X射线能谱仪专用计算机硬件检修方法研究
Ｘ射线能谱仪是中国科学院从美国引进的，用于微区元素定性定量分析。能谱仪由计算机、Ｓｉ（Ｌｉ）探测器、电子系统、显示器、驱动器等几个部分组成，核心是ＡＬＰＨＡＬＳＩ－２／２０Ｇ专用计算机。Ｘ射线能谱仪主要故障有：①计算机不启动；②ＣＰＵ对存储器访问失效，调不出图谱。用准静态法对能谱仪专用计算机电路板检修，可快速、准确地确定故障部位，此方法也可应用于通用计算机维护，具有一定的社会和经济效益。 ......阅读全文
X射线能谱仪专用计算机硬件检修方法研究
Ｘ射线能谱仪是中国科学院从美国引进的，用于微区元素定性定量分析。能谱仪由计算机、Ｓｉ（Ｌｉ）探测器、电子系统、显示器、驱动器等几个部分组成，核心是ＡＬＰＨＡＬＳＩ－２／２０Ｇ专用计算机。Ｘ射线能谱仪主要故障有：①计算机不启动；②ＣＰＵ对存储器访问失效，调不出图谱。用准静态法对能谱仪专用计算机电路板检
复杂X射线能谱构造方法研究
本文提出了基于最小二乘法的复杂X射线能谱构造方法,介绍了其构造原理,设计了由35~100kV加速电压条件下的14个X射线过滤谱组成的构造子谱组。目标能谱模拟构造结果表明,构造能谱与目标能谱总体的相对偏差基本控制在10%以内;影响其偏差的主要因素包括构造子谱数量与形态,目标能谱的非连续可微以及射线源特
NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究
为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能
软X射线能谱仪
本文描述了一个用于托卡马克杂质谱线精细测量的高分辨软X射线谱仪。谱仪采用Johann型弯晶衍射结构,以多丝正比室作探测器件。其测量范围为2—8keV(1—6),能量分辨为4.1eV(在6.4keV处)。多丝正比室采用阳极丝逐丝读出法,位置读出精度2mm。谱仪配有自动数据记录系统。
X射线能谱仪简介
能谱仪是利用X射线能谱分析法来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器，常常配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
X－射线能谱
X 射线能谱（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微区成分分析最为常用的一种方法，其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时，会在内层电子处产生一个空缺，原子处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
HPGe测量连续硬X射线能谱的方法研究
采用数值模拟与实验测量相结合的方法,完成了探测系统刻度,得到了该探测器对单能光子的能量全响应函数,在此基础上探索出改进的剥谱法,对测量得到的连续硬X射线能谱进行解析,扣除了测量谱中非光电效应对每道计数的贡献,复现了测量位置处的实际能谱,并对该能谱测量方法进行了误差分析,提出了进一步完善措施。
HPGe测量连续硬X射线能谱的解谱方法研究
结合数值模拟得到的单能光子在HPGe探测器上能量响应函数,用改进的剥谱法对测量得到的连续硬X射线能谱进行解谱。扣除测量谱中康普顿、反散射等效应产生的计数对测量能谱的影响,得到了仅反映探测器对光电效应的能量响应的能谱。最后,通过效率修正,完成了测量谱到实际能谱的还原,为连续硬X射线能谱解析提供了可靠方
X射线能谱仪的原理介绍
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。 其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法
X射线能谱过滤的MC模拟研究
能量低于300 keV且能谱简单的稳定放射性核素较少,作为替代,利用X射线机产生X射线,并经过不同厚度的材料的过滤,可以得到用于对辐射防护仪器进行校准和确定其能量响应和角响应的一系列规定辐射质的参考辐射。由于材料的质量衰减系数与X射线在物质中各种作用过程有关,并强烈的依赖于光子的能量,基于这一物理现
应用扫描电镜和X射线能谱仪研究钛酸钡
该文使用发射扫描电子显微镜和X射线能谱仪对钛酸钡进行表征。针对钛酸钡的材料特性和工作目标,采用了多种测试工作条件,通过其结果对比,找到了对钛酸钡进行形貌观察的最佳条件,并分析了其成分。
软X射线能谱仪数据采集系统
在 线 存 储 软X射线能谱仪的结构框图见图1。不同能量的软X射线被Johann弯晶衍射分光,分光后的能量分布转化成在探测器上对应的位置分布。位置灵敏、时间分辨好的MWPC和MCP都可做为这种探测器。软X射线区适用的MWPC采用逐丝阳极读出法以允许高计数率,同时也是为了满足将可测能区延伸到更低能区时
应用X射线能谱仪检验原子印油
原子印章是一种新型的印章。原子印章携带和使用极为方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊结构,其印油的成份不同于普通的印台油及印泥。早期的原子印油多为国外进口,目前国内亦有一些厂家生产。我们应用扫描电子显微镜和 X 射线能谱仪对原子印油进行检验,获得一些有用的信息。
X射线能谱仪谱峰重叠问题的探讨
针对X射线能谱仪在对样品进行定性分析时经常出现的元素谱峰重叠问题,进行机理分析和归纳总结,提出在物证检验中如何避免谱峰重叠带来定性分析偏差的方法.
X射线机重过滤X射线能谱的测量
本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。
软X射线能谱定量测量技术研究
采用每毫米 10 0 0线的自支撑透射光栅配上背照射软X射线CCD(charge coupleddevice)组成了透射光栅谱仪 ,利用北京同步辐射装置 (BSRF) 3W1B光束线软X射线实验站上X射线源分别对透射光栅的衍射效率和软X射线CCD的响应灵敏度进行了准确的实验标定 ,获得了 15 0e
基于MARS系统的X射线能谱CT研究
X射线是19世纪末物理学的三大发现（X射线1895年、放射性1896年、电子1897年）之一，这一发现标志着现代物理学的诞生。由于X射线是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射，因而它具有很高的穿透本领，能穿透许多对可见光不透明的物质，基于此，可用来帮助人们进行医学诊断和治疗，或者用于工业等领域的非破
氚钛靶的X射线能谱初步研究
采用超低能锗探测X射线技术和βIXS方法,研究了在Ar气、空气介质中钼材料中氚和氚钛靶中氚产生的X射线能谱。Ar气介质与空气介质相比,钼材料中氚产生的X射线能谱除了与空气介质在同样的峰位能量2.2keV位置产生谱峰外,还增加了一个峰位能量为3.0keV的谱峰。
快脉冲硬X射线能谱测量实验研究
研究设计了以解析吸收片后的透射率来测量快脉冲硬X射线辐射场能谱的实验方法。对实验方案进行了理论模拟设计,并获得了解谱必要的理论数据,通过测量不同吸收片后光强的实验方法获得了透射系数,用微扰的数学方法完成了测量谱的解析,复现了测量位置处快脉冲硬X射线辐射场能谱,最后对该方法的可靠性进行了验证。
不锈钢X射线能谱定量分析方法研究
配备X射线能谱仪的扫描电子显微镜不仅能够观察材料的微观形貌还可对微区成分进行分析，现已广泛应用于材料分析测试领域。提高能谱仪定量分析的准确度，是科学研究和工业生产的重要课题。本论文对能谱仪的物理基础、工作原理、定性分析、定量分析等方面进行了阐述，并围绕如何获得不锈钢标样定量分析的最佳工作条件以及提高
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
x射线光电子能谱仪的主要研究领域
主要研究领域包括： （1）TiO2纳米光催化以及在空气和水净化方面的应用； （2）汽车尾气净化催化剂新型金属载体的研究； （3）纳米药物载体及靶向药物的研究； （4）纳米导电陶瓷薄膜材料的研究； （5）纳米杂化超硬薄膜材料及摩擦化学的研究； （6）纳米发光材料及纳米分析化学研究；
DPF脉冲X射线能谱测量
采用滤光法对ＤＰＦ脉冲Ｘ射线源装置的Ｘ射线能谱进行了测量，取得了较好的结果，为辐射效应环境测量提供了一种手段。
X射线能谱定性分析
X射线能谱定性分析快速有效，是电子探针和扫描电镜分析必须的组成部分。用X射线能谱仪测量试样特征X射线全谱中各谱峰的能量值，计算机释谱得出试样的元素组成。X射线能谱定性分析要注意背景的判别、峰的位移、峰的重叠、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干扰峰等问题，以免导致错误的分析结果。(1)背景的判别在使用X射线
高能脉冲X射线能谱测量
给出了高能脉冲X射线能谱测量的基本原理及实验结果.采用Monte-Carlo程序计算了高能光子在能谱仪中每个灵敏单元内的能量沉积,利用能谱仪测量了"强光Ⅰ号"加速器产生的高能脉冲X射线不同衰减程度下的强度,求解得到了具有时间分辨的高能脉冲X射线能谱,时间跨度57ns,时间步长5ns,光子的最高能量3
X射线能谱测量与模拟
1895年,德国科学家伦琴发现了X射线,开辟了一个崭新的、广阔的物理研究领域。其中,针对电子打靶产生的韧致辐射X射线的研究,是X射线研究领域的一个重要课题。本文在国内外针对X射线能谱测量与解析的基础上,利用高纯锗(HPGe)探测器使用直接测量法与间接测量法对钨靶X射线与钼靶X射线能谱进行了测量。工作
X射线能谱数据处理
本文提出运用FFT,对双路实测能谱信息在变换域中加以滤波修正,同时完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并与诸元素特征峰及背底的谱分析相比较,获取滤波修正频窗。文中编制了双路能谱同时作滤波修正程序。试验表明:此法实现了数据压缩及零相位校正,增快了滤波速度,减小了相位滞移量,提高了分
X射线能谱仪和波谱仪的优缺点
能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪，其关键部件是Si(Li)检测器，即锂漂移硅固态检测器，它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。 Si(Li)能谱仪的优点 分析速度快 能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号，故可在几分