CuZn合金化学成分的荧光X射线能谱分析
在用荧光X射线能谱对Cu-Zn合金的成分进行分析时,采用Kα峰进行浓度计算,Kβ峰进行峰的重叠法效果良好,提高了分析结果的准确性和可信度。......阅读全文
CuZn合金化学成分的荧光X射线能谱分析
在用荧光X射线能谱对Cu-Zn合金的成分进行分析时,采用Kα峰进行浓度计算,Kβ峰进行峰的重叠法效果良好,提高了分析结果的准确性和可信度。
X射线能谱分析
能量色散谱仪(EDS)原来是一种核物理分析设备。由于半导体检测器制造和微信号低噪声电子学技术的进步,EDS的分辨率(谱线半高宽)由60年代的300ev提高到70年代的150ev,能对Al、Si这类较轻的元素的X射线谱作出明确的鉴别,因此从70年代开始,EDS被大量地用作荧光X射线分析和组装到扫描电镜
X射线能谱分析原理
X射线能谱分析原理 X射线能谱定性分析的理论基础是Moseley定律，即各元素的特征X射线频率ν的平方根与原子序数Z成线性关系。同种元素，不论其所处的物理状态或化学状态如何，所发射的 特征X射线均应具有相同的能量。 X射线能谱定性分析是以测量特征X射线的强度作为分析基础，可分为有标样
砚石的X射线能谱分析
用 X射线能谱仪对一系列砚石样品进行成分分析得知砚石主要含铝、硅、钙、铁、钾等元素 ,为砚石的成因研究打下基础 ,指出砚石成因研究有助于某些地球课题的深化。
X射线能谱分析过程、原理
当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电流脉
X射线能谱分析和金相分析确定仿银合金的成分
两种仿银合金经x射线能谱分析其组分均为银锡合金,经半定量计算,两种合金的银,锡相对比均为28.6:71.4。用金相显微镜观察,合金(1)的组织为先凝固的固溶体∑相和(∑+Sn)共晶体的铸态组织。合金(2)的金相组织为加工态组织。
黑色墨水的x射线能谱分析
本文用 KYKY—2000型扫描电镜和SERIES—Ⅱ型 X 射线能谱分析仪,检测了16种黑色墨水样品的无机组成,并考查了纸张及墨迹量的影响。当同种纸上字迹笔划处的墨迹量接近时,可达到比对检验的目的。
EDX能谱分析：X射线如何工作
与BSE，SE和TE不同，X射线是电磁辐射，就像光一样，由光子组成。为了检测它们，zui新的系统使用了硅漂移探测器（SDD）。由于其具有更高的计数率、更好的分辨率和更快的分析能力，都优于传统的Si（Li）探测器。这些探测器被置于一个特定角度，非常接近样品，并且有能力测量X射线的光子能量。探测器与样品
X射线荧光光谱分析
XRF的原理：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照
X－射线荧光光谱分析
本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。 更多还原
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
动物毛皮纤维的X射线能谱分析
文章为鉴别南貉、北貉、北极狐、红狐和银黑狐五种近种属毛皮纤维,利用X射线能谱仪(EDS)对五种动物毛皮背部针毛和绒毛分别进行了鳞片层表面元素分析。结果表明:五种动物背部针毛纤维表面元素组成存在显著差异,可用于毛皮纤维的鉴定;而绒毛纤维表面元素组成差异较小,用于毛皮纤维的鉴别存在一定难度。
X射线能谱分析的新进展
伴随着计算机技术的迅速发展,在近15年中X射线能谱仪及其分析方法突飞猛进。从1984年开始第三代的能谱仪问世,虽然它不仅可从事微区元素分析,而且可以进行图像处理和图象分析,成为发展最快使用最广的微区分析仪器。但是在超轻元素的分析、对谱线重叠的元素的定性分析、图像处理和图像分析的功能和速度方面还存在一
EDXRF分析中吸收—增强效应的蒙特卡罗模拟
能量色散x射线荧光光谱分析(EDXRF),与其它元素分析方法相比,有着快速、多元素、对样品无损害等优点。广泛应用于野外地质样品分析、室内核素检测、建筑材料的放射性分析等方面。能量色散x射线荧光光谱分析中,吸收-增强效应对测量的准确度影响很大。在传统的X荧光光谱分析中,利用实验或者数学校正的方法对吸收
X射线光电子能谱分析
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待
X射线荧光光谱分析概述
X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence，XRF）是固体物质成分分析的常规检测手段，也是一种重要的表面/表层分析方法。由于整体技术和分光晶体研制发展所限，早期的X射线荧光光谱仪检测范围较窄，灵敏度较差。随着测角仪、计数器、光谱室温度稳定等新技术的进步，使现代X射线荧光光谱仪的测量精密
X射线荧光光谱分析简介
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器
X射线荧光光谱分析（－XRF）
XRF：X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 的X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自
牙本质透明层的X射线能谱分析
探讨牙本质透明层矿化物的变化。方法 应用eXL型电镜数据处理系统 (EDS)和扫描电镜 ,对 6个样品的牙本质透明层和正常牙本质的无机物成分进行分析。结果 牙本质透明层的Ca/P(重量比 )比值明显高于正常牙本质 (P =0 .0 0 2 )。结论 牙本质透明层的矿化程度高于正常牙本质
X射线能谱分析中应注意的问题
针对X射线能谱分析中谱线的重叠干扰比较普遍这一现象,为使读者特别是新接触能谱分析的读者正确地使用能谱仪进行定性和定量分析,本文介绍了辨认和处理干扰或重叠谱线时应注意的一些问题。
植物细胞X射线能谱分析方法的研究
X射线微区分析在我国的植物学研究中应用较少.快速冷冻、冷冻干燥、真空渗透、塑料包埋的薄切片生物制备新技术被证明很适用于对植物细胞中可溶性离子进行X射线微区分析.这对于植物学,诸如矿质营养、生理及抗性等理论问题的研究有着很重要的意义.本文通过实验证明此法除了在冷冻干燥过程中可能会造成某些植物细胞中的液
X射线荧光光谱分析的简介
利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。 根据色散方式不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪（波长色散）和X射线荧光能谱仪
用X射线能谱研究金基六元合金
利用Ｘ射线能谱（ＥＤＳ）和透射电子显微术（ＴＥＭ）等手段研究了Ａｕ－Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｒ－Ｉｎ－Ｚｒ合金的显微组织。研究结果表明，合金主要由Ａｕ基固溶体和Ｎｉ基固溶体组成。此外还有两种第二相粒子，一种粒子（命名为η相）含Ｃｒ量为９０ａｔ％，属简单正交结构，ａ＝０．４４８ｎｍ，ｂ＝１．４０ｎｍ，ｃ＝１．２
X射线能谱分析中谱线重叠问题
扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较
什么是X射线荧光光谱分析？
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。 探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。仪器软件将
X射线荧光光谱分析法
利用原级 X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。在成分分析方面,X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。 简史 20世纪20年代瑞典的G.C.de赫维西和R.格洛克尔曾先后试图应用此法从事定量分析，但由于当时记录
野生和人工栽培天麻的X射线能谱分析
比较了贵州野生及人工栽培天麻的X射线能谱 ,发现它们的无机成分有比较明显的差别 ,特别是P、S、K和Ca元素的差别比较大
X射线荧光光谱分析的样品说明
X射线荧光光谱分析基本上是一种相对分析方法，需要有相应的标准样品作为测量基准。因此，制样方法的好坏是X射线荧光光谱分析仪应用的关键，标准样品与待测试样应经过同样的制样处理，制成物理性质和化学组成相似的、表面平整均匀、有足够代表性的形式。使用X射线荧光光谱分析的样品一般有固体样品、粉末样品和液体样