衬底上沉积的Cu-Si合金薄膜的成分和
利用深度剂量数据重建放射治疗X射线能谱
利用深度剂量测量数据重建放射治疗X射线能谱,并对重建方法进行评价。先用Monte-Carlo模拟计算60个单能光子束的深度剂量分布作为基函数,然后使用Cimmino迭代法对测量的深度剂量进行线性拟合,得到相应射野每个单能光子束对测量深度剂量的贡献权重,即放射治疗所用的轫致辐射X射线的相对能谱。考虑机
脉冲硬X射线能谱软化方法数值分析
基于轫致辐射原理,提出了通过轫致辐射靶优化设计软化脉冲硬X射线能谱的方法。采用MCNP程序模拟了复合薄靶和反射靶的输出参数,分析了复合薄靶中转化靶和电子吸收材料厚度对脉冲硬X射线能谱、转换效率以及透射电子份额的影响;给出了反射靶透射和反射X射线能谱、转换效率的差异及其随电子入射角度的变化规律。根据模
X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合
X射线能谱数据采集卡的PCI改造
本文利用PCI接口芯片PCI9052,结合CPLD技术,成功地将基于ISA总线的X射线能谱数据采集卡改造为PCI总线模式,并详细介绍了PCI接口芯片PCI9052的硬件连接、译码和配置方法,以及应用DriverWorks进行WDM驱动程序开发的过程。