脉冲硬X射线能谱软化方法数值分析
基于轫致辐射原理,提出了通过轫致辐射靶优化设计软化脉冲硬X射线能谱的方法。采用MCNP程序模拟了复合薄靶和反射靶的输出参数,分析了复合薄靶中转化靶和电子吸收材料厚度对脉冲硬X射线能谱、转换效率以及透射电子份额的影响;给出了反射靶透射和反射X射线能谱、转换效率的差异及其随电子入射角度的变化规律。根据模拟结果分析了两种方法的可行性,并进行了实验验证,为轫致辐射靶的优化设计提供参考。......阅读全文
快脉冲硬X射线能谱测量实验研究
研究设计了以解析吸收片后的透射率来测量快脉冲硬X射线辐射场能谱的实验方法。对实验方案进行了理论模拟设计,并获得了解谱必要的理论数据,通过测量不同吸收片后光强的实验方法获得了透射系数,用微扰的数学方法完成了测量谱的解析,复现了测量位置处快脉冲硬X射线辐射场能谱,最后对该方法的可靠性进行了验证。
脉冲硬X射线能谱软化方法数值分析
基于轫致辐射原理,提出了通过轫致辐射靶优化设计软化脉冲硬X射线能谱的方法。采用MCNP程序模拟了复合薄靶和反射靶的输出参数,分析了复合薄靶中转化靶和电子吸收材料厚度对脉冲硬X射线能谱、转换效率以及透射电子份额的影响;给出了反射靶透射和反射X射线能谱、转换效率的差异及其随电子入射角度的变化规律。根据模
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。
DPF脉冲X射线能谱测量
采用滤光法对ＤＰＦ脉冲Ｘ射线源装置的Ｘ射线能谱进行了测量，取得了较好的结果，为辐射效应环境测量提供了一种手段。
高能脉冲X射线能谱测量
给出了高能脉冲X射线能谱测量的基本原理及实验结果.采用Monte-Carlo程序计算了高能光子在能谱仪中每个灵敏单元内的能量沉积,利用能谱仪测量了"强光Ⅰ号"加速器产生的高能脉冲X射线不同衰减程度下的强度,求解得到了具有时间分辨的高能脉冲X射线能谱,时间跨度57ns,时间步长5ns,光子的最高能量3
太阳耀斑硬X射线能谱演变特征
太阳硬Ｘ射线是耀斑高能电子束流与太阳大气相互作用产生的韧致辐射，根据简单的太阳耀斑环物理模型，假定具有流量与能谱同步变化的高能电子束流从耀斑环顶部注入，计算了硬Ｘ射线辐射在不同的靶物质密度区的能谱演变特征．结果表明：硬Ｘ射线辐射在低大气密度靶区呈现软一硬一硬的能谱演变特征，在高密度靶区硬Ｘ射线能谱则
超短脉冲激光与固体靶相互作用的硬X射线能谱
随着超短脉冲激光的发展,Tabak等人提出了激光聚变“快点火”方案。根据该思想,用超短脉冲激光与等离子体相互作用产生的超热电子点燃热核燃料是一个可行的途径。因此在强场物理的研究中,超热电子的能量、产额和发射方向等都是人们关注的焦点。在超热电子与靶的作用中产生的硬X射线或γ射线已成为获取超热电子信息
超短脉冲激光与固体靶相互作用的硬X射线能谱
本实验使用高纯锗探测器,运用单光子法,对超短脉冲激光与固体铜靶相互作用产生的硬X射线能谱进行测量。实验结果表明:在激光强度I≈8×1016W/cm2的P极化光以45°入射角照射5 mm厚铜靶、探测立体角为4.5×10-6的实验条件下,产生的硬X射线的能量主要集中在低于100 keV能量范围内,超热电
热释光探测器在脉冲硬X射线能谱测量中的应用
介绍了TLD-3500热释光读出器和GR-100M型热释光剂量片构成的探测器在脉冲硬X射线辐射参数测量中的应用。详细论述了采用滤波荧光法与热释光探测器相结合测量10～100keV的硬X射线能谱的物理思想,在综合考虑了测量环境的具体情况下,设计研制了硬X射线测量系统,建立了热释光探测器对硬X射线绝对能
X－射线能谱
X 射线能谱（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微区成分分析最为常用的一种方法，其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时，会在内层电子处产生一个空缺，原子处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补
HPGe测量连续硬X射线能谱的方法研究
采用数值模拟与实验测量相结合的方法,完成了探测系统刻度,得到了该探测器对单能光子的能量全响应函数,在此基础上探索出改进的剥谱法,对测量得到的连续硬X射线能谱进行解析,扣除了测量谱中非光电效应对每道计数的贡献,复现了测量位置处的实际能谱,并对该能谱测量方法进行了误差分析,提出了进一步完善措施。
HPGe测量连续硬X射线能谱的解谱方法研究
结合数值模拟得到的单能光子在HPGe探测器上能量响应函数,用改进的剥谱法对测量得到的连续硬X射线能谱进行解谱。扣除测量谱中康普顿、反散射等效应产生的计数对测量能谱的影响,得到了仅反映探测器对光电效应的能量响应的能谱。最后,通过效率修正,完成了测量谱到实际能谱的还原,为连续硬X射线能谱解析提供了可靠方
单光子入射方法测量超快硬X射线能谱
利用单光子入射方法测量了高强度超短脉冲激光 (1 3 0fs,1 0 16 W cm2 ,744nm)与固体等离子体相互作用产生的超快 (ps)硬X射线 (>3 0keV)能量连续谱。采用铅屏蔽、激光脉冲和线性门同步符合技术将HPGeX射线谱仪的本底计数率降低到 1 0 -4 炮 ,满足了单光子计数
软X射线能谱仪
本文描述了一个用于托卡马克杂质谱线精细测量的高分辨软X射线谱仪。谱仪采用Johann型弯晶衍射结构,以多丝正比室作探测器件。其测量范围为2—8keV(1—6),能量分辨为4.1eV(在6.4keV处)。多丝正比室采用阳极丝逐丝读出法,位置读出精度2mm。谱仪配有自动数据记录系统。
X射线能谱仪简介
能谱仪是利用X射线能谱分析法来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器，常常配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
X射线机重过滤X射线能谱的测量
本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
X射线能谱数据处理
本文提出运用FFT,对双路实测能谱信息在变换域中加以滤波修正,同时完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EM专利程序,并与诸元素特征峰及背底的谱分析相比较,获取滤波修正频窗。文中编制了双路能谱同时作滤波修正程序。试验表明:此法实现了数据压缩及零相位校正,增快了滤波速度,减小了相位滞移量,提高了分
X射线能谱测量与模拟
1895年,德国科学家伦琴发现了X射线,开辟了一个崭新的、广阔的物理研究领域。其中,针对电子打靶产生的韧致辐射X射线的研究,是X射线研究领域的一个重要课题。本文在国内外针对X射线能谱测量与解析的基础上,利用高纯锗(HPGe)探测器使用直接测量法与间接测量法对钨靶X射线与钼靶X射线能谱进行了测量。工作
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
X射线能谱定性分析
X射线能谱定性分析快速有效，是电子探针和扫描电镜分析必须的组成部分。用X射线能谱仪测量试样特征X射线全谱中各谱峰的能量值，计算机释谱得出试样的元素组成。X射线能谱定性分析要注意背景的判别、峰的位移、峰的重叠、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干扰峰等问题，以免导致错误的分析结果。(1)背景的判别在使用X射线
脉冲X射线机简介
一种大电流、高能量的电子加速器.它能够提供极强且短的X射线脉冲，以供炸药和炸药驱动金属系统的闪光射线照相研究. 脉冲X射线机：该装置主要由电子光学系统（包括注入器、透镜、脉冲发生器、电子枪等）、射频高压电源和机械系统等部分组成.由于它一方面能像普通的闪光X射线照相或阴影射线照相，另一方面又能使
复杂X射线能谱构造方法研究
本文提出了基于最小二乘法的复杂X射线能谱构造方法,介绍了其构造原理,设计了由35~100kV加速电压条件下的14个X射线过滤谱组成的构造子谱组。目标能谱模拟构造结果表明,构造能谱与目标能谱总体的相对偏差基本控制在10%以内;影响其偏差的主要因素包括构造子谱数量与形态,目标能谱的非连续可微以及射线源特
X射线光电子能谱
X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技术也被称作用于化学分析的电子能谱(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS属表面分析法,它可以给出固体样品表面所含的元素种类、化学组成以及有
X射线能谱定量分析
随着探头制造技术水平的提高、电子学技术的发展,以及对脉冲处理技术和重叠峰处理方法的改进,能谱定量分析的精度得到不断提高。目前,对原子序数在11～30之间的常用元素,其分析精度大体上可以达到波长谱仪的水平。由于能谱定量分析的方法简单、操作方便,它既能进行大试样的平均成份分析,也能进行微粒、薄板、镀层、
X射线能谱重叠峰的识别
提出了一种通过谱线权重来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法。应用该方法 ,成功地分析了Ti合金微区中能量差为 2 0eV的Ti和V的重叠峰。实验表明 ,该方法简便、可靠 ,并可适用于K Zn之间元素的分析
X射线能谱仪的原理介绍
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。 其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法