物理化学气相沉积法制备的MgB2超导厚膜样品的成分分析
本文介绍了基于混合物理化学气相沉积法 (HPCVD) ,以B2 H6 为硼源 ,在 (0 0 0l)取向的Al2 O3单晶衬底上 ,制备了MgB2 超导体厚膜样品 .该样品平均厚度约为 4 0 μm .其Tc(onset) =39K ,Tc(0 ) =37.2K .X光衍射图显示该膜沿 (10 1)方向生长 ,具有少量Mg和MgO杂相 .SEM图像、X射线能量损失谱以及背散射电子衍射图证实了这两种杂相的存在 ,并显示该样品成分富镁 .样品表面的镁与空气接触形成MgO膜 ,在一定程度上阻止了MgB2 样品进一步被氧化 .对于MgB2 厚膜成膜过程及反应机理 ,我们提出了一种新的推断 . ......阅读全文
腔靶软X射线能谱结构的实验研究
叙述了利用双狭缝透射光栅谱仪,在高功率激光物理联合实验室神光装置上,对腔靶不同位置的能谱进行诊断,给出了腔靶源区能谱的空间分布和爆区的能谱结构,为腔靶辐射场的研究提供了重要信息。
高能X射线能谱测量中衰减材料特性影响
基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量,采用蒙特卡罗成像模拟的方法研究衰减材料选择对能谱准确稳定重建的影响。设计多孔准直模型模拟X射线穿过不同衰减材料的透射过程,并在单次成像中获得完整的衰减透射率曲线。由衰减透射率求解能谱是一种病态条件问题,采用改进的迭代扰动法进行解谱,计算时考虑透射率计算值与真实值
X射线光电子能谱应用领域
主要用途：1.表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯.2.维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析(角分辨方式,,氩离子或团簇离子刻蚀方式)3.线扫瞄或面扫瞄以得到线或面上的元素或化学态分布.4.成像功能.5.可进行样品的原位处理 AES:1
关于x射线光电子能谱的简介
以X射线为激发光源的光电子能谱，简称XPS或ESCA。 处于原子内壳层的电子结合能较高，要把它打出来需要能量较高的光子，以镁或铝作为阳极材料的X射线源得到的光子能量分别为1253.6ev和1486.6ev，此范围内的光子能量足以把不太重的原子的1s电子打出来。周期表上第二周期中原子的1s电子的
X射线光电子能谱法的简介
中文名称X射线光电子能谱法英文名称X-ray photoelectron spectroscopy，XPS定 义以单色X射线为光源，测量并研究光电离过程发射出的光电子能量及相关特征的方法。能够给出原子内壳层及价带中各占据轨道电子结合能和电离能的精确数值。应用学科材料科学技术（一级学科），材料科学技
软X射线能谱测试Ross滤片对设计
为获得“阳”加速器上Z箍缩等离子体软X射线辐射谱,设计了一套6通道的软X射线能谱仪,谱仪范围0.1keV-1.5keV,采用Ross滤片差分法。文中介绍了测量箍缩软X射线能谱的Ross滤片对的设计,并从理论上计算了对应“阳”加速器上等离子温度为20eV的黑体辐射谱时,PIN探头的输出电流,从计算结果
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
激光等离子体X射线能谱的测量
分别用K边滤波和滤波-荧光法测量了激光等离子体发射的1.5—100keV的X射线连续谱。文中叙述了激光等离子体X射线能谱的测量方法和多道X射线能谱仪,介绍了激光聚变实验结果。
X射线光电子能谱学
X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种用于测定材料中元素构成、实验式，以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料，同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量，从而得到X
HPGe测量连续硬X射线能谱的方法研究
采用数值模拟与实验测量相结合的方法,完成了探测系统刻度,得到了该探测器对单能光子的能量全响应函数,在此基础上探索出改进的剥谱法,对测量得到的连续硬X射线能谱进行解析,扣除了测量谱中非光电效应对每道计数的贡献,复现了测量位置处的实际能谱,并对该能谱测量方法进行了误差分析,提出了进一步完善措施。
X射线光电子能谱仪和样品制备
XPS仪由X射线激发源、样品台、电子能量分析器、检测器系统、超高真空系统等部分组成。X射线源：在目前的商品仪器中，一般采用Al/Mg双阳极X射线源。常用的激发源有Mg Ka X射线，光子能量为1253.6 eV和Al Ka X射线，光子能量为1486.6 eV。电子能量分析器：电子能量分析器是XPS
X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合
用X射线能谱研究金基六元合金
利用Ｘ射线能谱（ＥＤＳ）和透射电子显微术（ＴＥＭ）等手段研究了Ａｕ－Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｒ－Ｉｎ－Ｚｒ合金的显微组织。研究结果表明，合金主要由Ａｕ基固溶体和Ｎｉ基固溶体组成。此外还有两种第二相粒子，一种粒子（命名为η相）含Ｃｒ量为９０ａｔ％，属简单正交结构，ａ＝０．４４８ｎｍ，ｂ＝１．４０ｎｍ，ｃ＝１．２
X射线光电子能谱仪的介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
利用深度剂量数据重建放射治疗X射线能谱
利用深度剂量测量数据重建放射治疗X射线能谱,并对重建方法进行评价。先用Monte-Carlo模拟计算60个单能光子束的深度剂量分布作为基函数,然后使用Cimmino迭代法对测量的深度剂量进行线性拟合,得到相应射野每个单能光子束对测量深度剂量的贡献权重,即放射治疗所用的轫致辐射X射线的相对能谱。考虑机
X射线能谱数据采集卡的PCI改造
本文利用PCI接口芯片PCI9052,结合CPLD技术,成功地将基于ISA总线的X射线能谱数据采集卡改造为PCI总线模式,并详细介绍了PCI接口芯片PCI9052的硬件连接、译码和配置方法,以及应用DriverWorks进行WDM驱动程序开发的过程。
X射线光电子能谱仪的发现
1895年11月8日晚，德国维尔茨堡大学校长兼物理研究所所长伦琴在实验室研究阴极射线。 为了防止外界光线对放电管的影响，也为了不使管内可见光漏出管外，他把房间全部弄黑，创造伸手不见五指的环境，他还用黑色硬纸给放电管做了个封套。为了检查封套是否漏光，他给放电管接上电源，发现没有漏光。但他切断电源
X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（
基于DSP的X射线能谱数据采集系统设计
在此以X射线透射衰减规律为基础,设计出基于DSP的X射线能谱数据采集系统。重点介绍用于能谱数据采集的硬件电路和软件设计,其中,硬件电路主要由前置放大、滤波、主放大、峰值保持电路组成,软件主要由TMS320F2812对经过预处理后的脉冲信号进行多道脉冲幅度分析操作,并最终绘制出X射线能谱图。本系统具有
CuZn合金化学成分的荧光X射线能谱分析
在用荧光X射线能谱对Cu-Zn合金的成分进行分析时,采用Kα峰进行浓度计算,Kβ峰进行峰的重叠法效果良好,提高了分析结果的准确性和可信度。
扫描电镜/X射线能谱仪/X射线波谱仪组合检测射击残留物
在司法物证检验中,通常采用扫描电镜/X射线能谱仪自动检测枪击案件中的射击残留物。但在检出的可疑颗粒物中,经常遇到硫(S)、锑(Sb)元素含量偏低的情况,用X射线能谱仪很难认定该颗粒物就是射击残留物。本文采用了扫描电镜/X射线能谱仪/X射线波谱仪组合方法,能检测出射击残留物中的S和Sb元素,弥补了X射
能谱干扰波长色散X射线光谱分析仪的介绍
在各种探测器结合脉冲幅度分析器使用时，对一定波长的谱线，将产生具有平均脉冲幅度正比于光子能量的脉冲幅度分布。这种脉冲幅度分布的能谱干扰，不只是来自激发源、样品成光路中的干扰线，也可能来自计数器的逃逸峰在气体探测器中，决定于所充的情性气体种类（Ar、Kr或Xe等）及其能量分辨率；闪烁探测器则决定于
X射线能谱定量分析中超常误差产生原因的研究
Ｘ射线能谱定量分析的精度问题一直困扰着能谱生产厂家和使用单位．在某些情况下，用无标样法所测值的误差远大于１０％，即存在着所谓的超常误差．因而不少分析人员对其定量分析结果持怀疑态度，认为Ｘ射线能谱只适合做定性和半定量分析．本文将对超常误差的产生原因作一...
PVC/PPgMAH共混物X射线能谱微区分析
用 X射线能谱微区分析方法对 PVC/ PP- g- MAH共混物进行了研究 ,得到了共混物断面氯元素的面分布图 ,并对面分布图像进行了相分析 ,从亚微观层次揭示了 PVC/ PP- g- MAH共混物的相结构。通过对元素面分布图的面积计算 ,研究了共混组成与相容性的关系 ,并初步探讨了共混物力学性
X射线能谱(EDAX)分析无碱玻璃表面侵蚀层的实验条件
用EDAX结合扫描电镜（SEM）分析了无碱MgO-ZnO-Al2O3-ZrO2-SiO2玻璃碱侵蚀过程中表面层成分的变化,研究了各种实验条件（如激发电压、计数时间,配合指数等）的影响,并测定了侵蚀层厚度。结果表明激发电压时分析结果有重大影响,而计数时间与配合指数与分析结果关系不大。在低的激发电压下取
X射线能谱仪对长裙竹荪子实体常见微量元素分析
利用扫描电镜和X射线能谱仪对长裙竹荪子实体的菌裙、菌柄和菌托中的微量元素Na、Mg、Ca、K、Fe、P、Cu、Mn和Zn进行了测定,并计算出了它们的相对重量百分比。结果表明,菌裙、菌柄和菌托均含有上述各种微量元素,但含量各不相同。
簿膜X射线能谱定量分析准确度的探讨
本文通过在EM400T透射电镜上用一些标准成分的样品进行薄膜无标样成份分析实验,检验了EDAX9100能谱仪的分析准确度。在本试验所用的样品范围内,其准确度为:近邻元素同一X光线系分析相对误差为5～10％,非近邻元素不同线系分析相时误差较大,可达20～50％。试验证明在分析元素的质量吸收系数之差Δμ
浅谈利用X射线能谱仪分析导线绝缘层火灾痕迹特征
本文以铜芯聚氯乙烯绝缘软导线作为实验材料,使用火灾痕迹物证综合实验台和箱式电阻炉等模拟火场条件,分别制备出导线绝缘层在过负荷、火烧和短路三种状态下的炭化痕迹样品,利用EDS2100X射线能谱仪对导线绝缘层炭化样品表面进行成分分析,分别获得了导线绝缘层碳化物x射线能谱图。经分析发现导线绝缘层过负荷、火
电子能谱原理与X射线衍射分析原理有什么不同点
能谱主要利用能谱分析来测定x射线光子的能量，而衍射分析的主要是利用布拉格方程来分析x射线的衍射规律